1.一种指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件，所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，所述探针模组包含两组探针，所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机，所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触，所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。
2.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述指纹模拟组件连接的第一驱动装置，所述第一驱动装置带动所述指纹模拟组件在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。
3.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括打点头和第二驱动装置，所述第二驱动装置与所述打点头连接，所述第二驱动装置带动所述打点头在垂直于所述承载台所在面的方向上往复运动。
4.根据权利要求3所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括与所述打点头连接的第三驱动装置，所述第三驱动装置带动所述打点头在需要打点的位置以及打点材料提供位置之间运动。
5.根据权利要求3所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹模拟组件位于所述承载台的下方，所述打点头位于所述承载台的上方，所述探针模组位于承载台的上方。
6.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括第四驱动装置，所述第四驱动装置与所述承载台连接，所述第四驱动装置带动所述承载台进行升降运动。
7.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括第五驱动装置，所述第五驱动装置与所述承载台连接，所述第五驱动装置带动所述承载台在上料方向、下料方向，和/或，测试步进方向上运动。
8.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述承载台上包括用于对所承载的芯片基板进行定位的定位装置以及用于压紧所承载的芯片基板的压紧装置。
9.根据权利要求1至8中任一所述的指纹识别芯片测试设备，其特征在于，所述指纹识别芯片测试设备还包括控制系统，所述控制系统与所述指纹模拟组件以及所述承载台上的指纹识别芯片电性连接，所述控制系统在所述承载台上待测试的指纹识别芯片测试结果为不良品时，存储所述不良品的标识或在芯片基板上的位置，所述指纹识别芯片的标识用于唯一标识指纹识别芯片。