一种用于芯片测试的报警系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于芯片测试的报警系统，属于芯片测试技术领域。
【背景技术】
[0002]如今半导体公司设计的品种管芯越来越小，常规“实时打点模式”已经无法实现此类小管芯品种的日常测试，只能采用“测后打点模式”。EG2001X作为主要探针设备，使用年限过久，也存在更多缺陷。比如，测后打点模式下不会出现连续fail报警的监控功能。因此一旦出现误测而没有被及时发现，容易引发品种质量问题，如果无法返工弥补，将面临客户的投诉，甚至索赔。
[0003]有鉴于此，本发明人对此进行研宄，专门开发出一种用于芯片测试的报警系统，本案由此产生。
【实用新型内容】
[0004]为了减少半导体测试过程中误测现象以及减少测试过程中因设备或人员造成测试管芯损伤的数量，本实用新型的提供一种用于芯片测试的报警系统。
[0005]为了实现上述目的，本实用新型的解决方案是:
[0006]一种用于芯片测试的报警系统，包括单片机，以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关和继续测试开关，所述用于芯片测试的报警系统串联在探针台(prober) TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，探针台将相关的动作信号通过光耦隔离电路隔离后输入到单片机，单片机判断为“FAIL”信号还是“PASS”并通过显示电路进行显示。
[0007]作为优选，所述继电器控制电器包括连接在探针台和测试系统主机之间的继电器，以及连接在继电器和单片机之间的三极管，继电器控制电路主要用于控制探针台和测试系统主机通信的中断。
[0008]作为优选，所述光耦隔离电路包括型号为PC817的光親，以及与光耦相连的电阻，探针台发送的测试信号分别经过各自的光耦隔离电路后到达单片机。
[0009]作为优选，所述单片机选择AT89C52系列单片机。
[0010]作为优选，所述拨码开关包括3个档位，至多可以实现8种组合，进而可以实现8种不同规格的报警数值。
[0011]作为优选，所述显示电路包括3个数码显示管，分别用于显示个、十、百的显示值。
[0012]作为优选，所述报警电路包括蜂鸣器，以及与蜂鸣器相连的三极管和电阻，当单片机检测连续多个“FAIL”信号到达拨码开关设置值时，通过报警电路发出报警信号，提示工作人员进行处理。
[0013]作为优选，所述指示电路包括3个发光二极管，分别用于指示报警系统的不同工作状态。
[0014]上述用于芯片测试的报警系统工作原理:首先将所述报警系统串联接入探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，根据要求设置拨码开关的报警数值，然后打开电源开关，等待探针台发送测试信号；当单片机接收到各个信号线发送过来的测试信号后，经过分析处理，如果是“FAIL”信号直接通过数码显示管显示，此时，红色发光二极管亮起；如果是“PASS”信号，数码管显示的数字不叠加，且绿色发光二极管亮起；当单片机连续接收到多个“FAIL”信号，且个数达到拨码开关设置的报警数值时，单片机通过蜂鸣器发出报警信号，提示工作人员进行处理，同时控制继电器打开，使探针台和测试系统主机通信中断，停止测试，处理结束后，按动继续测试开关，报警系统继续测试。
[0015]本实用新型所述的用于芯片测试的报警系统，实现了 EG2001X TTL通信接口测后打点连续废报警功能，弥补了测试过程质量的监控不足，降低了测试的误测率，同时可以减少操作人员的操作压力，降低了芯片扎伤，探针撞坏率。而且整个报警系统结构简单，操作方便，成本低。
[0016]以下结合附图及具体实施例对本实用新型做进一步详细描述。
【附图说明】
[0017]图1为本实施例的用于芯片测试的报警系统电路原理图。
【具体实施方式】
[0018]如图1所示，一种用于芯片测试的报警系统，包括单片机，以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关K1、复位电路、晶振电路和继续测试开关K2，所述报警系统串联在探针台(prober) TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，所述继电器控制电器包括连接在探针台和测试系统主机之间的继电器K8，以及连接在继电器K8和单片机之间的三极管Q1，继电器控制电路主要用于控制探针台和测试系统主机通信的中断。所述报警电路包括蜂鸣器，以及与蜂鸣器相连的三极管Q2和电阻，当单片机检测到连续多个“FAIL”信号，且到达拨码开关Kl设置值时，通过报警电路发出报警信号，提示工作人员进行处理。继电器K8和蜂鸣器使用pnp三极管9012，可以增大驱动能力。
[0019]所述光耦隔离电路包括型号为PC817的光耦，以及与光耦相连的电阻，探针台发送的测试信号分别经过各自的光耦隔离电路后到达单片机。
[0020]所述拨码开关Kl包括3个档位，至多可以实现8种组合，进而可以实现8种不同规格的报警数值。通过拨码来设定不同值来报警，以适应不同品种。
[0021]所述显示电路包括3个数码显示管，分别用于显示个位、十位、百位的显示值，所述指示电路包括3个发光二极管，分别为红色发光二极管D1、绿色发光二极管D2和黄色发光二极管D3，用于指示报警系统的不同工作状态，在本实施例中红色发光二极管Dl表示报警系统接收到“FAIL”信号，绿色发光二极管D2表示报警系统接收到“PASS”信号，黄色发光二极管D3表示报警系统处于测试状态。
[0022]在本实施例中，所述单片机选择型号为AT89C52系列的单片机。
[0023]上述用于芯片测试的报警系统工作原理:首先将报警系统串联接入探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，根据要求设置拨码开关Kl的报警数值，然后打开电源开关K3，等待探针台发送测试信号；当单片机接收到各个信号线发送过来的测试信号后，经过分析处理，如果是“FAIL”信号，则通过数码显示管显示，此时，红色的发光二极管Dl亮起，如果是“PASS”信号，数码管显示的数字不叠加，且绿色发光二极管D2亮起；当单片机连接接收到多个“FAIL”信号，且个数达到拨码开关Kl设置的报警数值时，单片机通过蜂鸣器发出报警信号；提示工作人员进行处理，同时控制继电器K8打开，使探针台和测试系统主机通信中断，停止测试，处理结束后，按动继续测试开关K2，报警系统继续测试。当单片机出现异常时，按动复位开关K4，复位电路进行复位，消除异常。
[0024]上述实施例和图式并非限定本实用新型的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本实用新型的专利范畴。
【主权项】
1.一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:包括单片机，以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关和继续测试开关，所述用于芯片测试的报警系统串联在探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，探针台将相关的动作信号通过光耦隔离电路隔离后输入到单片机，单片机判断为“FAIL”信号还是“PASS”并通过显示电路进行显示。
2.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述继电器控制电器包括连接在探针台和测试系统主机之间的继电器，以及连接在继电器和单片机之间的三极管。
3.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述光耦隔离电路包括型号为PC817的光耦，以及与光耦相连的电阻，探针台发送的测试信号分别经过各自的光耦隔离电路后到达单片机。
4.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述单片机选择AT89C52系列单片机。
5.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述拨码开关包括3个档位。
6.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述显示电路包括3个数码显示管，分别用于显示个、十、百的显示值。
7.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述报警电路包括蜂鸣器，以及与蜂鸣器相连的三极管和电阻。
8.如权利要求1所述的一种用于芯片测试的报警系统，其特征在于:所述指示电路包括3个发光二极管，分别用于指示报警系统的不同工作状态。
【专利摘要】本实用新型公开一种用于芯片测试的报警系统，包括单片机，以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关和继续测试开关，所述用于芯片测试的报警系统串联在探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间，探针台将相关的动作信号通过光耦隔离电路隔离后输入到单片机，单片机判断为“FAIL”信号还是“PASS”并通过显示电路进行显示。本实用新型所述的用于芯片测试的报警系统，实现了EG2001X TTL通信接口测后打点连续废报警功能，弥补了测试过程质量的监控不足，降低了测试的误测率，降低了芯片扎伤，探针撞坏率。而且整个报警系统结构简单，操作方便，成本低。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN204462322
【申请号】CN201520041407
【发明人】陆海, 朱纪伟, 姜方友
【申请人】华越微电子有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年1月21日