图5中所示。随后使用DUT的标称阻抗和针对DUT测试点的S参数两者来计算均衡滤波器。
[0023]当用户已经把所有期望信息输入到显示器312上的用户菜单400中时，该信息被发送到测试和测量仪器300中的处理器312。另外，存储在探针存储器306中的探针的S参数也被发送到测试和测量仪器300中的处理器310。随后处理器使用探针的S参数、由用户提供的DUT的标称阻抗来计算均衡滤波器，以便提供来自DUT的信号的更准确视图。为了提供甚至更准确的视图，如果DUT的S参数被用户经由菜单500加载到测试和测量仪器300中，则处理器还可以使用存储在测试和测量存储器310中的测试和测量仪器300的S参数和DUT的S参数。
[0024]图6图示由处理器310针对各种标称源阻抗值中的每一个创建的各种均衡滤波器。如在图6中可见，均衡滤波器针对标称源阻抗值中的每一个是不同的，这帮助在显示器上向用户创建来自DUT中的受测试电路的信号的更准确的视图。
[0025]图7图示使用由用户输入的标称输入阻抗值在应用均衡滤波器的情况下的输出波形。例如，图6示出针对多个DUT源阻抗值的输入波形700和输出波形702。如图7中可见，针对DUT源阻抗值中的每一个，在应用利用由用户输入的标称DUT阻抗计算的均衡滤波器之后，不同于图2中示出的输出波形，该输出波形几乎与输入波形相同。
[0026]所公开的技术允许用户控制被应用到探针尖端的均衡滤波器。用户可以指定探针尖端处的DUT源参考阻抗，并且然后，由测试和测量仪器基于从探针读取的所测量的S参数来计算均衡滤波器。为了创建甚至更精细的均衡滤波器，可以使用测试和测量仪器的S参数和/或DUT的测试点。虽然上面描述了用于计算均衡滤波器的S参数，但是如本领域技术人员将容易理解的那样，可以使用表征探针、示波器和/或DUT测试点的其它参数，诸如T参数。
[0027]虽然上面说明和描述的实施例示出了在示波器中使用的所公开的技术，但是将意识到的是，本发明的实施例还可以被有利地用在显示频域信号的任何种类的测试和测量仪器中，诸如扫频频谱分析器、信号分析器、矢量信号分析器、实时频谱分析器等。
[0028]在各个实施例中，本发明的部件可以以硬件、软件或这两者的组合实施，且可以包括通用微处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)等。
[0029]已经在所公开技术的优选实施例中描述和说明了所公开技术的原理，应当显而易见，在不脱离这种原理的情况下，所公开技术可以在布置和细节方面被修改。我们要求保护落入所附权利要求的精神和范围内的所有修改和变化。
【主权项】
1.一种测试和测量系统，包括: 测试和测量仪器； 探针，连接到所述测试和测量仪器； 受测试装置，连接到所述探针； 至少一个存储器，被配置为存储用于表征所述探针的参数； 用户界面，被配置为接收所述受测试装置的标称源阻抗；以及处理器，被配置为:接收来自所述存储器的用于表征所述探针的参数和来自所述用户界面的所述受测试装置的标称源阻抗，并使用用于表征所述探针的参数和来自所述用户界面的标称源阻抗来计算均衡滤波器。
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器， 其中所述至少一个存储器还被配置为存储用于表征所述测试和测量仪器的参数；以及所述处理器还被配置为:接收用于表征所述测试和测量仪器的参数并使用用于表征所述测试和测量仪器的参数来计算所述均衡滤波器。
3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中用于表征所述探针的参数是S参数。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中用于表征所述探针的参数是T参数。
5.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中用于表征所述探针和所述测试和测量仪器的参数是S参数。
6.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中用于表征所述探针和所述测试和测量仪器的参数是T参数。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述用户界面被配置为接收标称源实阻抗。
8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述用户界面被配置为接收标称源复阻抗。
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器， 其中所述用户界面还被配置为接收表征所述受测试装置的测试点的参数；以及其中所述处理器还被配置为接收用于表征所述受测试装置的测试点的参数并使用用于表征所述受测试装置的参数来计算均衡滤波器。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述用户界面还被配置为允许用户打开标称均衡视图。
11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述用户界面还被配置为允许用户选择使用探针加载滤波器。
12.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，还包括:显示器装置，被配置为显示由均衡滤波器修改的、表示从所述受测试装置接收的信号的波形。
13.一种用于计算在测试和测量系统中使用的均衡滤波器的方法，包括: 在处理器处接收用于表征测试和测量系统的探针的参数； 在所述处理器处经由用户界面接收受测试装置的标称源阻抗；以及基于用于表征所述探针的参数和受测试装置的标称源阻抗来计算均衡滤波器，所述均衡滤波器被适配为补偿由受测试装置的测量引起的受测试装置的加载。
14.根据权利要求12所述的方法，其中用于表征所述探针的参数是S参数。
15.根据权利要求12所述的方法，其中用于表征所述探针的参数是T参数。
【专利摘要】本发明涉及用于探针均衡的方法。一种测试和测量系统，包括：测试和测量仪器；探针，连接到所述测试和测量仪器；受测试装置，连接到所述探针；至少一个存储器，被配置为存储用于表征探针的参数；用户界面；和处理器。用户界面被配置为接收受测试装置的标称源阻抗。处理器被配置为：接收来自存储器的用于表征探针的参数和来自用户界面的受测试装置的标称源阻抗，并使用用于表征探针的参数和来自用户界面的标称源阻抗来计算均衡滤波器。
【IPC分类】G01R1-067
【公开号】CN104808027
【申请号】CN201510036907
【发明人】J.J.皮克德, W.A.哈格吕普, W.Q.劳
【申请人】特克特朗尼克公司
【公开日】2015年7月29日
【申请日】2015年1月23日
【公告号】EP2905625A2, US20150212185