本实用新型涉及探测装置，具体公开了一种PCB测试机的异物探测装置。
背景技术：
PCB，中文名称为印刷电路板，是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，是电子元器件电器连接的载体。PCB制作包括以下步骤：开料、钻孔、沉铜、干菲林、图形电镀、蚀刻、蚀检、绿油、白字、表面处理、成型、电测、成品检验、包装入库。
电测通过PCB测试机完成，在电测之前将PCB摆放好，PCB测试机的测试上板向下运动与测试平台匹配，对PCB进行电测，在测试上板的两侧设有与之位于同一水平位置的探测器，探测器用于探测测试上板移动的路径上是否存在异物，确保测试上板在往下运动的过程中，测试上板与测试平台之间无异物阻挡。但两探测器只能探测位于它们之间的空间，无法探测其正下方的空间，且两探测器的运动路径正好位于操作台的正上方，在工人使用操作台时，探测器随测试上板向下运动，工人的手很可能在探测器正下方的运动轨迹上，导致探测器与人手碰撞，使工人受伤，因而存在安全隐患；同时工人正常使用操作台也会被探测为异物，导致电测操作被中止，但事实上，工人正常使用操作台，人手并不在测试上板的移动路径内，这样的设置探测器会给工人操作带来困难。
技术实现要素：
基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种PCB测试机的异物探测装置，改良了探测器的设置方式，即使工人在正常使用操作台也不会影响测试动作的完成、不会使工人受伤，能够有效提高装置的安全性能。
为解决现有技术问题，本实用新型公开一种PCB测试机的异物探测装置，包括机座，机座的一侧设有第一操作台，机座上设有两个支柱和一个测试平台，测试平台位于两个支柱之间，两个支柱上设有上支板，上支板的底面设有测试上板，测试上板位于测试平台的正上方；
上支板两边各设有一探测座，探测座位于靠近第一操作台的一侧，探测座与上支板垂直连接，探测座下部设有探测器，探测器位于上支板的下方。
进一步的，测试平台的厚度为a，测试上板的厚度为b，探测座下部突出于上支板的长度为c，c≤a+b。
进一步的，探测座上设有中空的滑槽口，锁紧螺丝穿过滑槽口连接上支板。
进一步的，探测器为激光探测器。
进一步的，测试平台上设有若干导柱，测试上板底部设有若干导槽，导柱与导槽匹配。
进一步的，支柱顶部设有机箱。
进一步的，机箱底部设有第二操作台。
第一操作台的正上方空置，探测器位于第一操作台正上方的一侧，即探测器的运动路径与第一操作台正上方的空间不重合，上支板带动测试上板往下运动时，探测器探测测试上板的下一个位置的情况，探测是否有异物阻挡，工人在正常使用第一操作台的时候，探测器不会探测到人手，且探测器的运动也不会伤害工人的手。
本实用新型的有益效果为：本实用新型公开一种PCB测试机的异物探测装置，改良了探测器的设置方式，工人在使用操作台的时候，人手也不会被探测器探测到，即工人对操作台正常使用的时候，人手也不会被探测为异物而影响整个测试装置的操作，使测试装置的操作更加方便，同时探测器运动的路径往内缩进，人手几乎不会进入探测器的运动路径内，能够有效防止探测器撞伤人手，整体的安全性能高。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
附图标记为：机座10、第一操作台11、支柱12、测试平台13、导柱131、机箱14、第二操作台15、上支板20、测试上板21、探测座22、滑槽口221、锁紧螺丝222、探测器23。
具体实施方式
为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。
参考图1。
本实用新型实施例公开一种PCB测试机的异物探测装置，包括机座10，机座10的一侧设有第一操作台11，机座11上设有两个支柱12和一个测试平台13，测试平台13位于两个支柱12之间，两个支柱12上设有上支板20，上支板20的底面设有测试上板21，测试上板21位于测试平台13的正上方；上支板20两边各设有一探测座22，探测座22位于靠近第一操作台11的一侧，探测座22与上支板20垂直连接，探测座22下部设有探测器23，探测器23位于上支板20的下方。
第一操作台11正上方的空间空置，没有物体阻挡，探测器23位于第一操作台11正上方的一侧，即探测器23的运动路径与第一操作台11正上方的空间不重合，上支板20带动测试上板21往下运动时，探测器23探测测试上板21所到达的下一个位置的情况，探测是否有异物阻挡，工人在正常使用第一操作台11的时候，探测器23不会探测到人手，且探测器23的运动也不会伤害工人的手。
本实用新型改良了探测器的设置方式，工人对操作台正常使用的时候，人手也不会被探测为异物而影响整个测试装置的操作，使对压合装置的操作更加方便，同时探测器运动的路径往内缩进，人手几乎不会进入探测器的运动路径内，能够有效防止探测器撞伤人手，整体的安全性能高。
基于上述实施例，测试平台13的厚度为a，测试上板21的厚度为b，探测座22下部突出于上支板20的长度为c，c≤a+b，在上支板20在向测试平台13移动的时候，能够有效限制探测座22的移动距离，防止探测座22被压向机座10而发生变形，而损坏探测器23。
为了进一步防止探测器23被压坏，基于上述实施例，探测座22上设有中空的滑槽口221，锁紧螺丝222穿过滑槽口221连接上支板20，松开锁紧螺丝222能够调节探测座22与上支板20的相对位置，从而能够调节探测器23与所述上支板20的相对位置，以达到c≤a+b的需求。
基于上述实施例，探测器23为激光探测器，两个探测器23分别为激光发射器和激光接收器。
基于上述实施例，测试平台13上设有若干导柱131，测试上板21底部设有若干导槽，导柱131与导槽匹配，能够有效控制测试上板21和测试平台13完成对准压合动作，防止造成偏差影响测试。
基于上述实施例，支柱12顶部设有机箱14，机箱14底部设有第二操作台15。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。