本实用新型属于柔性电路板生产制造领域，具体地涉及一种柔性电路板连接器的开短路测试装置。
背景技术：
柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，简称软板或FPC，具有配线密度高、重量轻、厚度薄的特点。主要使用在手机、笔记本电脑、PDA、数码相机、LCM等很多产品。其是为提高空间利用率和产品设计灵活性而设计的。柔性电路板输入或输出信号时，很大一部分需要通过焊接连接器做为电流/信号的输入/输出端口与其他设备进行连接。传统的柔性电路板在连接器焊接后，采用目视检验，细微不良造成连接器开短路不容易被发现，从而导致一些连接器焊接不良品漏检流到客户手中而出现退货和索赔。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种柔性电路板连接器的开短路测试装置用以解决上述的问题。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：一种柔性电路板连接器的开短路测试装置，包括测试架和测试转接电路板，所述测试转接电路板设置在测试架上，所述测试转接电路板上设有探针测试点以及与待测产品的连接器相匹配对接的转接连接器，所述探针测试点的数量与转接连接器的PIN脚数量相对应，并分别通过线路一一电连接，所述测试架上设有与探针测试点的数量相对应的测试探针，所述测试探针分别与探针测试点一一电连接，所述测试探针分别通过探针引线接测试机。
进一步的，所述测试架包括测试架下板和测试架上板，所述测试转接电路板设置在测试架下板上，所述测试架上板设置在测试转接电路板上，所述测试探针设置在测试架上板上。
更进一步的，所述测试架下板的上表面设有多个定位销，所述测试转接电路板上设有与定位销相对应的第一定位孔，测试转接电路板通过第一定位孔与定位销相配合定位设置在测试架下板上。
更进一步的，所述定位销的数量为4个。
更进一步的，所述定位销呈方形的四个顶角分布设置。
进一步的，所述第一定位孔的直径为2.5毫米。
进一步的，所述测试架上板设有与定位销相对应的第二定位孔，测试架上板通过第二定位孔与定位销相配合定位设置在测试转接电路板上。
进一步的，所述测试架上板设有待测产品的让位部，用于避免测试架上板压到待测产品。
更进一步的，所述让位部为贯穿测试架上板的上下表面的让位开口。
进一步的，所述让位部为设置在测试架上板的下表面的让位凹槽。
本实用新型的有益技术效果：
本实用新型可以对柔性电路板焊接后的连接器进行开短路测试，测试精度高，操作简便，效率高，避免了一些连接器焊接不良品漏检流到客户手中而出现退货和索赔的问题，且结构简单，易于实现，成本低。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例的待测产品示意图；
图2为本实用新型具体实施例的测试转接电路板结构示意图；
图3为本实用新型具体实施例的测试架上板结构示意图；
图4为本实用新型具体实施例的测试架下板结构示意图；
图5为本实用新型具体实施例的装配示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1-5所示，一种柔性电路板连接器的开短路测试装置，包括测试架和测试转接电路板3，所述测试转接电路板3设置在测试架上，本具体实施例中，所述测试架包括测试架下板1和测试架上板2，所述测试转接电路板3设置在测试架下板1上，所述测试架上板2设置在测试转接电路板3上。
本具体实施例中，测试架下板1、测试架上板2和测试转接电路板3均为方形板状结构，当然，在其它实施例中，测试架下板1、测试架上板2和测试转接电路板3的形状可以根据实际需要进行设定，此是本领域技术人员可以轻易实现的，不再细说。
本具体实施例中，为了装配简便，所述测试架下板1上表面设有4个定位销11，4个定位销11呈方形的四个顶角分布设置，当然，在其它实施例中，定位销11的数量以及设置方式可以根据实际需要进行选择，此是本领域技术人员可以轻易实现的，不再细说。
所述测试转接电路板3上设有与定位销11相对应的第一定位孔31，测试转接电路板3通过第一定位孔31穿设在定位销11上而定位设置在测试架下板1上且可拆卸。优选的，所述第一定位孔31的直径为2.5毫米，但不限于此。
所述测试架上板2设有与定位销11相对应的第二定位孔21，测试架上板2通过第二定位孔21插设在定位销11上而定位设置在测试转接电路板3上且可拆卸，本具体实施例中，第二定位孔21的直径为2.5毫米。
当然，在其它实施例中，测试架下板1、测试架上板2和测试转接电路板3也可以采用现有的其它定位结构进行定位设置，此是本领域技术人员可以轻易实现的，不再细说。
所述测试转接电路板3的上表面设有探针测试点33以及与待测产品4的连接器41相匹配对接的转接连接器32，所述探针测试点33的数量与转接连接器32的PIN脚数量相对应，并分别通过线路34一一电连接，本具体实施例中，待测样品4的连接器41的数量为2个，当然，在其它实施例中，待测样品4的连接器41的数量可以是任意的，相应的，转接连接器32的数量为2个，所有的探针测试点33均设置在测试转接电路板3的同一侧，2个转接连接器32设置在测试转接电路板3的另一侧。探针测试点33可由测试转接电路板3的导电层刻蚀形成。
所述测试架上板2设有与探针测试点33的数量相对应的测试探针22，测试探针22穿设在测试架上板2上，测试探针22的下端伸出测试架上板2的下表面并分别与探针测试点33一一电连接，所述测试探针22的上端伸出测试架上板2的上表面并分别通过探针引线(图中未示出)接测试机。
进一步的，所述测试架上板2设有待测产品1的让位部，用于避免测试架上板2压到待测产品1。本具体实施例中，所述让位部为贯穿测试架上板2的上下表面的让位开口23，本实施例中，让位开口23为方形结构，当然，在其它实施例中，让位开口23的形状可以根据待测产品4的形状进行选择。
当然，在其它实施例中，所述让位部也可以是设置在测试架上板2的下表面的让位凹槽等，此是本领域技术人员可以轻易实现的，不再细说。
要测试时，先将待测样品4通过其连接器41对接在测试转接电路板3的转接连接器32上而使待测样品4固定在测试转接电路板3的上表面，如图5所示，则测试转接电路板3的探针测试点33分别与待测样品4的连接器41的PIN脚一一电连接，接着，将测试转接电路板3通过第一定位孔31穿设在定位销11上而定位设置在测试架下板1上，然后，将测试架上板2通过第二定位孔21插设在定位销11上而定位设置在测试转接电路板3上，测试探针22分别与探针测试点33一一电连接，最后，将测试探针22分别通过探针引线接测试机，就可以由测试机进行待测样品4的连接器41的开短路测试。测试精度高，操作简便，效率高，避免了一些连接器焊接不良品漏检流到客户手中而出现退货和索赔的问题，且结构简单，易于实现，成本低。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。