本发明涉及测量工具，尤其涉及一种轴叉轴部直径检测工具。
背景技术：
轴叉为汽车传动轴的一个零件，在汽车中得到广泛应用。轴叉一般包括钟形罩以及与钟型罩为一体式的轴体，轴体一般包括两个直径不相等的轴段，轴叉在加工过程中轴段的直径为轴叉尺寸的一个测量要素。
现有技术中轴段的测量一般通过游标卡尺或千分尺进行测量，这种测量方式造成轴叉的测量效率较低，大批量生产时影响轴叉的加工效率，另外，采用游标卡尺或千分尺进行测量时，测量人员劳动强度大。
技术实现要素：
本发明提供的一种轴叉轴部直径检测工具，旨在解决现有技术中轴叉测量时测量不方便的技术问题。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种轴叉轴部直径检测工具，包括底座，在所述底座上设置有立柱，在所述立柱上套设有第一支架和第二支架，所述第一支架上设置有将第一支架锁紧在所述立柱上的第一锁紧螺钉，所述第二支架上设置有将第二支架锁紧在立柱上的第二锁紧螺钉，在所述第一支架上固定有第一定位柱，在所述第一支架上还设置有第一测量块，所述第一测量块通过至少两片第一弹片固定在所述第一支架上，在所述第一支架上还设置有检测所述第一测量块位移量的第一百分表，所述第二支架上固定有第二定位柱，在所述第二支架上还设置有第二测量块，所述第二测量块通过至少两片第二弹片固定在所述第二支架上，在所述第二支架上还设置有检测所述第二测量块位移量的第二百分表，所述第一百分表、第二百分表分别位于所述立柱的两侧。
本发明提供的一种轴叉轴部直径检测工具，在底座上设置有立柱，在立柱上设置有第一支架，在第一支架上设置有第一定位柱、第一测量块和第一百分表，在立柱上还设置有第二支架，在第二支架上设置有第二定位柱、第二测量块和第二百分表，第一百分表测量第一测量块的位移量，第二百分表测量第二测量块的位移量，在实际测量时仅需要使轴段与第一测量块、第二测量块接触即可方便地检测轴段的直径是否符合要求，大大提高了轴叉的测量效率，降低了测量人员的劳动强度。
一种可选的方案，所述第一支架上设置有固定第一定位柱的第一杆体，所述第一定位柱套设在所述第一杆体上，在所述第一定位柱上设置有将所述第一定位柱锁紧在所述第一杆体上的第三锁紧螺钉，所述第二支架上设置有固定第二定位柱的第二杆体，所述第二定位柱套设在所述第二杆体上，在所述第二定位柱上设置有将所述第二定位柱锁紧在第二杆体上的第四锁紧螺钉。
第一定位柱套设在第一杆体上、第二定位柱套设在第二杆体上，第一定位柱和第二定位柱的位置可以调节，从而使得检测工具可以适应不同规格的轴叉，优化了检测工具的通用性能。
一种可选的方案，所述第一百分表通过第一表架固定在所述第一支架上，所述第二百分表通过第二表架固定在第二支架上，所述第一表架包括第一折弯部，第一弹片通过第一折弯部固定在所述第一支架上，所述第二表架包括第二折弯部，第二弹片通过第二折弯部固定在所述第二支架上。
第一百分表、第二百分表固定牢固，提高了检测工具在使用过程中的稳定性能。
一种可选的方案，所述立柱焊接在所述底座上，在所述立柱上设置有刻度线，所述刻度线凹入所述立柱内。
立柱与底座固定牢固，提高了检测工具在使用过程中的稳定性能。刻度线的设置使得第一支架、第二支架调节位置时操作方便，优化了检测工具的性能。
一种可选的方案，所述第一定位柱、第一测量块、第二定位柱、第二测量块上均镀设有耐磨层，所述耐磨层的厚度不小于0.5毫米。
耐磨层的设置延长了第一定位柱、第一测量块、第二定位柱、第二测量块的使用寿命。
与现有技术相比，本发明提供的一种轴叉轴部直径检测工具，具有如下优点：
1、利用第一百分表、第二百分表对轴叉轴段的直径进行相对测量，该方案虽然无法测量轴段的实际直径，但是可以方便地测量轴段的直径是否符合要求，轴叉在大批量生产时，测量十分方便，降低了测量人员的劳动强度，提高了轴叉的测量效率。
2、第一支架通过第一锁紧螺钉锁紧在立柱上，第二支架通过第二锁紧螺钉锁紧在立柱上，第一支架和第二支架的位置可以方便地调节，从而可以适应不同规格的轴叉，优化了检测工具的通用性能。
附图说明
附图1是本发明一种轴叉轴部直径检测工具的示意图；
附图2是本发明一种轴叉轴部直径检测工具测量轴叉时的示意图。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的一种轴叉轴部直径检测工具作进一步说明。以下实施例仅用于帮助本领域技术人员理解本发明，并非是对本发明的限制。
如图1、图2所示，一种轴叉轴部直径检测工具，包括底座1，在所述底座1上设置有立柱2，所述立柱2焊接在所述底座1上，立柱2也可以与底座1为一体式结构，在所述立柱2上设置有刻度线，所述刻度线凹入所述立柱2内，以避免刻度线磨损，延长了立柱2的使用寿命；
如图1、图2所示，在所述立柱2上套设有第一支架3和第二支架4，所述第一支架3上设置有将第一支架3锁紧在所述立柱2上的第一锁紧螺钉，所述第二支架4上设置有将第二支架4锁紧在立柱2上的第二锁紧螺钉，第一锁紧螺钉抵紧立柱2，利用摩擦力将第一支架3锁紧在立柱2上，第二锁紧螺钉抵紧立柱2，利用摩擦力将第二支架4锁紧在立柱2上；
如图1、图2所示，在所述第一支架3上固定有第一定位柱5，所述第一支架3上设置有固定第一定位柱5的第一杆体13，第一杆体13与第一支架3为一体式结构，所述第一定位柱5套设在所述第一杆体13上，在所述第一定位柱5上设置有将所述第一定位柱5锁紧在所述第一杆体13上的第三锁紧螺钉，第三锁紧螺钉抵紧第一杆体13，利用摩擦力将第一定位柱5锁紧在第一杆体13上；
如图1、图2所示，在所述第一支架3上还设置有第一测量块6，所述第一测量块6通过至少两片第一弹片7固定在所述第一支架3上，在所述第一支架3上还设置有检测所述第一测量块6位移量的第一百分表8，所述第一百分表8通过第一表架14固定在所述第一支架3上，所述第一表架14包括第一折弯部，所述第一表架14通过螺钉固定在所述第一支架3上，第一弹片7通过第一折弯部固定在所述第一支架3上，第一弹片7的一端焊接在所述第一折弯部上，第一弹片7的另一端焊接在所述第一测量块6上；
如图1、图2所示，第一测量块6与第一定位柱5之间形成测量区域，轴叉的轴段处于测量区域时推动第一测量块6移动，第一百分表8检测第一测量块6的位移量，该测量为相对测量，测量人员仅可以测出轴段的直径是否符合要求，无法直接测出轴段的直径，该测量方案在大批量生产时使得轴叉尺寸测量十分方便；
如图1、图2所示，所述第二支架4上固定有第二定位柱9，在所述第二支架4上还设置有第二测量块10，所述第二测量块10通过至少两片第二弹片11固定在所述第二支架4上，在所述第二支架4上还设置有检测所述第二测量块10位移量的第二百分表12，所述第二支架4上设置有固定第二定位柱9的第二杆体，第二杆体与第二支架4为一体式结构，所述第二定位柱9套设在所述第二杆体上，在所述第二定位柱9上设置有将所述第二定位柱9锁紧在第二杆体上的第四锁紧螺钉，第四锁紧螺钉抵紧第二杆体，利用摩擦力将第二定位柱9锁紧在第二杆体上，所述第二百分表12通过第二表架15固定在第二支架4上，所述第二表架15包括第二折弯部，第二弹片11通过第二折弯部固定在所述第二支架4上，第二表架15通过螺钉固定在第二支架4上，第二弹片11的一端焊接在第二折弯部上，第二弹片11的另一端焊接在第二测量块10上；在第二测量块10与第二定位柱9之间形成测量区域；
轴叉为标准件，轴叉上有两个不同直径的轴段，利用第一百分表8和第二百分表12可以方便地测量两个不同直径的轴段尺寸是否符合要求；
如图1、图2所示，所述第一百分表8、第二百分表12分别位于所述立柱2的两侧，避免第一百分表8与第二百分表12重叠而造成读数困难，优化了检测工具的性能。
所述第一定位柱5、第一测量块6、第二定位柱9、第二测量块10上均镀设有耐磨层，所述耐磨层的厚度不小于0.5毫米。
以上结合附图对本发明的部分实施例进行了详细介绍。本领域技术人员阅读本说明书后，基于本发明的技术方案，可以对上述实施例进行修改，这些修改仍属于本发明的保护范围。