一种带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪的制作方法

文档序号:12995474阅读:305来源:国知局
一种带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪的制作方法

本实用新型涉及空气颗粒物采样技术领域,具体涉及一种带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪。



背景技术:

烟尘采样是火电厂锅炉排放、设备性能试验和环境保护监督的重要环节,一般通过烟尘采样枪进行烟尘采样。实际应用中,某些烟道中烟尘的湿度比较大,使用传统的非加热型的烟尘采样枪进行采样时,由于烟气湿度过大会打湿滤膜,滤膜遇湿吸水会造成采样阻力增大堵塞或使滤膜破裂,导致采样无法进行或失败;同时,湿度过大还会导致滤膜上的颗粒物中含有较多的水分,致使颗粒物的重量发生偏差,或者致使颗粒物黏连,颗粒物数目的发生偏差,都会导致采样结果发生异常,使烟尘采样质量无法保证。

为了尽量降低烟气中的水分在滤膜上凝结对采样的影响,现有技术中低浓度烟尘采样枪一般采用电热丝加热的方式。但是该方式主要依靠电热丝加热低浓度采样头底座来达到给低浓度采样头加热的目的。由于低浓度采样头只是边缘与底座接触,接触面积小,热传导慢。并且采样时,热传导方向与采样气体流动的方向正好相反,采样气体会带走大量加热装置产生的热量,因此该种加热方式无法将大部分的热量传递给滤膜,加热效果差。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪,通过微波加热装置对滤膜进行加热,能够有效减少采样气体中的水分在滤膜上凝结对低浓度采样带来的影响。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:一种带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪,包括采样底座和采样头,所述采样头的后端设置有过滤元件,所述过滤元件包括从上至下依次设置的滤膜和滤膜托网,所述采样头的后端与所述采样底座可拆卸连接,所述滤膜托网采用不吸收和反射微波的非金属材料制成,所述采样底座上设置有抽气嘴;所述采样底座的底部设置有微波加热装置。

进一步地,所述微波加热装置为磁控管。

进一步地,所述采样底座内壁上,靠近所述磁控管的位置设置有非金属密封片。

进一步地,所述采样底座与所述磁控管的表面密封连接。

进一步地,连接所述磁控管和所述滤网托网的所述采样底座的内壁为光滑的金属内壁。进一步地,所述滤膜和所述滤膜托网压合成一体结构。

进一步地,所述采样头的后端通过压帽与采样底座密封连接。

进一步地,所述采样头还包括前端的采样嘴和中部的弯管。

进一步地,所述滤膜托网采用陶瓷片制成。

本实用新型的带有辐射加热装置的低浓度烟尘采样枪与现有技术相比,具有以下有益效果:微波加热的方式加热效率非常高,能够有效减少液态水在滤膜上凝结对测量精度的影响;一方面微波只对液态水敏感,其他气体、金属、玻璃等都不吸收微波,因此微波能量会集中加热液态水,效率非常高。另一方面微波加热方式基本上不受采样气体流动方向的影响。另外磁控管体积不大,可以方便的安装到采样枪上,因此微波加热的方式非常适合低浓度采样枪。

附图说明

图1为带有微波加热装置的低浓度烟尘采样枪的结构示意图;

图2为图1的A部放大图;

图中:1-采样底座;2-采样头;21-采样嘴;22-弯管;23-过滤元件;231-滤膜;232-滤膜托网;3-磁控管;4-抽气嘴;5-非金属密封片;6-压帽。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本实用新型的内容做详细叙述。

如图1所示,一种带有辐射加热装置的低浓度烟尘采样枪,包括采样底座1和采样头2。采样头2包括前端的采样嘴21、中部的弯管22和后端的过滤元件23。如图2所示,过滤元件23包括从上至下依次设置的滤膜231和滤膜托网232,滤膜231和滤膜托网232压合成一体结构;采样头2的后端通过压帽6与采样底座可拆卸连接,可以在压帽6与采样底座1的连接处加设密封垫,实现密封连接。所述滤膜托网232采用不吸收和反射微波的非金属材料制成,所述采样底座1上设置有抽气嘴4,所述采样底座1的底部设置微波加热装置。在本实施例中微波加热装置为磁控管3。当然,在另外的实施例中微波加热装置还可以设置成其他的类型,只要能够发出微波,对滤膜产生加热的作用,都在本实用新型的保护范围内。

磁控管3通电后发射出微波,气态水对微波吸收能力弱,并且微波只对液态水敏感,对于其他气体、金属和玻璃都不吸收微波,因此微波能量会集中加热液态水,很容易将滤膜上的液态水气化,有效减少液态水在滤膜上凝结对采样精度的影响。另外微波加热的方法不受采样空气流动方向的影响。但是滤膜托网232需要采用不吸收和反射微波的非金属材料制成,以免其他材料制成的滤膜托网232将微波吸收和反射,使得微波不能集中加热滤膜上的液态水,在本实施例中,滤膜托网232采用陶瓷片制成,其中,陶瓷片选用高强度陶瓷片。

在本实施例中采样底座1内壁上,靠近所述磁控管3的位置设置有非金属密封片5。这里的,也要采用非金属密封片5,避免因密封不好而使采样气体泄露,导致测量结果不准确,同时密封片采用非金属材质也是避免对微波的反射和吸收。

在另外的实施例中,采样底座1与所述磁控管3的表面密封连接。这样的设置也能避免采样气体的泄露。

连接磁控管3和滤网托网232的采样底座1的内壁为光滑的金属内壁,在这里,采样底座1的侧壁为金属制成或者采样底座1内侧壁上设置一层金属膜,此时采样底座1的光滑内壁起到波导管的作用,不同口径的波导管有不同的截止频率,小口径的截止频率高,因此只要选取适当的采样底座内径和所用微波频率,就能够保证微波顺利传导和避免微波外泄。在本实施例中,采用的微波的频率为5.8GHZ,对应采样底座1的内径为40mm。

应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

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