屏幕面板偏压芯片测试探针卡的制作方法

本实用新型属于半导体生产技术领域，具体涉及一种屏幕面板偏压芯片测试探针卡。

背景技术：

屏幕面板偏压芯片可分为通用和专用两种，通用芯片一般用在低端屏幕面板，每路最大可输出35mA电流，且不是恒流。一般的IC厂商都可以生产。由于LED是电流特性器件，在饱和导通情况下，其亮度随着电流大小的变化而变化，不是随着其两端电压的变化而变化。因此，专用芯片的一个最大特点是提供恒流源。恒流源可保证LED的稳定驱动，消除LED的闪烁现象。

参见附图的图1，在手机上，屏幕是非常重要的部件之一，屏幕显示的效果，直接影响着用户的直观感受。而屏幕偏压驱动芯片，也是具有影响的其中一个因素。性能好的屏幕偏压驱动芯片，可以使屏幕显示清晰，亮度均匀，没有闪烁等问题，并且高效率的驱动芯片增加手机的待机时间，所以选择一款合适的，性能优异的屏幕偏压驱动芯片是非常重要的。根据LCD屏幕内的LED连接方式，来决定要选择的背光驱动芯片。目前常用的背光驱动芯片有几种:boost DC/DC(inductor)型,charge pump(capacitor)型,Linear型的。我们现在研发的探针卡就是测试charge pump型偏压芯片。由于该类型芯片在使用时有着较宽电压范围，需恒定提供大电流，保证很小的漏电，且升压速度快等特点，所以探针卡的PCB layout和生产加工时同样需要考虑这些重要因素。

该测试方案存在着如下不足：

1.基于各种独立仪表集成，系统通讯开销大，导致测试时间长；

2.需要系统集成和二次开发工作，成本高；

3.因为需要集成各种仪表，安装配置麻烦，可靠性差；

4.受独立仪表资源限制，多工位并行测试困难；

5.测试厂需要引入新的仪表，无法利用现有设备，增加成本。

技术实现要素：

本实用新型针对现有技术的状况，克服上述缺陷，提供一种屏幕面板偏压芯片测试探针卡。

本实用新型采用以下技术方案，所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡用于获取并且共享来自测试机台的现有设备的输入信息，上述测试机台的现有设备包括第一电源通道模块、第二电源通道模块、信号发生模块、DSP计算模块和信号采集模块，其特征在于，所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡包括与待测器件对接的探针、与探针相连的探针座子和至少一个屏幕面板偏压芯片测试模块，各个屏幕面板偏压芯片测试模块直接安装于接口电路板，各个屏幕面板偏压芯片测试模块同时与探针相连，所述屏幕面板偏压芯片测试模块包括：

第一开关K1，所述第一开关K1用于导通或者关断第一电源通道与待测器件之间的通路；

第二开关K2，所述第二开关K2用于导通或者关断第二电源通道与待测器件之间的通路；

第三开关K3，所述第三开关K3用于导通或者关断信号发生模块与待测器件之间的通路；

第四开关K4和测量电路，所述第四开关K4用于导通或者关断信号采集模块与待测器件之间的通路，所述测量电路位于第四开关K4与信号采集模块的一端之间，上述信号采集模块的另一端外接于DSP计算模块。

根据上述技术方案，所述测量电路包括芯片U1，其中：

所述芯片U1的1号脚接于开关S1的固定端，所述开关S1的选择端的第一分支通过电感L1接于芯片U1的8号脚；

所述芯片U1的2号脚同时接于开关S2的一端和开关S3的一端，所述芯片U1的2号脚同时通过电容C6接地；

所述芯片U1的3号脚同时接于开关S4的一端和开关S5的一端，所述芯片U1的3号脚同时通过电容C4和电容C5接地，所述电容C4和电容C5并联；

所述芯片U1的4号脚同时通过电容C7和电容C8接地，所述电容C7和电容C8并联；

所述芯片U1的10号脚通过电容C3与芯片U1的11号脚连通；

所述芯片U1的8号脚同时通过电容C1和电容C2接地，所述电容C1和电容C2并联。

根据上述技术方案，所述探针座子包括环状件，所述环状件位于接口电路板的一侧，各个探针通过点胶层沿环状件的外周缘均匀设置，各个探针的尖端同时指向环状件的中心。

根据上述技术方案，所述探针包括延伸段、收缩段和折弯段，所述延伸段、收缩段和折弯段一体成型，所述延伸段的一侧内接于点胶层，所述延伸段的另一侧与收缩段的一侧相接，所述收缩段的另一侧与折弯段的一侧相接。

本实用新型公开的屏幕面板偏压芯片测试探针卡，其有益效果在于，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的屏幕面板偏压芯片测试模块，以便实现屏幕面板偏压芯片多工位并行测试。

附图说明

图1是现有的屏幕面板偏压芯片传统测试方案的示意图。

图2是本实用新型优选实施例的屏幕面板偏压芯片的整体测试方案示意图。

图3是本实用新型优选实施例的屏幕面板偏压芯片测试模块的结构示意图。

图4是本实用新型优选实施例的屏幕面板偏压芯片测试模块的测量电路的电路原理图。

图5是本实用新型优选实施例的探针座子的结构示意图。

图6是本实用新型优选实施例的探针的结构示意图。

附图标记包括：10-环状件；20-点胶层；100-探针座子；200-探针；201-延伸段；202-收缩段；203-折弯段；300-接口电路板。

具体实施方式

本实用新型公开了一种屏幕面板偏压芯片测试探针卡，下面结合优选实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。

参见附图的图2至图6，图2示出了所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡的整体测试方案，图3示出了所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡的屏幕面板偏压芯片测试模块的模块结构，图4示出了所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡的测量电路的电路结构，图5示出了所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡的探针座子的具体结构，图6示出了所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡的探针的具体结构。

优选地，所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡用于获取并且共享来自测试机台的现有设备的输入信息，上述测试机台的现有设备包括第一电源通道模块、第二电源通道模块、信号发生模块、DSP计算模块和信号采集模块，所述屏幕面板偏压芯片测试探针卡包括与待测器件(例如，屏幕面板偏压芯片，下同)对接的探针200、与探针200相连的探针座子100和至少一个屏幕面板偏压芯片测试模块，各个屏幕面板偏压芯片测试模块直接安装于接口电路板300，各个屏幕面板偏压芯片测试模块同时与探针200相连，所述屏幕面板偏压芯片测试模块包括：

第一开关K1，所述第一开关K1用于导通或者关断第一电源通道与待测器件之间的通路；

第二开关K2，所述第二开关K2用于导通或者关断第二电源通道与待测器件之间的通路；

第三开关K3，所述第三开关K3用于导通或者关断信号发生模块与待测器件之间的通路；

第四开关K4和测量电路，所述第四开关K4用于导通或者关断信号采集模块与待测器件之间的通路，所述测量电路位于第四开关K4与信号采集模块的一端之间，上述信号采集模块的另一端外接于DSP计算模块。

进一步地，所述测量电路包括芯片U1，其中：

所述芯片U1的1号脚接于开关S1的固定端，所述开关S1的选择端的第一分支通过电感L1接于芯片U1的8号脚；

所述芯片U1的2号脚同时接于开关S2的一端和开关S3的一端，所述芯片U1的2号脚同时通过电容C6接地；

所述芯片U1的3号脚同时接于开关S4的一端和开关S5的一端，所述芯片U1的3号脚同时通过电容C4和电容C5接地，所述电容C4和电容C5并联；

所述芯片U1的4号脚同时通过电容C7和电容C8接地，所述电容C7和电容C8并联；

所述芯片U1的10号脚通过电容C3与芯片U1的11号脚连通；

所述芯片U1的8号脚同时通过电容C1和电容C2接地，所述电容C1和电容C2并联。

进一步地，所述探针座子100包括环状件10，所述环状件10位于接口电路板200的一侧，各个探针200通过点胶层20沿环状件10的外周缘均匀设置，各个探针200的尖端同时指向环状件10的中心。

进一步地，所述探针200包括延伸段201、收缩段202和折弯段203，所述延伸段201、收缩段202和折弯段203一体成型，所述延伸段201的一侧内接于点胶层20，所述延伸段201的另一侧与收缩段202的一侧(直径较大的一侧)相接，所述收缩段202的另一侧(直径较小的一侧)与折弯段203的一侧相接(折弯段203的另一侧即为探针200的上述尖端)。

根据上述优选实施例，本实用新型优选实施例公开的屏幕面板偏压芯片测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的屏幕面板偏压芯片测试模块，以便实现屏幕面板偏压芯片多工位并行测试。

值得一提的是，本实用新型专利申请公开的屏幕面板偏压芯片测试探针卡，其有益效果简述如下。

1.一种新型屏幕面板偏压芯片测试解决方案，可用于屏幕面板偏压芯片晶圆级测试中；

2.利用现有设备代替引入新设备，降低购买和维护成本；

3.通过板载测试模块的方式提高测试并行度和灵活性，降低了测试成本。

对于本领域的技术人员而言，依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围。