一种霍尔元件测试装置的制作方法

本实用新型属于霍尔测试领域，尤其涉及一种霍尔元件测试装置。

背景技术：

现有测试霍尔元件的测试装置，大多采用大型稳压电源用来提供稳定的磁场，这类测试装置对磁场电源要求极高，否则会造成磁场不稳定从而导致测试误差，而高质量的电磁场电源需大量稳压、滤波及补偿电路，其结构复杂、体积笨重以及不方便移动，造成测试不便，且价格昂贵，检测成本较高。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种霍尔元件测试装置，旨在解决现有的霍尔元件测试装置体积较大、结构复杂以及不方便移动，造成测试的不便；且需大型电源提供磁场，所需检测成本较高的问题。

本实用新型是这样实现的，一种霍尔元件测试装置，包括工作台，所述工作台上设有第一测试机构、第二测试机构、放置座以及指示灯，所述第一测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第一支撑板，所述第一支撑板上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板，所述固定板上设有第一探针，所述第二测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第二支撑板，所述第一支撑板在所述第二支撑板一侧，所述第二支撑板上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板，所述连接板上设有第二探针，所述放置座位于所述连接板下方，所述第二支撑板另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。

本实用新型的进一步技术方案是：所述第一升降机构包括第一肘夹，所述第一肘夹上端通过第一固定件固定在所述第一支撑板上，所述第一肘夹下端设有第一移动杆，所述第一移动杆另一端设有第一压块，所述第一压块下方设有连接块，所述第一压块通过连接杆与所述连接块连接。

本实用新型的进一步技术方案是：所述连接块设有上下通透的凹槽，所述连接块下端与所述固定板连接，所述凹槽位于所述连接块正上方。

本实用新型的进一步技术方案是：所述第二升降机构包括包括第二肘夹，所述第二肘夹上端通过第二固定件固定在所述第二支撑板上，所述第二肘夹下端设有第二移动杆，所述第二移动杆另一端设有第二压块，所述连接板设置在所述第二压块下方。

本实用新型的进一步技术方案是：所述检测机构包括探测棒，所述探测棒靠近所述第二测试机构的一端设有磁铁。

本实用新型的进一步技术方案是：所述工作台上设有滑移机构，所述滑移机构包括滑轨以及与所述滑轨适配的滑块，所述探测棒设置在所述滑块上，所述探测棒与所述滑轨垂直设置。

本实用新型的进一步技术方案是：所述工作台上还设有第一挡块、第二挡块以及设置在所述固定板下方的第三挡块，所述第一挡块、第二挡块及第三挡块均设置在所述第一支撑板前方，所述第一挡块与所述第二挡块平行设置，所述第一挡块与所述第二挡块均与所述第三挡块垂直设置。

本实用新型的进一步技术方案是：所述工作台两侧均设有通孔。

本实用新型的有益效果是：本实用新型提供的霍尔元件测试装置，体积小，结构简单，方便移动，测试方便；无需大型电源提供磁场，降低了检测成本。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的霍尔元件测试装置的结构示意图；

图中各部件名称如下：

1-工作台；2-第一测试机构；3-第二测试机构；4-放置座；5-指示灯；201-第一支撑板；202-固定板；203-第一探针；31-第二支撑板；32-连接板；33-第二探针；6-第一肘夹；7-第一固定件；8-第一移动杆；9-第一压块；10连接块；11-连接杆；12-凹槽；13-第二肘夹；14-第二固定件；15-第二移动杆；16-第二压块；17-探测棒；18-磁铁；19-滑轨；20-滑块；21-第一挡块；22-第二挡块；23-第三挡块；24-通孔。

具体实施方式

结合上述附图说明本实用新型的具体实施例。

本实施例中的一种霍尔元件测试装置，包括工作台1，所述工作台1上设有第一测试机构2、第二测试机构3、放置座4以及指示灯5，所述第一测试机构2包括垂直设置在所述工作台1上的第一支撑板201，所述第一支撑板201上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板202，所述固定板202上设有第一探针203，所述第一探针通过导线与连通测试装置（图中未示出）连接，所述第一测试机构2用于检测产品放入后，根据连通测试装置判断是否与该测试装置连通，所述第二测试机构3包括垂直设置在所述工作台1上的第二支撑板31，所述第一支撑板201在所述第二支撑板31一侧，所述第二支撑板31上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板32，所述连接板32上设有第二探针33，所述第二探针33通过导线与指示装置（图中未示出）连接，通过指示装置中的指示灯5的亮与灭来5判断霍尔元件的好坏，所述放置座4位于所述连接板32下方，所述第二支撑板31另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。本实用新型提供的霍尔元件测试装置，体积小，结构简单，方便移动，测试方便；无需大型电源提供磁场，降低了检测成本。

进一步的，所述第一升降机构包括第一肘夹6，所述第一肘夹6上端通过第一固定件7固定在所述第一支撑板201上，所述第一固定件7通过多个螺栓固定在所述第一支撑板201上，所述第一肘夹6下端设有第一移动杆8，所述第一移动杆8另一端设有第一压块9，所述第一压块9下方设有连接块10，所述第一压块9通过连接杆11与所述连接块10连接；所述连接块10设有上下通透的凹槽12，所述连接块10为“凹”型结构，所述连接块10下端与所述固定板202连接，所述凹槽12位于所述连接块10正上方，所述第一探针203上端穿过所述连接块10且位于所述凹槽12内，防止所述第一肘夹6下压时压到所述第一探针203，方便导线与所述第一探针203上端连接，简洁美观。

进一步的，所述第二升降机构包括包括第二肘夹13，所述第二肘夹13上端通过第二固定件14固定在所述第二支撑板31上，所述第二固定件14通过多个螺栓固定在所述第二支撑板31上，所述第二肘夹13下端设有第二移动杆15，所述第二移动杆15另一端设有第二压块16，所述连接板32设置在所述第二压块16下方。

进一步的，所述检测机构包括探测棒17，所述探测棒17靠近所述第二测试机构的一端设有磁铁18，当所需测试产品放置连通之后，将所述探测棒17沿所述滑轨19滑至所述连接板32附近，顺时针旋转至最佳角度45°时，通过所述指示灯5的亮与灭来5判断所需测试产品的好坏，若所述指示灯5由亮变灭，则所需测试的产品功能良好；若所述指示灯5常亮，则所需测试的产品功能不良。

进一步的，所述工作台1上设有滑移机构，所述滑移机构包括滑轨19以及与所述滑轨19适配的滑块20，所述探测棒17设置在所述滑块20上，所述探测棒17与所述滑轨19垂直设置，所述滑移机构便于所述检测机构的移动；所述工作台1上还设有第一挡块21、第二挡块22以及设置在所述固定板202下方的第三挡块23，所述第一挡块21、第二挡块22及第三挡块23均设置在所述第一支撑板201前方，所述第一挡块21、第二挡块22及第三挡块23成“品”字型设置，所述第一挡块21与所述第二挡块22平行设置，所述第一挡块21与所述第二挡块22均与所述第三挡块23垂直设置，所述第一挡块21、第二挡块22以及第三挡块23的设置便于固定所需测试的产品，防止所需测试的产品测试时的滑动。

进一步的，所述工作台1两侧均设有通孔24，该通孔24为环形通孔，便于工作人员将整个测试装置移动到检测位置。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。