1.一种用于超声波无损检测的便携式校核试块，其特征在于，所述校核试块近似呈梯形体，所述梯形体包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面，所述左斜面、右斜面、前端面、后端面为该梯形体的四个侧面，所述上底面、下底面、左斜面、右斜面呈矩形且等宽，所述前端面和后端面近似呈梯形，所述上底面平行于下底面，所述上底面的长度小于下底面的长度，所述上底面与左斜面的内夹角为160°，所述上底面与右斜面的内夹角为150°，所述下底面与左斜面通过左过渡面过渡连接，所述下底面与右斜面通过右过渡面过渡连接，所述左过渡面、右过渡面均垂直于下底面；所述校核试块上设有从前端面垂直贯穿至后端面的圆孔，所述圆孔到下底面的距离为上底面到下底面距离的一半；所述校核试块上设有刻度。
2.根据权利要求1所述的用于超声波无损检测的便携式校核试块，其特征在于，所述校核试块长185mm，高40mm，厚40mm，所述上底面的长度为43.45mm，所述下底面的长度为185mm，所述上底面、下底面、左斜面、右斜面的宽度均为40mm，所述左过渡面的高度为8.74mm，所述右过渡面的高度为7.65mm，所述上底面到下底面的距离为40mm；所述圆孔到下底面的距离为20mm，所述圆孔的中心到左过渡面的距离为88.08mm；所述前端面包括上底边、下底边、左斜边、右斜边、左过渡边、右过渡边，所述后端面包括与前端面相对应的上底边、下底边、左斜边、右斜边、左过渡边、右过渡边，所述上底面、前端面的上底边、后端面的上底边至少其中之一设有第一刻度，所述下底面、前端面的下底边、后端面的下底边至少其中之一设有第二刻度和第三刻度，所述左斜面、前端面的左斜边、后端面的左斜边至少其中之一设有第四刻度，所述右斜面、前端面的右斜边、后端面的右斜边至少其中之一设有第五刻度。
3.根据权利要求2所述的用于超声波无损检测的便携式校核试块，其特征在于，所述第一刻度的范围为0~20mm，所述第一刻度的0刻度线到右斜面上端的距离为19.88mm；所述第二刻度的范围为0~30mm，所述第二刻度的0刻度线到左过渡面下端的距离为29.54mm；所述第三刻度的范围为0~25mm，所述第三刻度的0刻度线到右过渡面下端的距离为57.16mm；所述第四刻度的范围为0~30mm，所述第四刻度的0刻度线到左过渡面上端的距离为32.46mm；所述第五刻度的范围为0~30mm，所述第五刻度的0刻度线到右过渡面上端的距离为25mm。