一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法与流程

文档序号:11861471阅读:来源:国知局
技术总结
本发明公开了一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法,步骤一,将平面测试电路放置于待测区域;步骤二,量线缆负载的电压和电流响应;步骤三:由步骤而测试得到线缆负载的电压和电流响应,在线缆和空间辐射场耦合模型中通过时域有限差分法FDT计算得到线缆周围的空间辐射场。本发明方法能解决场强仪(电流探头)测试空间狭小且线缆密集的情形下测试空间电磁辐射干扰信号时给测试带来较大误差的问题。通过测试线缆的电压响应,计算出周围空间电磁场,使用多线缆耦合模型扩大了应用范围,使用匹配负载有效地消除反射波的影响,有效解决了在内部空间狭小且线缆密集的情形下测试空间电磁场的难题,适合在微波技术、电磁兼容领域推广运用。

技术研发人员:熊祥正;叶志宏;廖成;高明均;罗杰;郭晓东
受保护的技术使用者:西南交通大学
文档号码:201610444135
技术研发日:2016.06.21
技术公布日:2016.11.16

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