作试样5除工作表面和与半导体晶片冷端接触表面外，其余表面均作绝缘处理，避免发生缝隙腐蚀，散热板6、半导体晶片8和工作试样5之间通过固定螺杆和螺栓7进行固定，实验前及实验过程中通过进气管道4和出气管道9分别将实验气体通入、将尾气排出实验容器I。
[0019]半导体晶片8与控制器连接，通过控制器对半导体晶片8冷端及工作试样5的温度进行控制，半导体晶片8热端所产生的热量通过散热板6进行散热，实验容器I内的水蒸气及其他腐蚀性气体在工作试样的表面冷凝形成冷凝液，对工作试样5造成腐蚀，若需观察工作试样表面的冷凝过程，可在实验容器盖11上开口插入内窥镜进行观察。
[0020]实施例1:
[0021]本实施例主要针对常压实验容器而言，一种冷凝液腐蚀模拟实验装置，由实验容器I和盖体11组成，实验容器I和盖体11均由耐腐蚀性的材料制作；实验容器I内加入实验溶液，在实验容器I的凸缘的凹槽内放入一个密封圈10 ;将实验容器I和盖体进行密封；
[0022]在实验容器盖11上开口，镶嵌台阶状工作试样5，工作试样5的工作表面与盖体11的下表面平齐。工作试样5上表面安装半导体晶片8，工作试样5背面紧贴半导体晶片8的冷极上，散热板6紧贴半导体晶片8的热极上；工作试样5除工作表面和背面外其余表面均作绝缘处理，避免发生缝隙腐蚀。
[0023]散热板6、半导体晶片8和工作试样5之间通过固定螺杆和螺栓7进行固定，实验前及实验过程中通过进气管4和出气管9将实验气体通入和尾气排出实验容器I。
[0024]通过控制器对半导体晶片8冷端及工作试样5的温度进行控制，半导体晶片8热端所产生的热量通过散热板6进行散热；实验容器I内的水蒸气及及其他腐蚀性气体在工作试样的表面冷凝形成冷凝液，对工作试样5造成腐蚀。若需观察工作试样表面的冷凝过程，可在实验容器盖11上开口插入内窥镜进行观察。
[0025]实施例2:
[0026]本例主要针对高温高压釜类的实验容器而言，在釜盖上安装工作试样5，工作试样5上表面安装半导体晶片8，工作试样背面紧贴半导体晶片8的冷极上，散热板6紧贴半导体晶片8的热极上，其它连接方式与常压实验容器相同。
[0027]上述实施例1的大体模拟方法，包括以下步骤:
[0028]向实验容器I内加入实验溶液，在实验容器I的凸缘的凹槽内放入一个密封圈10 ；实验容器I和盖体11通过上下两片固定夹2及固定螺杆和螺栓3进行固定，通过密封圈10进行密封；在盖体11上开口，镶嵌台阶状工作试样5，工作试样5的工作表面与盖体11的下表面平齐，工作试样5表面安装半导体晶片8，工作试样背面紧贴半导体晶片8的冷极区，散热板6紧贴半导体晶片8的热极区；工作试样5除工作表面和背面外，其余表面均作绝缘处理，避免发生缝隙腐蚀；散热板6、半导体晶片8和工作试样5之间通过固定螺杆和螺栓7进行固定，实验前及实验过程中通过进气管道4和出气管道9将实验气体通入和尾气排出实验容器I。
[0029]设定冷凝液的温度，通过控制器对半导体晶片8冷端及工作试样5的温度进行控制，半导体晶片8热端所产生的热量通过散热板6进行散热；实验容器I内的水蒸气及及其他腐蚀性气体在工作试样的表面冷凝形成冷凝液，对工作试样5造成腐蚀。若需观察工作试样表面的冷凝过程，可在实验容器盖11上开口插入内窥镜进行观察。
【主权项】
1.一种冷凝液腐蚀模拟实验装置，其包括实验容器、盖体、进气管道和出气管道，所述实验容器顶部设置有凸缘，所述盖体用于密封所述实验容器，所述实验容器内盛装腐蚀液，所述进气管道、出气管道均伸入所述实验容器内，所述进气管道伸入腐蚀液液面以下，所述出气管道位于腐蚀液液面以上，其特征在于:所述盖体的中部设置有开口，从所述开口处自下而上分别设置有工作试样、半导体晶片和散热板，所述工作试样、半导体晶片和散热器三者之间通过螺杆、螺栓配合固定，所述工作试样为台阶状，所述工作试样的上表面安装所述半导体晶片，所述半导体晶片与控制器连接，所述半导体晶片分为热极区和冷极区，所述工作试样的背面紧贴所述冷极区，所述散热板紧贴所述热极区，所述半导体晶片产生的热量从热极区经散热板散出。
2.根据权利要求1所述的冷凝液腐蚀模拟实验装置，其特征在于:所述凸缘上分布有半圆形凹槽，所述凹槽内填充有密封圈。
3.根据权利要求1所述的冷凝液腐蚀模拟实验装置，其特征在于:所述盖体的上下方分别设置有大于所述盖体面积的固定夹，所述固定夹两端设置有螺杆和与其配合的螺栓，所述盖体和实验容器通过所述螺杆和螺栓连接进行密封。
4.根据权利要求1所述的冷凝液腐蚀模拟实验装置，其特征在于:所述工作试样，除工作表面和与半导体晶片冷极区接触表面外，其它表面均做绝缘处理。
【专利摘要】本发明公开了一种冷凝液模拟实验装置及方法，其包括实验容器、盖体、进气管道和出气管道，在盖体的中部设置有开口，从开口处自下而上分别设置有工作试样、半导体晶片和散热板，工作试样、半导体晶片和散热器三者之间通过螺杆、螺栓配合固定，工作试样为台阶状，在工作试样的上表面安装半导体晶片，半导体晶片与控制器连接，半导体晶片分为热极区和冷极区，工作试样的背面紧贴冷极区，散热板紧贴热极区。通过在工作试样表面设置半导体晶片，通过控制半导体晶片的温度来达到模拟水蒸气及其它腐蚀性挥发性气体冷凝的目的，可准确模拟湿天然气、湿CO2输送管道及其它挥发性腐蚀性气体在管道和设备表面形成冷凝液所导致的腐蚀状况。
【IPC分类】G01N17-00
【公开号】CN104634724
【申请号】CN201510039292
【发明人】蒋秀, 屈定荣, 刘小辉
【申请人】中国石油化工股份有限公司, 中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2015年1月27日