技术总结
本实用新型涉及一种指纹识别芯片测试设备，属于集成电路测试领域。该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件。该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头，至少包含两组探针用于连接指纹识别芯片和测试机的探针模组，芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片，指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与承载台上的同数量的指纹识别芯片底部一一相对接触，探针模组的至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。本实用新型生产过程中通过电机带动指纹识别芯片基板逐列进行测试，每次同时测试多颗，大大提高了指纹识别芯片测试效率。
技术研发人员：刘三利;王露露;张佳佳;潘杰;李文斌
受保护的技术使用者：中科芯集成电路股份有限公司
文档号码：201721087525
技术研发日：2017.08.29
技术公布日：2018.02.27