一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法与流程

文档序号:11861471阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,由平面测试电路,线缆和空间辐射场耦合模型及计算程序构成,其测试步骤如下:

步骤一,将平面测试电路放置于待测区域;

步骤二,量线缆负载的电压和电流响应;

步骤三:由步骤而测试得到线缆负载的电压和电流响应,在线缆和空间辐射场耦合模型中通过时域有限差分法FDT计算得到线缆周围的空间辐射场。

2.根据权利要求1所述的平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,所述平面测试电路为一微带电路:介质基片(2)的底面为接地板(1),介质基片(2)上设置有多组支路,各支路由连接在负载与SMA接头间的线缆构成;接地板为金属铜;介质基片为损耗正切很小的介质材料;线缆为特性阻抗50Ω的金属铜导带。

3.根据权利要求2所述的平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,其特征在于,所述平面测试电路多线缆负载为50Ω。

4.根据权利要求2所述的平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,其特征在于,所述多线缆长度和相互之间的间距可随实际应用变化。

5.根据权利要求2所述的平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,其特征在于,所述接地板和线缆所用材料均为良导体。

6.根据权利要求2所述的平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,其特征在于,所述线缆一端接匹配负载,另一端SMA接头接屏蔽同轴传输线及测试仪器。

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