一种半导体混合式生产用物理效应测试设备的制作方法

本实用新型涉及机械技术领域，具体为一种半导体混合式生产用物理效应测试设备。

背景技术：

半导体的物理效应中，余晖效应便是其中之一，而余晖效应时入射光引起的半导体发光现象，而发光二极管则是电场引起的半导体发光现象，在正向偏压的作用下，p-n结势垒降低，势垒区内建电场也相应减弱，载流子也会在正向偏压下扩散，随之n区半导体区内的多数载流子电子扩散到p区半导体区内，同时p型半导体区内多数载流子空穴扩散至n型半导体区，这些注入到p区的载流子电子和注入到n区的载流子空穴都是非平衡的少数载流子，非平衡的少数载流子不断与多数载流子复合而发光，于此相应的检测设备营运而生，但是传统的检测设备结构单一，无法同时对多组发光二极管进行检测，而且需要人工手持对发光二极管进行手持通电检测，费时费力且易对检测人员造成不必要的损伤，鉴于此，我们提出一种半导体混合式生产用物理效应测试设备。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种半导体混合式生产用物理效应测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种半导体混合式生产用物理效应测试设备，包括检测台，所述检测台上设有放置板，所述放置板的外侧设有固定机构；

所述检测台上设有四个呈矩阵式排列的衔接柱，所述衔接柱上开设有凹槽，所述衔接柱的侧壁上开设有圆孔，所述检测台的一侧紧密焊接有凸起，所述凸起上开设有通孔，所述通孔的孔壁上开设有环形槽，所述凸起内贯穿设有螺杆，所述螺杆上紧密焊接有环形凸起，所述环形凸起嵌设于环形槽内，所述螺杆的底端紧密焊接有握柄；

所述放置板的两侧壁上均紧密焊接有两个凸块，所述凸块嵌设于凹槽内，所述放置板上开设有三对插孔，所述放置板的一侧开设有螺纹孔，所述螺纹孔与通孔之间位置对应；

所述固定机构包括两个夹持板，所述夹持板上开设有三个弧形槽，所述弧形槽的槽壁上紧密粘接有橡胶垫，所述夹持板的两侧靠近底端位置均紧密焊接有凸杆，所述凸杆嵌设于圆孔内，所述凸杆上设有扭力弹簧。

优选的，所述衔接柱与检测台之间紧密焊接。

优选的，所述螺杆与螺纹孔之间螺纹连接。

优选的，所述环形凸起的外环直径大于通孔的孔径。

优选的，所述握柄位于通孔的下方且握柄的尺寸大于通孔的孔径。

优选的，所述夹持板呈L形，两个所述夹持板中水平段的距离之和等于两个衔接柱之间的间距。

优选的，所述弧形槽呈半圆形，所述弧形槽正对每对插孔的中点处。

优选的，所述扭力弹簧的两端分别与凸杆以及圆孔的孔壁之间紧密粘接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、本实用新型通过在该设备上安装的衔接柱和固定机构，从而可实现将待检测的发光二极管进行夹持固定的效果，避免了检测过程中发光二极管松动甚至脱离的情况发生；

2、本实用新型通过在该设备上安装的衔接柱和放置板，从而可实现同时将多组半导体发光二极管整齐放置的效果，避免了传统检测中人工手持进行检测的情况发生。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中检测台的结构示意图；

图3为本实用新型中图2中A处的放大图；

图4为本实用新型中螺杆的结构示意图；

图5为本实用新型中放置板的结构示意图；

图6为本实用新型中固定机构的结构示意图。

图中：检测台1、衔接柱11、凹槽111、圆孔112、凸起12、通孔121、环形槽122、螺杆13、环形凸起131、握柄132、放置板2、凸块21、插孔22、螺纹孔23、固定机构3、夹持板31、弧形槽32、橡胶垫33、凸杆34、扭力弹簧35。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：

一种半导体混合式生产用物理效应测试设备，如图1所示，包括检测台1，检测台1上设有放置板2，放置板2的外侧设有固定机构3。

如图2-4所示，检测台1上紧密焊接有四个呈矩阵式排列的衔接柱11，衔接柱11上开设有凹槽111，衔接柱11的侧壁上开设有圆孔112，检测台1的一侧紧密焊接有凸起12，凸起12上开设有通孔121，通孔121的孔壁上开设有环形槽122，凸起12内贯穿设有螺杆13，螺杆13上紧密焊接有环形凸起131，环形凸起131嵌设于环形槽122内，螺杆13的底端紧密焊接有握柄132。

本实施例中，螺杆13与螺纹孔23之间螺纹连接，从而可通过旋转螺杆13带动放置板2进行上下移动的效果。

本实施例中，环形凸起131的外环直径大于通孔121的孔径，从而可避免螺杆13脱离检测台1的情况发生。

本实施例中，握柄132位于通孔121的下方且握柄132的尺寸大于通孔121的孔径，实现了方便人工旋动螺杆13的效果，达到便捷调节放置板2高度的效果。

如图5所示，放置板2的两侧壁上均紧密焊接有两个凸块21，凸块21嵌设于凹槽111内，放置板2上开设有三对插孔22，放置板2的一侧开设有螺纹孔23，螺纹孔23与通孔121之间位置对应。

本实施例中，由于凸块21嵌设于凹槽111内，从而放置板2可在四个衔接柱11之间进行上下移动，同时凹槽111的槽壁对凸块21起到了限位的作用，避免了放置板2在移动的过程中发生倾斜的情况。

如图6所示，固定机构3包括两个夹持板31，夹持板31上开设有三个弧形槽32，弧形槽32的槽壁上紧密粘接有橡胶垫33，夹持板31的两侧靠近底端位置均紧密焊接有凸杆34，凸杆34嵌设于圆孔112内，凸杆34上设有扭力弹簧35。

本实施例中，夹持板31呈L形，两个夹持板31中水平段的距离之和等于两个衔接柱11之间的间距，当两个夹持板31的水平段互相接触时，互相对应的弧形槽32的槽口接触形成孔状，实现了对待检测的发光二极管进行夹持固定的效果。

本实施例中，弧形槽32呈半圆形，弧形槽32正对每对插孔22的中点处，从而在将发光二极管进行夹持固定时，可将发光二极管底端的两个接线可顺利贯穿两个插孔22并与检测台1内部电源连接，实现便于测试的效果。

进一步的，由于橡胶垫33自身的特性，从而在将发光二极管进行夹持固定时，避免了夹持过紧而损坏二极管端部的情况发生。

本实施例中，扭力弹簧35的两端分别与凸杆34以及圆孔112的孔壁之间紧密粘接，从而实现了对夹持板31进行转动复位的效果。

本实施例的半导体混合式生产用物理效应测试设备在使用时，首先向两侧掰动夹持板31，两个夹持板31由此张开，与此同时，随着夹持板31的转动凸杆34带动扭力弹簧35扭曲形变，从而产生扭力，随后将待检测的发光二极管的底端两个插线插接进放置板2上的插孔22内，随之可通过转动握柄132从而带动螺杆13的转动，由于螺杆13与螺纹孔23之间螺纹连接，从而带动了放置板2在四个衔接柱11之间移动，进而实现了调节放置板2高度的效果，随后松开两个夹持板31，从而在扭力弹簧35的扭力作用下，两个夹持板31复位闭合，从而实现夹持板31上位置对应的弧形槽32闭合，并且两个互相对称的橡胶垫33将发光二极管夹持固定，随后可启动检测设备对发光二极管进行通电测试，最终实现了同时进行多组测试的效果，且避免了传统测试需要人为固定发光二极管的情况发生。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。