一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测量装置领域，尤其涉及一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法。
【背景技术】
[0002]目前，高度卡尺及测高尺在工程(平台)测量中只能用来测量制件表面高度位置和划线的功能，即只能在主尺上下(高度)单一方向进行读数测量(假设其为空间Y轴尺寸)，那么在其它的X轴、Z轴均无法进行读数测量，如果要对一些小型数模制件进行坐标尺寸检测/测量，高度卡尺及测高尺是无法进行三维测量的，只能采用三坐标测量仪、关节臂等较大型精密仪器进行测量/检测，测量过程相对比较繁杂。
【发明内容】
[0003]为了解决上述技术问题，本发明旨在提供一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法。
[0004]本发明是通过如下技术方案予以实现的:
[0005]—种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，包括底座、主尺、副尺，所述主尺安装在底座上，主尺上安装有主尺游标，主尺游标上安装有副尺，副尺上设置有读数装置，读数装置上安装有卡装装置，卡装装置上安装有指示表。
[0006]所述副尺通过环扣垂直安装在主尺游标的侧面。
[0007]所述卡装装置垂直安装在读书装置的下方。
[0008]所述卡装装置上设置有转轴。
[0009]所述读数装置为数显式标尺。
[0010]所述主尺游标、读数装置、环扣、防脱环扣，侧面均安装有调节螺栓。
[0011 ]所述指不表为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。
[0012]所述主尺与副尺的端头均设置有防脱环扣。
[0013]其使用方法为:
[0014]a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点；
[0015]b.将所测截线、截面垂直于副尺4的方向缓慢移动制件至所需测量的点
[0016]c.通过微调读数装置401将测量数据精确，读数装置401确测出所测截面、线在X轴方向的测量值，指示表403的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值，主尺游标3测出Y轴方向的测量值。
[0017]本发明的有益效果是:
[0018]与现有技术相比，本发明提供的该装置等同于一台小型的三坐标测量仪，可以测量制件X、Y、Z三个坐标轴方向的坐标，测量精度X轴方向可以达到0.0lmm(该方向能随时随处可归零)八轴方向精度可达0.02mm，Z轴可在任意360°方向达到0.002mm?0.0lrnm(即可用分辨率0.0lmm百分表和0.002mm的千分表测量)，且测量过程比较简单。
【附图说明】
[0019]图1是本发明的结构示意图。
[0020]图中:1-底座，2-主尺，3-主尺游标，4-副尺，5-防脱环扣，6_调节螺栓，7_环扣，401-读书装置，402-卡装装置，403-指示表，404-转轴。
【具体实施方式】
[0021]以下结合附图对本发明的技术方案作进一步说明，但所要求的保护范围并不局限于所述；
[0022]如图所示，本发明提供的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，包括底座1、主尺2、副尺4，所述主尺2安装在底座2上，主尺2上安装有主尺游标3，主尺游标3上安装有副尺4，副尺4上设置有读数装置401，读数装置401上安装有卡装装置402，卡装装置402上安装有指示表403。
[0023]所述副尺4通过环扣7垂直安装在主尺游标3的侧面。通过环扣7可以拆卸副尺4使装置可以单独测量制件的高度。
[0024]所述卡装装置402垂直安装在读书装置401的下方。
[0025]所述卡装装置402上设置有转轴404。通过转轴404指示表可以360°旋转，使装置可以测量多种类型的曲面零件。
[0026]所述读数装置401为数显式标尺。
[°027 ]所述指不表403为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。
[0028]所述主尺2与副尺4的端头均设置有防脱环扣5。
[0029]所述主尺游标3、读数装置401、环扣7、防脱环扣5，侧面均安装有调节螺栓6。
[°03°]其使用方法为:
[0031]a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点；
[0032]b.将所测截线、截面垂直于副尺4的方向缓慢移动制件至所需测量的点；
[0033]c.通过微调读数装置401将测量数据精确，读数装置401确测出所测截面、线在X轴方向的测量值，指示表403的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值，主尺游标3测出Y轴方向的测量值。
【主权项】
1.一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，包括底座(I)、主尺(2)、副尺(4)，其特征在于:所述主尺(2)安装在底座(2)上，主尺(2)上安装有主尺游标(3)，主尺游标(3)上安装有副尺(4)，副尺(4)上设置有读数装置(401)，读数装置(401)上安装有卡装装置(402)，卡装装置(402)上安装有指示表(403)。2.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述副尺(4)通过环扣(7)垂直安装在主尺游标(3)的侧面。3.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述卡装装置(402)垂直安装在读书装置(401)的下方。4.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述卡装装置(402)上设置有转轴(404)。5.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述读数装置(401)为数显式标尺。6.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述指不表(403)为百分表、千分表、杠杆百分表、杠杆千分表中的一种。7.根据权利要求1或所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述主尺(2)与副尺(4)的端头均设置有防脱环扣(5)。8.根据权利要求1或2或3或7所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于:所述主尺游标(3)、读数装置(401)、环扣(7)、防脱环扣(5)，侧面均安装有调节螺栓(6)。9.根据权利要求1所述的一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，其特征在于，其使用方法为: a.先将指示表测头接触制件所需测量曲面截线、面的起始点； b.将所测截线、截面垂直于副尺(4)的方向缓慢移动制件至所需测量的点； c.通过微调读数装置(401)将测量数据精确，读数装置(401)确测出所测截面、线在X轴方向的测量值，指示表(403)的测出所需测量截面、线在Z轴方向的测量值，主尺游标(3)测出Y轴方向的测量值。
【专利摘要】本发明公开了一种制件坐标尺寸的测量装置及其方法，包括底座、主尺、副尺，所述主尺安装在底座上，主尺上安装有主尺游标，主尺游标上安装有副尺，副尺上设置有读数装置，读数装置上安装有卡装装置，卡装装置上安装有指示表。测量装置可以测量制件X、Y、Z三个坐标轴方向的坐标，测量精度X轴方向可以达到0.01㎜(该方向能随时随处可归零)，Y轴方向精度可达0.02㎜，Z轴可在任意360°方向达到0.002㎜～0.01㎜(即可用分辨率0.01㎜百分表和0.002㎜的千分表测量)，且测量过程比较简单。
【IPC分类】G01B5/008
【公开号】CN105627874
【申请号】CN201510952145
【发明人】陈伟
【申请人】贵州安吉航空精密铸造有限责任公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2015年12月17日