的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0072]在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0073]应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
[0074]如图1所示，图1是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的流程图，该方法可以用于设备中，包括以下步骤:
[0075]在步骤101中，获取设备中预设标志位的标志值；
[0076]本公开实施例中涉及的设备可以是各种集成了测试功能的终端，例如，智能手机、平板电脑、PDA (Personal Digital Assistant，个人数字助理)、智能灯具、智能空调、智能净化器等。
[0077]预设标志位是在设备中预先指定的一个标志位，该预设标志位的标志值可以用来表示该设备的测试状态。测试状态可以包括测试过状态和未测试过状态，其中，测试过状态表示该设备已经测试过了，未测试过状态表示该设备没有测试过。测试状态也可以包括测试通过状态、测试不通过状态、未测试过状态。测试通过状态表示该设备已经测试过、且测试通过，表明该设备测试正常，可以正常使用，即当测试正常时，进入正常代码模式。测试不通过表示该设备已经测试过、但没有测试通过，表明该设备有故障，需要进一步修复。
[0078]在一个可选的实现方式中，预设标志位可以设在非易失性存储器中。非易失性存储器是在系统重新启动或关机之后仍能保存数据的存储器，即掉电以后，存储在存储器中的数据不会丢失。例如，非易失性存储器可以是MRAM(magnetic random access memory，磁阻随机存取内存)、ReRAM(RRAM) (Resistive random-access memory可变电阻式存储器)、FLASH (Flash Memory，闪存)等。
[0079]在步骤102中，根据标志值确定设备的测试状态；
[0080]由于预设标志位的标志值可以用来表示该设备的测试状态，则可以根据预设标志位的标志值确定设备的测试状态。例如，可以根据预设标志位的标志值与指定值是否一致确定设备的测试状态；若标志值与指定值一致，则可以确定测试状态指定值对应的测试状态，例如，指定值对应的测试状态可以是未测试过状态，指定值对应的测试状态也可以是测试不通过状态。
[0081]在步骤103中，若测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对设备进行测试。
[0082]所述指定测试状态是预先指定的测试状态，例如，指定测试状态可以是未测试过状态、测试不通过状态中的至少一种状态。例如，指定测试状态可以是未测试过状态，即仅在设备未进行过测试时，调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。指定测试状态也可以是测试不通过状态，即仅在设备测试但不通过时，调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。指定测试状态可以是未测试过状态和测试不通过状态，即当设备未进行过测试或测试不通过时，均调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。
[0083]本步骤中，可以在设备内预先设置若干测试程序，用于执行对设备的不同测试。这些测试程序可以是相关技术中已有的各种测试程序，包括出厂测试程序、安全测试程序等。其中，出厂测试并不限定于在厂房里的测试，也可以是实验室等地进行的测试。这些程序会存储在设备中，当需要测试时，设备会调用相应的测试程序进行测试。例如，无论在生产领域还是生活领域，电子设备运用越来越广泛，为了保证电子设备的质量和安全性，在任何一台电子设备出厂之前都会进行出厂测试。针对不同的设备，出厂测试流程不同。例如手机，出厂测试可以包括压力测试、抗摔性测试、高/低温测试、高湿度测试、百格测试、扭矩测试、静电测试、按键寿命测试、沙尘测试等。比如，针对压力测试，可以调用预设的压力测试程序连续对手机拨打1000个电话，检测手机是否发生故障。当出厂测试的所有测试都完成后，则表示该手机已经测试过了，处于测试过状态。需要说明的是，调用预先设置的测试程序对设备进行测试可以参见相关技术中的测试过程，对此本公开实施例不再进行赘述。
[0084]本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据预设标志位的标志值判断设备的测试状态，在设备的测试状态为指定测试状态的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。
[0085]如图2所示，图2是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的流程图，该方法可以用于设备中，包括以下步骤:
[0086]在步骤201中，获取设备中预设标志位的标志值。
[0087]本公开实施例中涉及的设备可以是各种集成了测试功能的终端，例如，智能手机、平板电脑、PDA,智能灯具等。
[0088]预设标志位可以为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，即可以从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。指定地址是事先指定的地址，例如，可以指定一个不常用的地址，在该地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值，所述标志值用来标志该设备的测试状态。
[0089]进一步的，还可以将存储器划分为数据存储区和特征数据存储区，预设标志位设在特征数据存储器的指定位置，从而可以提高获取预设标志位的标志值的效率。
[0090]在一个可选的实现方式中，还可以设置本实施例的触发条件，例如，可以先检测设备是否从断电状态到通电状态；当设备从断电状态到通电状态时，触发执行步骤201。从断电状态到通电状态可以是设备启动的一个过程。检测设备是否从断电状态到通电状态的方法有很多种，例如，可以检测设备的电路是否从无电流到有电流，若是，则表示该设备从断电状态到通电状态。
[0091]上述实施例将获取设备中预设标志位的标志值的触发条件设置为设备刚上电状态，可以实现一上电即对未测试过的设备进行测试，并且避免了实时获取数据导致的资源浪费。
[0092]在步骤202中，判断标志值与预设的指定值是否一致，当标志值与指定值一致时，判定设备的测试状态为未测试过状态，进入步骤203。
[0093]本实施例中，所述指定测试状态为未测试过状态。将标志值与指定值进行比较，当标志值与指定值一致时，则认为设备处于未测试过状态。本步骤中的指定值可以是预先设置的值，也可以是系统默认的值。本步骤中的指定值可以是二进制值、十六进制值，也可以是数据、信息等。判断设备是否测试过可以采用如下方式:
[0094]方式一:通过标志位是否存储内容判断设备的测试状态是否为未测试过状态。
[0095]该方式可以在非易失性存储器内指定一个存储空间，当该存储空间未写入数据时，则判定设备的测试状态为未测试过状态，若设备已写入数据，则判定设备的测试状态为测试过状态。例如，从flash的指定位置读取数据，当读取的数据为OxFF时，则表示该存储空间没有写入数据，判定设备的测试状态为未测试过状态，当读取的数据不是OxFF时，则表示该存储空间已写入数据，则判定设备的测试状态为测试过状态。
[0096]方式二:通过标志位的值与预设值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态。
[0097]该方式可以在非易失性存储器内指定一个存储空间，并在该存储空间事先存储一个预设值。其中，预设值可以是数值、数据等。获取设备中预设标志位的标志值，判断获取到的标志值与预设值是否一致，若一致，则判定设备的测试状态为未测试过状态，若不一致，则判定设备的测试状态为测试过状态。
[0098]在步骤203中，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。
[0099]本步骤中，当设备未进行过测试时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。可以在设备内预先设置若干测试程序，用于执行对设备的不同测试。这些测试程序可以是相关技术中已有的各种测试程序，包括出厂测试程序、安全测试程序等。这些程序存储在设备中，当需要测试时，设备