向供电探头3a施加电压的同时，利用第二开关15，可以将利用测量装置13的表面电位测量的对象从电线51的第二端子51b切换到电线53的第二端子53b。当测量电线51和53的第二端子51b和53b的表面电位并且两个被测量的第二端子51b和53b的表面电位相同(但不是接地电位)时，检查结果显示，在电线51和53之间，在电线51与53之间或在端子51a、53a、51b与53b之间产生短路，或者导通性检查的对象是其中多个电线连接到所述某一电线的另一端的连接电路。
[0051]图3是其中将由图1所示的测量装置测量的电线的另一端的第二端子的表面电位分成:参考电极板处于接地电位的状态的情况；以及参考电极板基于接地电位浮动的情况、并且基于参考电极板与电线的中间部之间的距离标绘这些情况的图。
[0052]当通过向供电探头3a施加电压而静电带电的电线51的电位由测量装置13基于第二端子51b的表面电位而测量时，例如，如果参考电极板7处于接地电位的状态，则静电的电位成为相对于如上所述沿着电线51的中间部51c放置的参考电极板7的接地电位(OV)的绝对电位。因此，在电线51与电线53之间的浮动电容的影响出现在由测量装置13测量的电线51的第二端子51b的表面电位上，并且稳定地测量与电源单元9施加到供电探头3a的电压大致相同的值。
[0053]另一方面，如果参考电极板7不接地并且是浮动的，充入电线51中的静电的电位由于电线51与电线53之间产生的浮动电容的影响而不规律变化。因此，由测量装置13测量的电线51的第二端子51b的表面电位变成不稳定值。即，如图3的区域A所示，由于参考电极板7的电位不稳定，所以测量的电位是不稳定的。
[0054]即使参考电极板7处于接地电位(OV)的状态，如果参考电极板7与电线51和53的中间部51c和53c之间的距离变为30mm以上，则参考电极板7的存在减弱了电线51的静电电位成为相对接地电位(OV)的绝对电位的程度。因此，由测量装置13测量的电线51的第二端子51b的表面电位变化成比施加到供电探头3a和3b的电压更低的值。即，如图3中的区域B所示，如果参考电极板7与电线51和53之间的距离是长的，则测量的电位是不稳定的。
[0055]如图4中的曲线图所示，不考虑参考电极板7在电线51和53的延伸方向上的尺寸(宽度尺寸)，电线51和53的中间部51c和53c的静电电位变为相对于参考电极板7的接地电位(OV)的绝对电位。即，即使参考电极板7比给定的面积更宽，测量的电位也不变。因此，参考电极板7可以采用符合安装导通性检查装置I的位置空间的适当的宽度尺寸。
[0056]如果利用测量装置13的电线51和53的第二端子51b和53b的表面电位的测量完成，并且停止由电源单元9向供电探头3a和3b施加电压，则释放了电子，并且电子从参考电极板7移动到静电带电的电线51和53的中间部51c和53c，并且从中间部51c和53c通过参考电极板7朝着地面释放电线51和53的静电。因此，在导通性检查之后，在连接器55a和55b从供电侧和检查侧连接器收纳部3和5分离之后，电线51和53不是静电带电的。
[0057]根据实施例的导通性检查装置1，处于接地电位(OV)的参考电极板7沿着作为导通性检查的对象的电线51和53的中间部51c和53c放置，并且由参考电极板7确保在导通性检查之后电线51和53带有的静电的释放路径(正电荷的漏电路径)。
[0058]因此，即使不能由包括具有高内部阻抗的测量装置13的路径来确保静电在导通性检查之后从电线51和53漏出的路径，也能够由从电线51和53的中间部51c和53c通过参考电极板7而延伸的路径来确保静电的漏电路径，并且能够防止电线51和53在导通性检查之后持续积累静电的情况。
[0059]此外，测量装置13能够测量通过向供电探头3a和3b施加电压而使电线51和53带有静电的电位作为相对于参考电极板7的接地电位(OV)的绝对电位。因此，能够精确地测量电线51和53的静电电位，并且能够将测量的电位反映到导通性状态的检查中，而不受到由电线51和53之间的浮动电容引起的串扰的影响。
[0060]虽然在实施例的导通性检查装置I中，参考电极板7接地，并且处于接地电位(OV)的状态，如果参考电极板7的电位低于电线51和53的静电电位，则参考电极板7的电位可能是固定的电位，而不是接地电位(OV)。
[0061]工业适用性
[0062]当进行关于诸如具有连接器的端子连接到的端部的线束的电线的导通性检查时，使用本发明的导通性检查装置是极为有益的。
【主权项】
1.一种导通性检查装置，用于检查电线的导通性状态，该电线具有在一端侧处的第一端子和在另一端侧处的第二端子，该导通性检查装置包括: 第一探头，在非接触状态下，该第一探头与所述第一端子相对； 第二探头，在非接触状态下，该第二探头与所述第二端子相对；以及参考电极板，该参考电极板沿着所述电线的中间部放置，其中电压施加到所述第一探头，并且在所述参考电极板的电位固定到比施加到所述第一探头的电压更低的电位的状态下，通过所述第二探头测量所述第二端子的表面电位，并且基于所述测量的结果检查所述电线的导通性状态。
2.根据权利要求1所述的导通性检查装置，其中 所述参考电极板的电位是接地电位。
3.—种导通性检查装置，用于检查多个电线的导通性状态，所述多个电线各自具有在一端侧处的第一端子以及在另一端侧处的第二端子，该导通性检查装置包括: 多个第一探头，在非接触状态下，该多个第一探头与所述第一端子相对； 多个第二探头，在非接触状态下，该多个第二探头与所述第二端子相对；以及参考电极板，该参考电极板沿着所述多个电线的中间部放置，其中电压施加到所述第一探头中的一个第一探头，并且在所述参考电极板的电位固定到比施加到所述第一探头的电压更低的电位的状态下，通过所述第二探头测量一个所述第二端子的表面电位、或者包括对应于至少一个所述第一探头的所述电线的所述第二端子的一个以上第二端子的表面电位，并且基于所述测量的结果检查所述多个电线的导通性状态。
4.根据权利要求3所述的导通性检查装置，其中 所述参考电极板的电位是接地电位。
【专利摘要】在一种导通性检查装置(1)中，保持在接地电位的参考电极板(7)沿着要检查导通性的电线(51、53)的中间部(51c、53c)安置，并且由参考电极板(7)确保在导通性检查之后在电线(51、53)中建立的用于静电的释放路径(正电荷漏出路径)。从而，避免了在导通性检查之后电线(51、53)积累静电的情况。此外，通过电线(51、53)的端子(51b、53b)的表面电位，利用测量装置(13)测量通过向供电探头(3a、3b)施加电压而在电线(51、53)中建立静电的电位来作为相对于参考电极板(7)的接地电位的绝对电位。从而，精确地测量了电线(51、53)的静电电位，而不被由于在电线(51、53)之间的杂散电容的串音所影响。
【IPC分类】G01R31-02
【公开号】CN104781681
【申请号】CN201380059654
【发明人】间渕实良
【申请人】矢崎总业株式会社
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2013年10月15日
【公告号】DE112013005452T5, US20150241502, WO2014077075A1