跌落测试设备和跌落测试方法与流程

本发明涉及终端技术领域，尤其涉及一种跌落测试设备和跌落测试方法。

背景技术：

在终端的制造过程中，其可靠性测试是产品测试中的重要一环，其中可靠性标准中的一项重要考核标准是跌落测试。

相关技术中的跌落测试设备在固定位置有传感器，检测到样品终端，然后释放，由于跌落测试设备的吸气断气会有延时，使样品终端从施放位置到跌落至地面的速度不一定是需求的速度，可能会造成跌落测试结果的随机性，跌落测试效果不佳。

技术实现要素：

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的目的在于提出一种跌落测试设备和跌落测试方法，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出的跌落测试设备，包括：拖动模块、释放模块，以及吸附模块，还包括：与所述释放模块相连接的传感器模块，所述传感器模块用于对所述释放模块的自由落体运动进行检测；分别与所述吸附模块和所述传感器相连的控制模块，所述控制模块用于在所述传感器模块检测到所述自由落体运动，且所述自由落体运动满足预设条件时，触发对所述吸附模块进行断气控制。

本发明第一方面实施例提出的跌落测试设备，跌落测试设备，包括与释放模块相连接的传感器模块，传感器模块用于对释放模块的自由落体运动进行检测，分别与吸附模块和传感器相连的控制模块，控制模块用于在传感器模块检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块进行断气控制，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出的跌落测试方法，所述跌落测试设备包括：拖动模块、释放模块，以及吸附模块，包括：对所述释放模块的自由落体运动进行检测；在检测到所述自由落体运动，且所述自由落体运动满足预设条件时，触发对所述吸附模块进行断气控制。

本发明第二方面实施例提出的跌落测试方法，通过对所述释放模块的自由落体运动进行检测；在检测到所述自由落体运动，且所述自由落体运动满足预设条件时，触发对所述吸附模块进行断气控制，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明一实施例提出的跌落测试设备的结构示意图；

图2是本发明另一实施例提出的跌落测试设备的结构示意图；

图3是本发明一实施例提出的跌落测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。相反，本发明的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。

图1是本发明一实施例提出的跌落测试设备的结构示意图。

在终端的制造过程中，其可靠性测试是产品测试中的重要一环，其中可靠性标准中的一项重要考核标准是跌落测试。相关技术中的跌落测试设备在固定位置有传感器，检测到样品终端，然后释放，由于跌落测试设备的吸气断气会有延时，使样品终端从施放位置到跌落至地面的速度不一定是需求的速度，可能会造成跌落测试结果的随机性，跌落测试效果不佳。

为了解决上述技术问题，本发明实施例中提供一种跌落测试设备，包括与释放模块相连接的传感器模块，传感器模块用于对释放模块的自由落体运动进行检测，分别与吸附模块和传感器相连的控制模块，控制模块用于在传感器模块检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块进行断气控制，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

参见图1，该跌落测试设备10包括：拖动模块101、释放模块102，以及吸附模块103，其特征在于，还包括：

与释放模块102相连接的传感器模块104，传感器模块104用于对释放模块102的自由落体运动进行检测。

分别与吸附模块103和传感器相连的控制模块105，控制模块105用于在传感器模块104检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块103进行断气控制。

其中的预设条件是预先设定的，可以根据实际的跌落测试需求进行动态设定，或者，也可以由跌落测试设备10的出厂程序预先设定，对此不作限制。

本发明实施例考量了跌落测试设备10的实际应用，在跌落测试设备10的减震机构上端的一定的高度位置处安装传感器模块104，并设置传感器模块104与释放模块102相连接，可以感应到样品终端的释放。由于样品终端在施放时，吸附模块103有延时，样品终端有可能碰撞减震装置，为防止此情况出现可以预留足够的位置，可以将样品终端提前释放，防止样品终端撞到减震装置影响样品终端测试结果。

因此，本发明实施例中可以针对释放模块102的自由落体运动预留一定的位置，例如，1米类型的跌落测试，可以预留高度值为h1，从而，1.5米类型的跌落测试时，由于速度更快，可以设置预留高度值h2，h2＞h1，本发明实施例中为了便于管理，设置成h2。

本发明实施例中还考虑到，由于样品终端通过吸盘与释放模块102贴合，样品终端提前释放角度会有一定的偏转，导致样品终端跌落至地面时与需求速度不一致，带来测试时样品终端随机性增大，影响实验结果。因此，本发明实施例中的样品终端在满足不撞到减震装置上，h设置越小越好。

本发明实施例中为了基于上述针对释放模块102的自由落体运动预留的一定的位置，在实际的跌落测试过程中，可以基于与释放模块102相连接的传感器模块104，对释放模块102的自由落体运动进行检测，在传感器模块104检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块103进行断气控制，以释放样品终端进行跌落检测，即，在释放模块102的自由落体运动补偿了上述预留的一定的位置时，才触发对吸附模块103进行断气控制，以释放样品终端进行跌落检测，因此，从技术上有效降低检测随机性。

本发明实施例中，针对不同类型的跌落检测，可以设置不同的预留高度值，例如，1米类型的跌落测试，可以预留高度值为h1，从而，1.5米类型的跌落测试时，由于速度更快，可以设置预留高度值h2，h2＞h1，本发明实施例中为了便于管理，设置成h2。

因此，针对跌落测试设备10，针对不同的预留高度值，对应用于进行自由落体运动是否满足预设条件的判断的阈值不相同，参见图2，本发明实施例中还可以在与控制模块105相连接的操作面板106内置有存储模块107，控制模块105与存储模块107相连接，并在该存储模块107中存储测试数据，测试数据包括：对样品终端所进行的测试的类型(例如，1米类型的跌落测试，或者1.5米类型的跌落测试)，以及与每种类型对应的阈值(该阈值用于进行自由落体运动是否满足预设条件的判断，针对不同的类型，对应的阈值不同)。

本发明实施例中，控制模块105，还用于在启动跌落测试设备10进行跌落测试时，确定当前所进行的测试的目标类型，并从存储模块107中读取与目标类型对应的阈值并作为目标阈值，其中，采用目标阈值进行自由落体运动是否满足预设条件的判断。

其中，当前所进行的跌落测试的类型可以被称为目标类型，假设目标类型为1米类型的跌落测试，与该1米类型的跌落测试对应的阈值可以被称为目标阈值，采用该目标阈值进行基于1米类型的跌落测试时自由落体运动是否满足预设条件的判断。

通过针对不同的测试类型设置不同的阈值，能够有效保障跌落测试精准度，进一步保障跌落测试的一致性，使得跌落测试更符合实际应用场景的个性化需求。

可选地，一些实施例中，目标阈值包括：目标时间阈值，参见图2，设备还包括：与控制模块105相连接的定时模块108，在传感器模块104检测到自由落体运动的同时，控制模块105启动定时模块108进行计时，并实时地采集定时模块108计时得到的时间值；控制模块105，在确定时间值等于目标时间阈值时，确定自由落体运动满足预设条件。

本发明实施例在具体执行的过程中，上述的目标时间阈值可以是基于当前所进行的跌落测试的类型对应的预留高度值计算得出，例如，当前所进行的跌落测试的类型为1米类型的跌落测试，而1米类型的跌落测试对应的预留高度值为h1，则可以预先根据h1，以及重力加速度计算得出一个时间值并作为目标时间阈值。

可选地，一些实施例中，目标阈值包括：目标高度阈值，参见图2，设备还包括：与控制模块105相连接的高度检测模块109，在传感器模块104检测到自由落体运动的同时，控制模块105启动高度检测模块109，并实时地采集高度检测模块109所探测到的释放模块102的降落高度值；控制模块105，在确定降落高度值等于目标高度阈值时，确定自由落体运动满足预设条件。

本发明实施例在具体执行的过程中，可以直接将当前所进行的跌落测试的类型对应的预留高度值作为目标高度阈值。

上述给出了针对跌落测试设备10设置不同的预留高度值时如何判定自由落体运动是否满足预设条件的实施方式，因此，本发明实施例技术上简单易实现，不会耗费较多的制造成本即可有效提升测试效果，减少样品终端的随机性，满足跌落测试要求，减少试验的随机性。

本实施例中，跌落测试设备，包括与释放模块相连接的传感器模块，传感器模块用于对释放模块的自由落体运动进行检测，分别与吸附模块和传感器相连的控制模块，控制模块用于在传感器模块检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块进行断气控制，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

图3是本发明一实施例提出的跌落测试方法的流程示意图。

应用于跌落测试设备中，跌落测试设备包括：拖动模块、释放模块，以及吸附模块。

参见图3，该方法包括：

s301：对释放模块的自由落体运动进行检测。

s302：在检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块进行断气控制。

可选地，一些实施例中，还包括：

存储测试数据，测试数据包括：对样品终端所进行的测试的类型，以及与每种类型对应的阈值。

可选地，一些实施例中，其中，

在启动跌落测试设备进行跌落测试时，确定当前所进行的测试的目标类型；

读取与目标类型对应的阈值并作为目标阈值，其中，采用目标阈值进行自由落体运动是否满足预设条件的判断。

可选地，一些实施例中，目标阈值包括：目标时间阈值，方法还包括：

在检测到自由落体运动的同时，实时地计时得到的时间值；

在确定时间值等于目标时间阈值时，确定自由落体运动满足预设条件。

可选地，一些实施例中，目标阈值包括：目标高度阈值，方法还包括：

在检测到自由落体运动的同时，实时地探测释放模块的降落高度值；

在确定降落高度值等于目标高度阈值时，确定自由落体运动满足预设条件。

需要说明的是，前述图1-图2实施例中对跌落测试设备10实施例的解释说明也适用于该实施例的跌落测试方法，其实现原理类似，此处不再赘述。

本实施例中，通过对释放模块的自由落体运动进行检测；在检测到自由落体运动，且自由落体运动满足预设条件时，触发对吸附模块进行断气控制，由于是设定了一个预设条件，在检测到释放模块的自由落体运动满足该预设条件时，才触发对吸附模块进行断气控制以进行样品终端的跌落检测，能够有效减少跌落测试随机性，提升跌落测试效果。

需要说明的是，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。