传感器校准方法、传感器和空气处理设备与流程

本发明涉及传感技术领域，特别涉及一种传感器校准方法、传感器和空气处理设备。

背景技术：

在空气处理设备中，通常设有滤网，一方面能够避免室内空气中的杂质进入空气处理设备内部导致设备故障，另一方面也能够改善室内空气的质量。随着使用时间的增长，滤网上将附着灰尘、病菌等，有必要对滤网的洁净度进行检测。用于检测滤网洁净度的传感器包括光发射组件和光接收组件，并分别对应安装在滤网两侧，当滤网上附着了灰尘、病菌等时，光接收组件接收到的光强将产生变化，以实现滤网洁净度的检测。然而，由于工艺限制和环境影响，不同光发射组件和光接收组件之间的发射和接收性能存在较大的差别，导致不同的传感器之间的一致性较差。

技术实现要素：

本发明的主要目的是提出一种传感器校准方法，旨在解决上述传感器之间的一致性差的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出的一种传感器校准方法，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；

所述传感器校准方法包括以下步骤：

获取校准指令；

调节所述检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强；

当第一预设光强减所述接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

可选地，在获取校准指令的步骤之前，所述传感器校准方法还包括以下步骤：

累计所述空气处理设备的累积运行时长；

当所述累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令。

可选地，在获取校准指令的步骤之前，所述传感器校准方法还包括以下步骤：

获取所述滤网的安装信号；

当获取到所述滤网的安装信号时，生成校准指令。

可选地，在获取校准指令的步骤之前，所述传感器校准方法还包括以下步骤：

获取所述光接收组件接收到光的接收光强；

比对所述接收光强的当次获取值和前次获取值；

当所述接收光强的当次获取值减所述接收光强的前次获取值的差值大于或等于第二预设差值时，生成校准指令。

可选地，调节所述检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强的步骤包括：

调节所述检测光的发射光强自第二预设光强单调变化至第三预设光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强；

比对所述接收光强的当次获取值和前次获取值；

当所述接收光强的当次获取值减所述接收光强的前次获取值的差值的绝对值大于或等于第三预设差值时，剔除所述接收光强的当次获取值；

其中，所述第一预设光强处于所述第二预设光强和所述第三预设光强之间。

可选地，在当第一预设光强减所述接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强的步骤之前，所述传感器校准方法还包括以下步骤：

调节所述检测光的发射光强自第四预设光强单调变化至第五预设光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强；

计算所述接收光强关于所述发射光强的变化率；

当所述第四预设光强小于所述第五预设光强，且所述接收光强关于所述发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，或所述第四预设光强大于所述第五预设光强，且所述接收光强关于所述发射光强的变化率增大量大于或等于第四预设差值时，将第一预设光强更新为当前的接收光强；

其中，所述第一预设光强处于所述第四预设光强和所述第五预设光强之间。

可选地，在调节所述检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强的步骤之后，所述传感器校准方法还包括以下步骤：

计算所述接收光强关于所述发射光强的变化率；

当第一预设光强减所述检测光的接收光强的差小于零，且所述接收光强关于所述发射光强的变化率小于或等于预设变化率时，生成饱和提示信号。

本发明还提出一种传感器，用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件、光接收组件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器校准程序，其中，所述光发射组件用于发射检测光；所述光接收组件与所述光发射组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；所述传感器校准程序被所述处理器执行时实现传感器校准方法的步骤，所述传感器校准方法包括以下步骤：获取校准指令；调节所述检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强；当第一预设光强减所述接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

本发明还提出一种空气处理设备，所述空气处理设备包括滤网、传感器、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器校准程序，其中，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；所述传感器校准程序被所述处理器执行时实现传感器校准方法的步骤，所述传感器校准方法包括以下步骤：获取校准指令；调节所述检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到光的接收光强；当第一预设光强减所述接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

可选地，所述空气处理设备包括空调器或空气净化器。

本发明技术方案中，传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器包括光发射组件和光接收组件，光发射组件和光接收组件对应分设于滤网的两侧，光发射组件发射的检测光经滤网透射，被光接收组件接收，传感器校准方法包括以下步骤：获取校准指令；调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。在传感器的工作过程中，由于工艺限制和环境影响，不同传感器之间的性能存在差别，并且，随着传感器工作时间的增长，其性能也将逐渐下降。通过校准传感器，具体的，在获取到校准指令后，调节传感器的发射光强，并记录接收光强接近第一预设光强时的发射光强作为标准发射光强，以及接收光强作为检测基准光强，通过校准不同的传感器的标准发射光强，使各个传感器的检测基准光强相一致，从而有效克服了不同传感器之间的性能差异，以及传感器工作过程中由于性能下降所导致的性能偏移的问题，改善了传感器的一致性，提高了检测效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明传感器一实施例的结构示意图；

图2为本发明传感器检验方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明传感器检验方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明传感器检验方法第三实施例的流程示意图；

图5为本发明传感器检验方法第四实施例的流程示意图；

图6为本发明传感器检验方法第五实施例中步骤s200的细化流程示意图；

图7为本发明传感器检验方法第六实施例的流程示意图；

图8为本发明传感器检验方法第七实施例的流程示意图；

图9为本发明传感器一实施例的电路结构示意图；

图10为本发明空气处理设备一实施例的结构示意图。

图1和图10中的虚线箭头代表检测光的传输方向。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种传感器校准方法。如图1所示，在本发明的第一实施例中，传感器10用于检测空气处理设备的滤网20洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收。

具体的，光发射组件11可以选用发光二极管或发光三极管，通过连续或脉冲方式产生一定频率的光波信号，并为光接收组件12所接收。为了避免环境光对滤网20的洁净度检测的干扰，可以选用能够产生红外信号的光发射组件11。光接收组件12具体可以为光敏三极管，具有三种工作状态：当光强较弱时，光接收组件12工作在截止区，在截止区中，光接收组件12尚未完全开启，随着光强的增大，光接收组件12产生的信号光强略有增大，但基本为零；当光强适中时，光接收组件12工作在放大区，在放大区中，光接收组件12产生的信号光强随光强的变化基本呈线性关系，从而能够较为直观地反映光强变化，减少非线性失真对检测过程的干扰；当光强较强时，光接收组件12工作在饱和区，在饱和区中，即使光强进一步增大，由于光接收组件12饱和，其所产生的信号光强也基本不变，接近饱和信号。综上所述，通过对传感器进行校准，改变不同传感器的标准发射光强，是使各个传感器10都能够正常工作在放大区，以实现较好的一致性和检测效果。在传感器10的工作过程中，当光发射组件11发射的检测光发射光强不变的情况下，若滤网20较为洁净，那么，能够透射通过滤网20的检测光较多，相应的，光接收组件12接收到的接收光强较强，反之，若滤网20出现脏堵，那么，能够透射通过滤网20的检测光较少，相应的，光接收组件20接收到的接收光强较弱，从而实现对滤网20洁净度的检测。

如图2所示，传感器校准方法包括以下步骤：

步骤s100、获取校准指令；

步骤s200、调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

步骤s300、当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

根据上述传感器10的工作原理可知，当滤网20处于洁净状态下时，传感器10的光接收组件12接收到光的光强最大，随着滤网20逐渐脏堵，光接收组件12接收到光的光强减小。同时，当光接收组件12工作在放大区时，接收光强与光接收组件12所产生的电信号之间基本呈线性关系，能够有效避免非线性失真对检测的干扰。因此，在校准传感器10时，目标是通过调节光发射组件11的发射光强，找到各个传感器10的标准发射光强，使光发射组件11以标准发射光强发射检测光时，并且滤网洁净的状态下，光接收组件12接收到光的接收光强接近于放大区和饱和区之间的交界点，并以当前的接收光强为检测基准光强。在后续的测量过程中，光发射组件11以标准发射光强发射检测光，随着滤网逐渐脏堵，光接收组件12接收到的接收光强将逐渐减小，通过比对接收光强与检测基准光强，获取滤网的洁净度。经过校准后，检测基准光强为滤网状态变化过程中光接收组件12可能接收到的最大接收光强，并且接近放大区和饱和区之间的交界点，从而还有利于充分利用放大区覆盖更宽的检测范围，提高传感器10的检测性能。

通过获取校准指令控制校准程序的启动，其中，校准指令的生成与滤网的状态相关。当滤网处于洁净状态时，符合校准的条件，即可自动或手动生成校准指令，后文中还将详细阐述。第一预设光强对应于放大区和饱和区之间的交界点处的接收光强。为了进一步提高传感器之间的一致性，第一预设光强可以设为接近各传感器的放大区和饱和区交界点的一个统一值，第一预设光强由光接收组件12的性能决定，可以通过查询预存的光接收组件12的性能参数，或者通过测量获得。

在本实施例中，传感器10用于检测空气处理设备的滤网20洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收，传感器校准方法包括以下步骤：获取校准指令；调节检测光的发射光强，并获取光接收组件12接收到光的接收光强；当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。在传感器10的工作过程中，由于工艺限制和环境影响，不同传感器10之间的性能存在差别，并且，随着传感器10工作时间的增长，其性能也将逐渐下降。通过校准传感器10，具体的，在获取到校准指令后，调节传感器10的发射光强，并记录接收光强接近第一预设光强时的发射光强作为标准发射光强，以及接收光强作为检测基准光强，通过校准不同的传感器的标准发射光强，使各个传感器10的检测基准光强相一致，从而有效克服了不同传感器10之间的性能差异，以及传感器10工作过程中由于性能下降所导致的性能偏移的问题，改善了传感器10的一致性，提高了检测效果。

在本发明的第二实施例中，如图3所示，在步骤s100之前，传感器校准方法还包括以下步骤：

步骤s410、累计空气处理设备的累积运行时长；

步骤s420、当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令。

其中，第一预设时长为空气处理设备出厂前调试过程中的运行时长和用户使用前安装过程中的运行时长之和，也就是说，第一预设时长对应于空气处理设备自可以运行至用户正式使用之间所运行的时长，当累积运行时长达到第一预设时长时，对应于用户开始使用空气处理设备的时段，此时，滤网仍处于洁净状态，在该状态下生成校准指令，以校准传感器。

在本发明的第三实施例中，如图4所示，在步骤s100之前，传感器校准方法还包括以下步骤：

步骤s430、获取滤网的安装信号；

步骤s440、当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令。

在空气处理设备的运行一段时间后，用户通常会对滤网进行清洗，并重新将滤网安装到空气处理设备中，以改善空气处理设备的运行效果。因此，通过获取滤网的安装信号，可以推测出滤网刚经过清洗，处于洁净状态，此时，生成校准指令，以校准标准发射光强和检测基准光强。

在本发明的第四实施例中，如图5所示，在步骤s100之前，传感器校准方法还包括以下步骤：

步骤s450、获取光接收组件接收到光的接收光强；

步骤s460、比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

步骤s470、当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值大于或等于第二预设差值时，生成校准指令。

在本实施例中，在光发射组件保持标准发射光强发射检测光的前提下，当获取到接收光强突然增大时，对应于滤网经过清洁，透射率增大，即滤网处于洁净状态，此时生成校准指令，对传感器进行校准。

在本发明的第五实施例中，如图6所示，步骤s200包括：

步骤s210、调节检测光的发射光强自第二预设光强单调变化至第三预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

步骤s220、比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

步骤s230、当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值的绝对值大于或等于第三预设差值时，剔除接收光强的当次获取值；

其中，第一预设光强处于第二预设光强和第三预设光强之间。

在本实施例中，考虑到环境光强突变以及检测跳变等因素的影响，可能导致光接收组件接收到的接收光强发生突变，而该接收光强并不能正确反映光接收组件的状态，需要剔除上述突变数据。具体的，为了便于判断，控制检测光的发射光强单调变化，且变化范围覆盖第一预设光强。当第二预设光强小于第三预设光强时，即检测光的发射光强单调增大；当第二预设光线大于第三预设光强时，即检测光的发射光强单调减小，当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值的绝对值大于或等于第三预设差值时，其中，第三预设差值对应于突变时接收光强的最小变化量，即接收光强产生了突变，剔除接收光强的当次获取值，即剔除该突变点，以排除突变对校准过程的干扰，提高校准的准确度。

在本发明的第六实施例中，如图7所示，在步骤s300之前，传感器校准方法还包括以下步骤：

步骤s510、调节检测光的发射光强自第四预设光强单调变化至第五预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

步骤s520、计算接收光强关于发射光强的变化率；

步骤s530、当第四预设光强小于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，或第四预设光强大于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率增大量大于或等于第四预设差值时，将第一预设光强更新为当前的接收光强；

其中，第一预设光强处于第四预设光强和第五预设光强之间。

在本实施例中，以光接收组件12的放大区和饱和区的交界点为第一预设光强，并通过测量获取第一预设光强。具体的，调节光发射组件11的发射光强，并获取光接收组件12接收到的接收光强，计算接收光强关于发射光强的变化率。在发射光强从零逐渐增大的过程中，初始时接收光强关于发射光强的变化率基本为零，即对应于光接收组件12的截止区，随着发射光强的增大，变化率快速增大至一大于零的常数，即对应于光接收组件12的放大区，随着发射光强进一步增大，变化率快速减小至基本为零，即对应于光接收组件12的饱和区。在上述过程中，当第四预设光强小于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，即变化率从一大于零的常数突变为基本为零的点，对应于放大区和饱和区的交界点，相应的接收光强为第一预设光强。同理，当第四预设光强大于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率增大量大于或等于第四预设差值时，即变化率从基本为零突变为一大于零的常数的点，对应于放大区和饱和区的交界点，相应的接收光强为第一预设光强。

在本发明的第七实施例中，如图8所示，在步骤s200之后，传感器校准方法还包括以下步骤：

步骤s600、计算接收光强关于发射光强的变化率；

步骤s700、当第一预设光强减检测光的接收光强的差小于零，且接收光强关于发射光强的变化率小于或等于预设变化率时，生成饱和提示信号。

在本实施例中，考虑到若环境光强过大，可能导致光接收组件始终处于饱和状态，此时难以对传感器进行正确有效的校准。具体的，当第一预设光强减检测光的接收光强的差小于零，且接收光强关于发射光强的变化率小于或等于预设变化率时，表明当前状态下光接收组件处于饱和区，通过生成饱和提示信号提示用户对环境光强进行调节，以保障校准的正常进行。

本发明还提出一种传感器，如图1和图9所示，传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11、光接收组件12、存储器13、处理器14及存储在存储器13上并可在处理器14上运行的传感器检验程序，其中，光发射组件11用于发射检测光；光接收组件12与光发射组件11对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收；处理器14与光发射组件11和光接收组件12均保持电连接。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，并执行以下操作：

获取校准指令；

调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

累计空气处理设备的累积运行时长；

当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

获取滤网的安装信号；

当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

获取光接收组件接收到光的接收光强；

比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值大于或等于第二预设差值时，生成校准指令。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强的操作包括：

调节检测光的发射光强自第二预设光强单调变化至第三预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值的绝对值大于或等于第三预设差值时，剔除接收光强的当次获取值；

其中，第一预设光强处于第二预设光强和第三预设光强之间。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强的操作之前，还执行以下操作：

调节检测光的发射光强自第四预设光强单调变化至第五预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当第四预设光强小于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，或第四预设光强大于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率增大量大于或等于第四预设差值时，将第一预设光强更新为当前的接收光强；

其中，第一预设光强处于第四预设光强和第五预设光强之间。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强的操作之后，还执行以下操作：

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当第一预设光强减检测光的接收光强的差小于零，且接收光强关于发射光强的变化率小于或等于预设变化率时，生成饱和提示信号。

本发明还提出一种空气处理设备，如图10所示，空气处理设备包括滤网20、传感器10、存储器30、处理器40及存储在存储器30上并可在处理器40上运行的传感器检验程序，其中，

传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收。处理器40与传感器10和存储器30电连接。具体的，空气处理设备包括空调器或空气净化器。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，并执行以下操作：

获取校准指令；

调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

累计空气处理设备的累积运行时长；

当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

获取滤网的安装信号；

当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

获取光接收组件接收到光的接收光强；

比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值大于或等于第二预设差值时，生成校准指令。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强的操作包括：

调节检测光的发射光强自第二预设光强单调变化至第三预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

比对接收光强的当次获取值和前次获取值；

当接收光强的当次获取值减接收光强的前次获取值的差值的绝对值大于或等于第三预设差值时，剔除接收光强的当次获取值；

其中，第一预设光强处于第二预设光强和第三预设光强之间。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在当第一预设光强减接收光强的差值大于或等于零，且小于或等于第一预设差值时，将标准发射光强更新为当前的发射光强，并将检测基准光强更新为当前的接收光强的操作之前，还执行以下操作：

调节检测光的发射光强自第四预设光强单调变化至第五预设光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强；

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当第四预设光强小于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，或第四预设光强大于第五预设光强，且接收光强关于发射光强的变化率增大量大于或等于第四预设差值时，将第一预设光强更新为当前的接收光强；

其中，第一预设光强处于第四预设光强和第五预设光强之间。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在调节检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到光的接收光强的操作之后，还执行以下操作：

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当第一预设光强减检测光的接收光强的差小于零，且接收光强关于发射光强的变化率小于或等于预设变化率时，生成饱和提示信号。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。