天线电阻测试工装及其测试方法与流程

【技术领域】

本发明涉及一种天线电阻测试技术领域，尤其涉及一种天线电阻测试工装及其测试方法。

背景技术：

随着移动通讯技术的发展，各种电子产品对人们的娱乐及生活起到重要作用，并且多种电子产品逐渐更新为具有通讯功能的电子通讯产品，其中天线为电子通讯产品的核心部件之一。

现有的金属壳上的天线，由于天线的信号点和接地点整合在金属壳相对两端的侧壁内侧，在测试天线性能时不好装入测试治具，需要分多次对天线进行测试，使得金属壳侧壁的双内侧面难测，导致天线测试效率低下。

因此，有必要提供一种新型的天线电阻测试工装及其测试方法以解决上述问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种天线电阻测试工装及其测试方法，其可以一次性完成金属壳上天线电阻的测试，有效解决金属壳侧壁的双内侧面难测问题。

本发明的技术方案如下：一种天线电阻测试工装，包括：

第一pcb，可平移，设有第一pin针组；

第二pcb，可平移，与所述第一pcb相对并间隔设置，设有第二pin针组；

连接线，用于将所述第一pcb和所述第二pcb电连接；

工作台，用于放置待测试的金属壳，所述第一pcb和所述第二pcb均安装于所述工作台下方；

固定装置，用于将待测试的金属壳固定于所述工作台；

其中，所述金属壳设有待测试电阻的天线，所述天线包括天线测试点，所述天线测试点分设于所述金属壳相对两端的侧壁内侧，通过平移所述第一pcb和所述第二pcb实现所述第一pin针组和所述第二pin针组分别接触所述金属壳相对两端的侧壁内侧的所述天线测试点，多路电阻测试仪分别通过所述第一pcb的所述第一pin针组和所述第二pcb的所述第二pin针组实现对所述天线进行电阻测试。

优选的，所述天线电阻测试工装包括平面气缸，所述平面气缸用于驱动所述第一pcb和所述第二pcb相向/背向平移。

优选的，所述天线测试点的数量为六个，所述金属壳相对两端的内侧各设有三个所述天线测试点。

优选的，所述第一pin针组内的pin针数和所述第二pin针组内的pin针数相同，且都为三个。

优选的，所述连接线为软排线。

优选的，所述固定装置包括直线气缸，所述直线气缸用于下压所述金属壳以将所述金属壳固定于所述工作台。

优选的，所述金属壳为铝合金金属壳。

本发明还提供了一种天线电阻的测试方法，包括如下步骤：

提供所述天线电阻测试工装和待测试的所述金属壳；

将所述金属壳放置于所述天线电阻测试工装的所述工作台；

通过所述固定装置将所述金属壳固定于所述工作台；

平移所述第一pcb和所述第二pcb，使得所述第一pin针组和所述第二pin针组接触所述天线的所述天线测试点；

通过多路电阻测试仪测试任意两个所述天线测试点之间的电阻值。

与相关技术相比，本发明提供的天线电阻测试工装及其测试方法，其通过平面气缸左右移动第一pcb和第二pcb，带动第一pin针组和第二pin针组分别接触到金属壳相对两端的侧壁内侧上的天线测试点，从而可以有效解决金属壳侧壁的双内侧面难测问题；第一pcb和第二pcb同时运动，可以做到一个产品相对两端的内侧一次测试完成；同时中间软排线可以连接第一pcb和第二pcb电路。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1为本发明天线电阻测试工装的立体图；

图2为本发明天线电阻测试工装的部分结构立体图；

图3为金属壳的立体图；

图4为本发明天线电阻的测试方法的流程图。

【具体实施方式】

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1和图2，本发明提供了一种天线电阻测试工装100，包括第一pcb1、第二pcb2、连接线3、工作台4以及固定装置5。

所述第一pcb1可平移，设有第一pin针组10。所述第二pcb2可平移，与所述第一pcb1相对并间隔设置，设有第二pin针组20。所述天线电阻测试工装100包括平面气缸6，所述平面气缸6用于驱动所述第一pcb1和所述第二pcb2相向/背向平移。

所述连接线3用于将所述第一pcb1和所述第二pcb2电连接，所述连接线3优选的采用软排线，这样可以让所述连接线3预留足够长的长度，保证所述第一pcb1和所述第二pcb2在背向平移时不会扯断所述连接线3。

所述工作台4用于放置待测试的金属壳7，所述金属壳7为铝合金金属壳。所述第一pcb1和所述第二pcb2均安装于所述工作台4下方，所述第一pin针组10和所述第二pin针组20均穿过所述工作台4以便与所述金属壳7配合。

所述固定装置5用于将所述金属壳7固定于所述工作台4。所述固定装置5包括直线气缸50，所述直线气缸50用于下压所述金属壳7以将所述金属壳7固定于所述工作台4。

请一并参阅图3，所述金属壳7设有待测试电阻的天线70，所述天线70包括天线测试点700，所述天线测试点700分设于所述金属壳7相对两端的内侧。通过平移所述第一pcb1和所述第二pcb2实现所述第一pin针组10和所述第二pin针组20分别接触所述金属壳7相对两端的侧壁内侧的所述天线测试点700。在本实施例中,所述天线测试点700位于金属壳7的内侧壁位置，通常金属壳包括背壳和环绕背壳的侧壁。但并不排除天线测试点能位于背壳内侧。

多路电阻测试仪分别通过所述第一pcb1的所述第一pin针组10和所述第二pcb2的所述第二pin针组20实现对所述天线70进行电阻测试。所述多路电阻测试仪在本发明优选的实施方式中，属于外界设备，并不属于所述天线电阻测试工装100的一部分。

所述天线测试点700的数量为六个，所述金属壳7相对两端的内侧各设有三个所述天线测试点700，每一端的所述金属壳7的内侧的所述天线测试点700中，一个属于天线信号点，两个属于天线接地点。所述第一pin针组10内的pin针数和所述第二pin针组20内的pin针数相同，且都为三个。

请一并参阅图4，本发明还提供了一种天线电阻的测试方法，包括如下步骤：

s1、提供所述天线电阻测试工装100和待测试的所述金属壳7；

s2、将所述金属壳7放置于所述天线电阻测试工装100的所述工作台4；

s3、通过所述固定装置5将所述金属壳7固定于所述工作台4；

s4、平移所述第一pcb1和所述第二pcb2，使得所述第一pin针组10和所述第二pin针组20接触所述天线70的所述天线测试点700；

s5、通过多路电阻测试仪测试任意两个所述天线测试点700之间的电阻值。

在本发明优选的实施方式中，所述电阻值小于0.5ω为合格。

与相关技术相比，本发明提供的天线电阻测试工装及其测试方法，其通过所述平面气缸6左右移动所述第一pcb1和所述第二pcb2，带动所述第一pin针组10和所述第二pin针组20分别接触到所述金属壳7相对两端的内侧侧面的所述天线测试点700，从而可以有效解决所述金属壳7双内侧面难测问题；所述第一pcb1和所述第二pcb2同时运动，可以做到一个产品相对两端的内侧一次测试完成；同时中间软排线可以连接所述第一pcb1和所述第二pcb2电路。

以上所述的仅是本发明的实施方式，在此应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出改进，但这些均属于本发明的保护范围。