1.一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：包括设置有参考面（11）的支座（1）、设置在支座（1）上靠重力始终保持竖直的参考件（2）和若干个设置在支座（1）上用于支撑支座（1）的最底端位于同一平面的支撑杆（3）；所述的参考件（2）上设有以参考面（11）为基准用于反馈平整度的刻度。
2.根据权利要求1所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的参考件（2）为质量分布为下重上轻、具有旋转对称轴且能够相对于支座（1）自由转动的球形零件。
3.根据权利要求2所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的支座（1）上设置有直径大于或等于参考件（2）直径的球面凹槽。
4.根据权利要求3所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的球面凹槽的直径大于参考件（2）的直径，所述的球面凹槽内设有若干个滚珠（7）。
5.根据权利要求3所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的球面凹槽的直径大于参考件（2）的直径；所述的球面凹槽内设有A磁铁（8），参考件（2）的外表面均匀设置有B磁铁（9）。
6.根据权利要求2、3、4、5中任一项所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的刻度为与参考件（2）旋转对称轴垂直的圆环形刻度线（6）。
7.根据权利要求6所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的参考件（2）的顶部设置有与参考件（2）旋转对称轴垂直的截面（4）。
8.根据权利要求7所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的截面（4）的中心处设置有指南针（5）；所述的指南针（5）上方设置有水准气泡。
9.根据权利要求2、3、4、5、7、8中任一项所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的支座（1）为与参考件（2）同轴设置的圆柱形支撑件，所述的参考面（11）设置在支座（1）朝上的一端并且垂直于支座（1）的轴线。
10.根据权利要求9所述的一种便于读数的高精平整度检测装置，其特征在于：所述的支撑杆（3）有三个且均匀分布在支座（1）的圆周方向，支撑杆（3）的最低端为共面且与参考面（11）平行的平面。