用于透射电镜试样的研磨工具的制作方法

本实用新型涉及一种研磨工具，特别是涉及一种用于透射电镜试样的研磨工具。

背景技术：
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目前，对于透射电镜试样的研磨有很多种方法和研磨工具，可以利用橡皮将试样按压在金相砂纸上并往复或沿“8”字形研磨，但是该种方法效率低，试样厚度不均，边角易磨失；也可利用聚合物胶将试样固定在合金块上研磨，这种方法虽然解决了试样的牢固性问题，提高了效率，但是需要用到丙酮等溶剂或者对合金块加热以取下试样，限制了该方法的适用范围；亦可利用三角研磨器或者自动磨抛仪，虽然提高了制样效率，扩大了适用范围，但是却带来了操作上的问题，自动磨抛仪的前期操作过程复杂且繁琐，三角研磨器的研磨脚易磨损，样品水平位置难以调整，另外，三角研磨器和自动磨抛仪的价格高且无法保证长时间研磨样品。

技术实现要素：
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本实用新型所要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种结构简单、低成本的用于透射电镜试样的研磨工具。

本实用新型为解决技术问题所采取的技术方案是：

一种用于透射电镜试样的研磨工具，包括螺旋测微器、研磨盘和垫块，所述螺旋测微器上设置有止动旋钮，所述研磨盘内设置有螺纹孔，所述螺纹孔内上端内壁上设置有内螺纹，下端设置有垫块，所述螺旋测微器下面的测微螺杆通过螺纹孔与研磨盘螺旋连接。

所述螺纹孔设置在研磨盘的上表面中心位置，所述螺纹孔内的内螺纹尺寸与所述螺旋测微器下面的测微螺杆的外螺纹尺寸相匹配，所述研磨盘的材料采用不锈钢合金或者铝合金。

所述垫块的下表面固定有所要研磨的试样，所述垫块的大小与所述螺纹孔的直径相匹配，所述垫块的材料采用不锈钢合金或者铝合金。

本实用新型的积极有益效果是：

1、本实用新型中的螺旋测微器，量程为0-50mm，精度为0.001mm，它能够设定研磨时每步需要磨除的厚度，达到试样厚度精确可控的目的，并且操作简单方便。

2、本实用新型中的垫块，能够固定所要研磨的试样，使试样研磨时受力均匀，提高了研磨的质量和效率。

3、本实用新型结构简单，价格低，能够长时间使用，适用范围广，具有很好的经济效益。

附图说明：

图1是本实用新型用于透射电镜试样的研磨工具的剖面结构示意图；

图2是本实用新型用于透射电镜试样的研磨工具的结构示意图；

图3是图2中的右视图。

具体实施方式：

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的解释和说明：

参见图1，图2和图3：图中，1-螺旋测微器，2-止动旋钮，3-研磨盘，4-垫块，5-试样。

实施例：一种用于透射电镜试样的研磨工具，包括螺旋测微器1、研磨盘3和垫块4，在螺旋测微器1上设置有止动旋钮2，在研磨盘3内设置有螺纹孔，在螺纹孔内上端内壁上设置有内螺纹，在螺纹孔下端设置有垫块4，螺旋测微器1下面的测微螺杆通过螺纹孔与研磨盘3螺旋连接。

其中：螺纹孔设置在研磨盘3的上表面中心位置，螺纹孔内的内螺纹尺寸与述螺旋测微器1下面的测微螺杆的外螺纹尺寸相匹配，研磨盘的材料采用不锈钢合金或者铝合金。

在垫块4的下表面固定有所要研磨的试样5，垫块4的大小与螺纹孔的直径相匹配，垫块4的材料采用不锈钢合金或者铝合金。

研磨时，用石蜡将切割好的试样5固定在垫块4上，然后将固定有试样5的垫块4放置于研磨盘3上的螺纹孔的下端，调节螺旋测微器1使试样5的下表面与研磨盘3的下表面处于同一平面，继续调节螺旋测微器1，设定研磨时每步需要磨除的厚度，并旋紧螺旋测微器1上的止动旋钮2，防止研磨过程中测微螺杆的松动，开始研磨，当研磨至试样5的表面与研磨盘3的表面处于同一平面时，设定下一步需要磨除的厚度继续研磨，研磨结束后，将工具清洗干净后存放。

以上所述，仅是本实用新型的优先实施例而已，并未对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。