和图7a的读取头14与测试导体27的侧视图。
[0076]在读取头14里面可以集成有信号处理电路30，该信号处理电路在本实施例中以已知的方式实施成半导体芯片。在这个信号处理电路30里面集成有导引测试电流28的测试导体27，该测试导体基于测试电流28可以激励出测试磁场29。因为测试电流28可以以已知的方式馈入到测试导体27里面，因此已知其大小和进而测试磁场29的大小，由此测试装置26可以通过测试电流28执行上述的测试方法并且确定用于出错信号40的储备。
[0077]原则上也能够使信号处理电路30执行上述测试方法。在出错情况下信号处理电路可以代替脉冲信号32或除了脉冲信号32外还输出出错信号40。
[0078]在本实施例中，测量敏感元件19形成在信号处理电路30的钝化层61上，由此使测试导体27可以直接设置在测量敏感元件19下方。
[0079]现在参照图8a和8b，它们相应地示出图1的转速传感器5的读取头14与另选测试导电体27的俯视图和图8a的读取头14与测试导电体27的侧视图。
[0080]在图8中，测量敏感元件19 一起集成在信号处理电路30中。这里测试导体27也可以这样设置在测量敏感元件19旁边，使得磁场29还能被测量敏感元件19检测到。
[0081]因为测量敏感元件19和测试导体27可以与结构无关地在地点上挨得非常近地设置，因此测试磁场29和进而测试电流28可以非常小。
[0082]现在参照图9a和％，它们相应地示出图1的转速传感器5的读取头14与又一另选的测试导电体27的俯视图和图9a的读取头14与测试导电体27的侧视图。
[0083]在图9a和9b中，读取头14被构造成已知的、通过差分场测量转速6的读取头14。测试导体27在这个实施例中U性地敷设在信号处理电路30上，其中各个测量敏感元件19设置在U形的测试导体27的腿部旁。
[0084]在图10中示出用于给图7a至9b的测试导电体27通电的电路56。
[0085]电路56在本实施例中连接在在本实施例中构造成电流源60的电能供应源的供应导线58上。电流源60给出供应电流62，该供应电流为上述读取头14供给电能。电路56也可以另选地连接在通向这个电流源60的回线64上。
[0086]在本实施例中，电路56具有常开触点66，该常开触点使电路56并联在供应导线58上。这个常开触点66可以由测试测量敏感元件19的装置、例如调节器9或信号处理电路30来控制。如果常开触点66闭合，则一部分供应电流62流过测试导电体27作为测试电流28并且因此产生上述的磁场29。
[0087]为了进一步增强测试电流28，在闭合常开触点66以后断开与电路56并联的常闭触点68，由此整个供应电流62作为测试电流28流过测试导电体27。通过这种方式可以用供应电流62建立最大可能的测试磁场29。
[0088]在图11示出电路56的改进方案。
[0089]在图11中，电路56从两个在图11中所示的端子70、72开始。可选地，在此常闭触点65可以选择成属于电路56或者不属于它。
[0090]在图11中，电路具有两个转换开关74，它们通过一公共的控制信号76控制，该控制信号可例如由测试磁阻式测量敏感元件19的装置、例如调节器9或信号处理电路30输出。
[0091]磁阻式测量敏感元件19或者读取头14可以通过每个任意的用于测试电流28的形状来测试，只要这个测试电流28建立测试磁场29。磁阻式测量敏感元件19可以以给定的方式以一错误对于施加的测试磁场29作出反应，这可以在测试时被检验。
【主权项】
1.一种用于检查转速传感器(5)中的辅助磁场(22)的方法，该辅助磁场设置成用于削弱磁阻式测量敏感元件(19)在磁阻式测量敏感元件(19)难轴上的预磁化(57)，其中，所述磁阻式测量敏感元件(19)设置成，使所述磁阻式测量敏感元件的电阻(20)依赖于沿其易轴方向以待检测的转速(6)转动的编码盘(13)而变化，该方法包括: -将测试磁场(29)加载到辅助磁场(22)上，和 -使和磁阻式测量敏感元件(14)的电阻(20)有关的输出信号(31)与描述辅助磁场(22)错误(38，39)的给定条件(38，39)进行对比，并基于该对比检查被加载的辅助磁场(22)。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁阻式测量敏感元件(19)的电阻(20)与编码盘(13)之间的依赖关系具有反向点(59)，从该反向点开始，电阻(20)的与编码盘(13)在难轴方向上的编码器磁场(17)有关的变化与电阻(20)的与在易轴方向上的编码器磁场(17)有关的变化相比改变其符号。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，为了检查辅助磁场(22)，改变测试磁场(29)，直到输出信号(31)满足给定条件(38，39)。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，该方法包括:给出储备值(40)，该储备值描述了辅助磁场(22)相对于磁阻式测量敏感元件(19)的位置，该储备值与在输出信号(31)满足给定条件(38，39)时的测试磁场(22)的大小有关。
5.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在检查辅助磁场(22)期间在磁阻式测量敏感元件(19)上施加沿易轴方向作用的交变磁场(17)，该交变磁场导致周期性的输出信号(31)，其中，所述给定条件(38，39)是周期性输出信号(31)中的频率突变。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述交变磁场是转速传感器(5)的编码盘(13)的编码器磁场(17)ο
7.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括:基于通过测试电导体(27)的电流(28)来激励测试磁场(29)。
8.一种装置(26)，该装置设置用于执行根据上述权利要求中任一项所述的方法。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，该装置包括测试电导体(27)。
10.—种转速传感器(5)、尤其是轮转速传感器，包括:磁编码器(13)，用于激励出与待检测的转速(6)有关的编码器磁场(17);具有磁致伸缩式测量敏感元件(19)的读取头(14)，用于给出与编码器磁场(17)和磁致伸缩式测量敏感元件(19)有关的输出信号(31);激励出辅助磁场(22)的辅助磁体(21)，该辅助磁体影响磁致伸缩式测量敏感元件(19)的灵敏度；和根据权利要求8或9所述的装置(26)。
【专利摘要】本发明涉及一种用于检查在转速传感器(5)中的辅助磁场(22)的方法，该辅助磁场设置成，削弱磁阻式测量敏感元件(19)在磁阻式测量敏感元件(19)难轴上的预磁化(57)，其中，所述磁阻式测量敏感元件(19)设置成，其电阻(20)根据在其易轴方向上以待检测的转速(6)转动的编码盘(13)而变化，该方法包括：将测试磁场(29)加载在辅助磁场(22)上，基于和磁阻式测量敏感元件(14)的电阻(20)有关的输出信号(31)与描述辅助磁场(22)错误(38，39)的给定条件(38，39)的对比，检查被加载的辅助磁场(22)。
【IPC分类】G01P3-488, G01P3-487
【公开号】CN104698215
【申请号】CN201410746471
【发明人】J·埃克里奇, S·布鲁格曼
【申请人】大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2014年12月9日
【公告号】DE102013225316A1, EP2881713A1