一种电连接器插接状态检测装置、电连接器母座及公座的制作方法

文档序号:12004176阅读:280来源:国知局
一种电连接器插接状态检测装置、电连接器母座及公座的制作方法

本实用新型涉及电连接器技术领域,尤其是涉及一种电连接器插接状态检测装置、电连接器母座及公座。



背景技术:

电连接器是用来连接两个有源器件的器件,其可以在两个有源器件之间传输电流或信号,即电连接器可以在被阻断的电路处或孤立不通的电路之间起到传输电流与信号的作用,从而使电路能够正常通电工作。

但是现有的电连接器的引脚数量较多且细密,因此在将外部器件的电连接器与主设备的电连接器进行插接时,用户很难判断出外部器件的电连接器的每个引脚是否均与主设备的电连接器的每个引脚接触良好,这样当外部器件的电连接器的引脚与主设备的电连接器的引脚接触不良或者接触不正确时,此时系统就给主设备的电连接器通电可能会对主设备系统的内部电路或者是外部器件造成不良影响。例如,现有的开放式可插拔规范(Open Pluggable Specification,OPS)电脑,其具有一个与OPS转接板的电连接器连接的电连接器。其中,OPS转接板用于将OPS电脑与多媒体设备(例如电视机或者一体机等)进行沟通连接,即,多媒体设备可以通过OPS转接板给OPS电脑供电,而OPS电脑可以将各种数据信号(例如视频信号或者音频信号)通过OPS转接板发送给多媒体设备。在OPS转接板的电连接器与OPS电脑的电连接器进行插接的过程中,因为现有的OPS转接板的电连接器的引脚细长密集,而且OPS电脑中的与OPS转接板进行插接的电连接器的引脚也是细长密集,因此在插接的过程中用户很难判断出OPS转接板的电连接器的每一个引脚是否均与OPS电脑的电连接器的每一个引脚插接到位,这样当OPS转接板的电连接器的引脚与OPS电脑的电连接器的引脚接触不良或者接触不正确时,此时多媒体设备通过OPS转接板的系统电路就给OPS电脑通电可能会损坏OPS转接板的电路与OPS电脑。



技术实现要素:

针对上述问题,本实用新型的目的在于提供一种电连接器插接状态检测装置,其可以检测出电连接器母座是否与电连接器公座插接良好、并在检测出两者插接良好时才让电连接器母座以及电连接器公座上电工作,从而可以保护设有所述电连接器母座的设备的系统电路以及设有所述电连接器公座的设备;且还在于提供一种包括所述电连接器插接状态检测装置的电连接器母座以及与所述电连接器母座配合连接的电连接器公座。

为了实现上述目的,本实用新型一方面提供了一种电连接器插接状态检测装置,其包括电源输入端口、用于与电连接器电连接的电源输出端口、至少一个用于检测所述电连接器的接地引脚发送的接地信号的检测端子、用于根据所述接地信号输出控制信号的接地信号检测电路以及用于根据所述控制信号触发所述电源输入端口与所述电源输出端口的导通的开关电路;所述接地信号检测电路的检测端与所述接地信号检测端子连接,所述接地信号检测电路的输出端与所述开关电路的受控端连接,所述开关电路的输入端与所述电源输入端口连接,所述开关电路的输出端与所述电源输出端口连接。

一方面,优选地,所述接地信号检测电路包括电压输入端口、第一N型MOS管以及第一反相器,所述第一N型MOS管的栅极与所述电压输入端口连接,所述第一N型MOS管的源极与所述检测端子连接,所述第一N型MOS管的漏极通过所述第一反相器与所述开关电路的受控端连接。

进一步地,所述接地信号检测电路还包括第一二极管,所述第一二极管的正极与所述第一N型MOS管的源极连接,所述第一二极管的负极与所述第一N型MOS管的漏极连接。

另一方面,优选地,所述检测端子的数量为两个,且所述两个检测端子用于分别检测所述电连接器的不同侧的接地引脚发送的接地信号。

进一步地,所述接地信号检测电路包括电压输入端口、第二N型MOS管、第三N型MOS管、第四N型MOS管、第五N型MOS管以及至少一个电阻;

所述第二N型MOS管的栅极与所述电压输入端口连接,所述第二N型MOS管的源极与其中一个检测端子连接,所述第二N型MOS管的漏极与所述第四N型MOS管的栅极连接,所述第四N型MOS管的源极接地;

所述第三N型MOS管的栅极与所述电压输入端口连接,所述第三N型MOS管的源极与另一个所述检测端子连接,所述第三N型MOS管的漏极与所述第五N型MOS管的栅极连接,所述第五N型MOS管的源极接地;

所述第四N型MOS管的漏极与所述第五N型MOS管的漏极连接,所述第四N型MOS管的漏极与所述第五N型MOS管的漏极的连接处通过所述电阻与所述电压输入端口连接,所述开关电路的受控端连接于所述第四N型MOS管的漏极与所述第五N型MOS管的漏极的连接处和所述电阻之间。

进一步地,所述接地信号检测电路还包括第二二极管以及第三二极管;所述第二二极管的正极与所述第二N型MOS管的源极连接,所述第二二极管的负极与所述第二N型MOS管的漏极连接;所述第三二极管的正极与所述第三N型MOS管的源极连接,所述第三二极管的负极与所述第三N型MOS管的漏极连接。

进一步改进上述技术方案,所述开关电路包括一继电器,所述继电器的线圈的第一端与所述接地信号检测电路的输出端连接,所述继电器的线圈的第二端接地,所述继电器的公共端子与所述电源输入端口连接,所述继电器的常开触点与所述电源输出端口连接。

本实用新型还提供了一种电连接器母座,用于与电连接器公座配合连接,其包括电连接器母座本体及如上所述的电连接器插接状态检测装置;所述电连接器母座本体具有至少一个供所述检测端子进行接地检测的接地引脚以及电源输入引脚,所述电源输入引脚与所述电源输出端口连接。

进一步地,所述接地引脚的数量至少为两个,所述电连接器母座本体的对接部的两侧分别设有至少一个接地引脚。

本实用新型还提供了一种与上述电连接器母座配合连接的电连接器公座,其包括至少两个接地引脚容纳部;所述电连接器公座的对接部的两侧分别设有至少一个所述接地引脚容纳部;所述至少两个接地引脚容纳部与所述至少两个接地引脚一一对应。

本实用新型提供的所述电连接器插接状态检测装置,在所述电连接器母座与所述电连接器公座接插的过程中,当所述接地信号检测电路通过所述检测端子检测到所述电连接器母座的接地引脚与所述电连接器公座的对应的接地引脚容纳部接触时(即,所述电连接器母座的所有引脚与所述电连接器公座的所有引脚均插接正确),所述接地信号检测电路给所述开关电路输出控制信号,使得所述开关电路根据所述控制信号触发所述电源输入端口与所述电源输出端口的导通,从而使得与所述电源信号输出端口电连接的所述电连接器母座能够正常上电工作(即插接在所述电连接器母座上的设有所述电连接器公座的设备能够正常上电工作)。因此,本实用新型的所述电连接器插接状态检测装置可以检测出所述电连接器母座是否与所述电连接器公座插接良好,并在检测出两者插接良好时才通过所述电连接器母座让设有所述电连接器公座的设备上电工作,从而可以保护设有所述电连接器母座的设备的系统电路以及设有所述电连接器公座的设备。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型的技术方案,下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的一种电连接器的结构示意图;

图2是本实用新型实施例提供的一种优选的电连接器插接状态检测装置的结构示意图;

图3是本实用新型实施例提供的另一种优选的电连接器插接状态检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参见图1,本实用新型提供了一种电连接器插接状态检测装置,其包括电源输入端口Vn、用于与电连接器电连接的电源输出端口Vo、至少一个用于检测所述电连接器的接地引脚10发送的接地信号的检测端子20、用于根据所述接地信号输出控制信号的接地信号检测电路1以及用于根据所述控制信号触发所述电源输入端口Vn与所述电源输出端口Vo的导通的开关电路2;所述接地信号检测电路1的检测端与所述接地信号检测端子20连接,所述接地信号检测电路1的输出端与所述开关电路2的受控端连接,所述开关电路2的输入端与所述电源输入端口Vn连接,所述开关电路2的输出端与所述电源输出端口Vo连接。

在本实用新型实施例中,在所述电连接器母座与所述电连接器公座接插的过程中,当所述接地信号检测电路1通过所述检测端子20检测到所述电连接器母座的接地引脚10与所述电连接器公座的对应的接地引脚容纳部接触时(即,所述电连接器母座的所有引脚与所述电连接器公座的所有引脚均插接正确),所述接地信号检测电路1给所述开关电路2输出控制信号,使得所述开关电路2根据所述控制信号触发所述电源输入端口Vn与所述电源输出端口Vo的导通,从而使得与所述电源信号输出端口电连接的所述电连接器母座能够正常上电工作(即插接在所述电连接器母座上的设有所述电连接器公座的设备能够正常上电工作)。因此,本实用新型的所述电连接器插接状态检测装置可以检测出所述电连接器母座是否与所述电连接器公座插接良好,并在检测出两者插接良好时才通过所述电连接器母座让所述设有所述电连接器公座的设备上电工作,从而可以保护设有所述电连接器母座的设备的系统电路以及设有所述电连接器公座的设备。

作为本实用新型的其中一个优选实施例:

优选地,请参见图2,所述接地信号检测电路1包括电压输入端口Un、第一N型MOS管M1以及第一反相器200,所述第一N型MOS管M1的栅极与所述电压输入端口Un连接,所述第一N型MOS管M1的源极与所述检测端子20连接,所述第一N型MOS管M1的漏极通过所述第一反相器200与所述开关电路2的受控端连接。

其中,当所述第一接地检测端子20检测到所述接地引脚10存在所述接地信号时(即所述检测端子20检测到所述电连接器的接地引脚10与所述电连接器公座的对应的接地引脚容纳部接触),与所述检测端子20连接的所述第一N型MOS管M1的源极接地,所述第一N型MOS管M1的漏极输出低电平,且所述第一N型MOS管M1的漏极输出的低电平通过所述第一反相器200后变为高电平,使得所述开关电路2的控制端为高电平,从而使得所述开关电路2触发所述电源输入端口Vn与所述电源输出端口Vo的导通,因此可以使得与所述电源信号输出端口电连接的所述电连接器能够正常上电工作(即插接在所述电连接器上的外部设备能够正常上电工作)。

进一步地,请参见图2,所述接地信号检测电路1还包括第一二极管D1,所述第一二极管D1的正极与所述第一N型MOS管M1的源极连接,所述第一二极管D1的负极与所述第一N型MOS管M1的漏极连接。其中,所述第一二极管D1可以防止所述第一N型MOS管M1反向击穿。

作为本实用新型的另一个优选实施例:

优选地,请参见图3,所述检测端子20的数量为两个,且所述两个检测端子20用于分别检测所述电连接器的不同侧的接地引脚10发送的接地信号。一般来说,现有的电连接器(例如80针的JAE连接器)会具有多个接地引脚10,因此,通过使得所述两个检测端子20分别用于检测所述电连接器的不同侧的接地引脚10(例如分别靠近所述电连接器母座的两端的两个接地引脚10)发送的接地信号,这样当所述两个检测端子20均检测到接地信号时,表明所述电连接器母座的其中一个接地引脚10与电连接器公座的相对应的一个接地引脚容纳部插接到位,且所述电连接器的另一个接地引脚10与电连接器公座的相对应的另一接地引脚容纳部插接到位,即表明所述电连接器母座所有引脚均与电连接器公座的所有引脚插接正确。

进一步地,请参见图3,所述接地信号检测电路1包括电压输入端口Un、第二N型MOS管M2、第三N型MOS管M3、第四N型MOS管M4、第五N型MOS管M5以及至少一个电阻R;

所述第二N型MOS管M2的栅极与所述电压输入端口Un连接,所述第二N型MOS管M2的源极与其中一个检测端子20连接,所述第二N型MOS管M2的漏极与所述第四N型MOS管M4的栅极连接,所述第四N型MOS管M4的源极接地;

所述第三N型MOS管M3的栅极与所述电压输入端口Un连接,所述第三N型MOS管M3的源极与另一个所述检测端子20连接,所述第三N型MOS管M3的漏极与所述第五N型MOS管M5的栅极连接,所述第五N型MOS管M5的源极接地;

所述第四N型MOS管M4的漏极与所述第五N型MOS管M5的漏极连接,所述第四N型MOS管M4的漏极与所述第五N型MOS管M5的漏极的连接处通过所述电阻R与所述电压输入端口Un连接,所述开关电路2的受控端连接于所述第四N型MOS管M4的漏极与所述第五N型MOS管M5的漏极的连接处和所述电阻R之间。

其中,当其中一个所述检测端子20检测到所述第一接地引脚10存在接地信号时,与该检测端子20连接的所述第二N型MOS管M2的源极接地,所述第二N型MOS管M2的漏极输出低电平,这时所述第四N型MOS管M4不导通;同理,当另一个所述检测端子20检测到另一个所述接地引脚10存在接地信号时,所述第五N型MOS管M5不导通。因此,当所述电连接器母座的其中一个接地引脚10与电连接器公座的相对应的接地引脚容纳部插接到位,且当所述电连接器的另一个接地引脚10与所述电连接器公座的相对应的另一接地引脚容纳部插接到位时(即表明所述电连接器母座所有引脚均与所述电连接器公座的所有引脚插接正确),所述第四N型MOS管M4与所述第五N型MOS管M5均不导通,这时所述电压输入端通过所述电阻R给所述开关电路2的受控端输出高电平,使得所述开关电路2触发所述电源输入端口Vn与所述电源输出端口Vo的导通,从而使得与所述电源输出端口Vo电连接的所述电连接器能够正常上电工作(即插接在所述电连接器母座上的设有所述电连接器公座的设备能够正常上电工作)。

进一步地,请参见图3,所述接地信号检测电路1还包括第二二极管D2以及第三二极管D3;所述第二二极管D2的正极与所述第二N型MOS管M2的源极连接,所述第二二极管D2的负极与所述第二N型MOS管M2的漏极连接;所述第三二极管D3的正极与所述第三N型MOS管M3的源极连接,所述第三二极管D3的负极与所述第三N型MOS管M3的漏极连接。其中,所述第二二极管D2可以防止所述第二N型MOS管M2反向击穿,所述第三二极管D3可以防止所述第三N型MOS管M3反向击穿。

对上述技术方案做进一步改进,请参见图1与图2,所述开关电路2包括一继电器100,所述继电器100的线圈的第一端与所述接地信号检测电路1的输出端连接,所述继电器100的线圈的第二端接地,所述继电器100的公共端子与所述电源输入端口Vn连接,所述继电器100的常开触点与所述电源输出端口Vo连接。其中,当所述接地信号检测电路1的输出端输出高电平的控制信号时,所述继电器100的工作电路闭合,从而使得所述电源输入端口Vn与所述电源输出端口Vo导通。

需要说明的是,所述接地信号检测电路1还可以为其他类型的电路,例如可以为或非门逻辑电路或者是一个可以根据所述接地信号而输出高电平信号的微控制器,这些可以参考现有技术,在此不做具体限定。

此外,所述开关电路2还可以为其他类型的开关电路2,例如可以为由MOS管构成的开关电路2或者是由三极管构成的开关电路2等,这些可以参考现有技术,在此不做具体限定。

本实用新型还提供了一种电连接器母座以及与所述电连接器母座配合连接的电连接器公座;

其中,请参见图3,所述电连接器母座包括电连接器母座本体300及如上所述的电连接器插接状态检测装置,所述电连接器母座本体300具有至少一个供所述检测端子20进行接地检测的接地引脚10以及电源输入引脚,所述电源输入引脚与所述电源输出端口Vo连接。

在本实用新型实施例中,通过应用上述的电连接器插接状态检测装置,因此可以检测出所述电连接器母座是否与所述电连接器公座插接良好,并在检测出两者插接良好时才通过所述电连接器母座让设有所述电连接器公座的设备上电工作,从而可以保护设有所述电连接器母座的设备的系统电路以及设有所述电连接器公座的设备。

在此,提供上述实施例的一种优选实施例,所述接地引脚10的数量至少为两个,所述电连接器母座本体300的对接部的两侧分别设有至少一个接地引脚10;所述电连接器公座包括至少两个接地引脚容纳部;所述电连接器公座的对接部的两侧分别设有至少一个所述接地引脚容纳部;所述至少两个接地引脚容纳部与所述至少两个接地引脚10一一对应。其中,当所述电连接器插接状态检测装置检测到所述电连接器母座本体300的对接部的两侧的所述接地引脚10均与所述电连接器公座的对接部的所述接地引脚容纳部均一一对应连接时,表明所述电连接器母座与所述电连接器公座插接正常,这时所述电连接器插接状态检测装置让所述电连接器母座上电工作。

以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本领域技术的技术人员在本实用新型公开的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

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