测试辅助装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种测试辅助装置，包括：测试板以及转接板，转接板上设置有测试资源选择通道，能够依据待测产品的类型选择需要的测试资源。本发明通过设置独立的转接板，并通过在转接板上设置测试资源选择通道对测试机的测试资源进行选择，解决了相关技术中测试板与测试机之间采用固定的连接方式导致待测产品的产品管脚与测试机的测试资源只有固定的几种搭配方式，从而使测试板只能针对特定类型的产品进行特定项目测试的问题，达到了在有限的测试资源下，使待测产品管脚与测试资源进行自由搭配，对多种类产品进行测试的技术效果。
【专利说明】
测试辅助装置
技术领域
[0001]本发明涉及电子测试设备领域，具体而言，涉及一种测试辅助装置。
【背景技术】
[0002]IT产品，如:静态随机存储器、FLASH存储器、逻辑器件以及电源芯片等在使用前需要进行测试。主要测试这些产品的直流参数如:开路、短路电流，漏电电流、待机电流、电源直流参数、电阻等，以及一些交流参数如:读、写电流。相关技术中，将需要被测试的待测产品安装在测试板上，并通过将测试板与测试机的测试通道连接将测试通道对应的测试资源引入测试板进行连接来测试相关产品，但是，大多数测试机的测试资源有限，但产品种类繁多，而测试板与测试机的测试通道之间的连接方式是固定的，这样导致待测产品的产品管脚与测试机的测试资源的搭配具有很大的局限性，从而使测试板只能测试特定类型的产品，然而，大多数测试资源有限，但产品种类繁多，相关的测试板已经无法满足多种类产品的测试的要求。
[0003]针对现有技术中存在的由于测试板与测试机之间由于连接方式固定导致的无法对多种类产品进行测试的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
【发明内容】
[0004]本发明实施例提供了一种测试辅助装置，以至少解决相关技术中存在的由于测试板与测试机之间由于连接方式固定导致的无法对多种类产品进行测试的技术问题。
[0005]根据本发明实施例的一个方面，提供了一种测试辅助装置，包括:测试板，设置有用于与待测产品连接的第一端口 ；以及转接板，设置有测试资源选择通道，用于依据所述待测产品的类型并通过所述测试资源选择通道选择测试资源，其中，所述测试资源选择通道包括用于与所述测试板连接的第二端口和用于与测试机连接的第三端口，所述第一端口通过所述第二端口与所述测试资源选择通道连接。
[0006]可选地，所述测试资源选择通道包括:多个测试资源选择单元，每个所述测试资源选择单元分别与一个所述第二端口和一个所述第三端口连接。
[0007]可选地，所述第一端口内设置有多个用于与所述待测产品连接的第一管脚，所述第二端口内设置有多个用于与所述第一管脚连接的第二管脚，所述第三端口内设置有多个与所述测试机连接的第三管脚。
[0008]可选地，所述测试辅助装置还包括开关器件，所述测试资源选择单元包括:第一连接点，其中，所述第一连接点的数量为多个，多个所述第一连接点按列布置，每列所述第一连接点之间相互连接且连接到所述第二端口内的其中一个所述第二管脚上；以及第二连接点，其中，所述第二连接点的数量为多个，多个所述第二连接点按行布置，并且，多列所述第一连接点与多行所述第二连接点呈矩阵式交错布置，每行所述第二连接点之间相互连接且连接到所述第三端口内的其中一个所述第三管脚上，每个所述第一连接点与相邻一侧的一个所述第二连接点之间通过所述开关器件连接。
[0009]可选地，所述转接板包括:上层板，其中，多个所述第一连接点设置在所述上层板上；以及下层板，其中，多个所述第二连接点设置在所述下层板上。
[0010]可选地，所述上层板包括:过孔，设置在每个所述第二连接点在所述上层板的正投影位置处；以及连接导体，设置在所述过孔中，其中，所述开关器件的一端直接与所述第一连接点连接，所述开关器件的另一端通过所述连接导体与所述第二连接点连接。
[0011]可选地，所述开关器件包括:多个拨码开关，每个所述拨码开关分别将多个所述第一连接点和相邻一侧的多个所述第二连接点连接在一起。
[0012]可选地，所述测试资源选择通道还包括电源端口，所述测试资源选择单元包括:电源端子，其中，所述电源端子的数量为多个，多个所述电源端子呈直线布置在所述测试资源选择单元的一边，每个所述电源端子的一端与所述电源端口连接，每个所述电源端子的另一端通过一个所述开关器件与一列所述第一连接点连接；接地端子，其中，所述接地端子的数量为多个，多个所述接地端子呈直线布置在所述测试资源选择单元另一边，每个所述接地端子的一端与所述电源端口连接，每个所述电源端子的另一端通过一个所述开关器件与一列所述第一连接点连接。
[0013]可选地，所述测试板上设置有与所述第一端口连接的第四端口，所述第一端口通过所述第四端口与所述第二端口连接。
[0014]可选地，所述第四端口与所述第二端口之间采用排线连接，所述排线包括同轴线缆。
[0015]可选地，所述测试板上设置有与所述第一端口连接的信号检测端口，其中所述信号检测端口为多个，每个所述信号检测端口具有与外部检测设备相匹配的连接头。
[0016]本发明实施例通过设置独立的转接板，并通过在转接板上设置测试资源选择通道对测试机的测试资源进行选择，解决了相关技术中测试板与测试机之间采用固定的连接方式导致待测产品的产品管脚与测试机的测试资源只有固定的几种搭配方式，从而使测试板只能针对特定类型的产品进行特定项目测试的问题，达到了在有限的测试资源下，使待测产品管脚与测试资源进行自由搭配，对多种类产品进行测试的技术效果。
【附图说明】
[0017]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0018]图1是根据本发明实施例可选的一种测试辅助装置结构图；
[0019]图2是根据本发明实施例可选的一种转接板结构示意图；
[0020]图3是根据本发明实施例可选的一种测试板结构示意图；
[0021]图4是根据本发明实施例可选的一种测试资源选择单元结构示意图；
[0022]图5是根据本发明实施例可选的一种拨码开关结构示意图；
[0023]图6是根据本发明实施例可选的转接板局部结构示意图。
【具体实施方式】
[0024]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
[0025]图1是根据本发明实施例可选的一种测试辅助装置结构图。
[0026]如图1所示，本发明实施例的测试辅助装置包括测试板I和转接板2，测试板I的中心设置有与待测产品连接的第一端口 11，待测产品通过其引脚连接到第一端口 11的管脚内；转接板2上设置有测试资源选择通道21，测试资源选择通道21包括用于与测试板I连接的第二端口 22和用于与测试机连接的第三端口 23，测试板I的第一端口通过连接线缆与转接板2的第二端口 22连接，从而通过第二端口 22连接到测试资源选择通道21上。在产品测试过程中，将待测产品固定连接在测试板I的第一端口 11上，测试机的测试通道与转接板2的第三端口 23连接将测试资源引入到转接板2中，根据待测产品的类型以及所需测试的项目通过测试资源选择通道21从引入的测试资源中进行选择，被选择的测试资源通过转接板2的第二端口 22传送至测试板I的第一端口 11上用于测试待测产品。
[0027]本发明实施例通过设置独立的转接板2，并通过在转接板2上设置测试资源选择通道21对测试机的测试资源进行选择，能够根据待测产品的类型及测试项目自由选择测试资源，解决了相关技术中测试板与测试机之间采用固定的连接方式导致待测产品的产品管脚与测试机的测试资源只有固定的几种搭配方式，从而使测试板只能针对特定类型的产品进行特定项目测试的问题，达到了在有限的测试资源下，使待测产品管脚与测试资源进行自由搭配，对多种类产品进行测试的技术效果。
[0028]图2是根据本发明实施例可选的一种转接板结构示意图。
[0029]如图2所示，测试资源选择通道21可以根据需要分为多个测试资源选择单元211，本发明对测试资源选择单元211的数目不作限定。本实施例优选测试资源选择单元211为四个，每个测试资源选择单元211分别与一个第二端口 22和一个第三端口 23连接。以具有128条测试通道的测试机为例进行说明，每个测试资源选择单元211分别连接32条测试通道，其中，每条测试通道提供一个测试资源，即每个测试资源选择单元211上具有32个测试资源。相应地，与每个测试资源选择单元211连接的第三端口 23内具有32根与测试机的32条测试通道对应连接的第三管脚2302从而将32个测试资源引入测试资源选择单元211。
[0030]图3是根据本发明实施例可选的一种测试板结构示意图。
[0031]如图3所示，优选地，本实施例测试板I上设置有四个与第一端口 11连接的第四端口 12，每个第四端口 12采用同轴线缆组成的排线与转接板2的第二端口 22连接从而将每个测试资源选择单元211上的32个测试资源引入到测试板I的第一端口 11上。可选地，本实施例测试板I上的第一端口 11内与待测产品连接的第一管脚1102数目为144个，即最多可以测试144个产品引脚信号，从而每个第四端口 12需要与36个产品引脚连接，因此，每个第四端口 12内具有36个第四管脚1202分别与第一管脚1102连接，相应地，转接板2的第二端口 22也具有36个用于第四端口 11连接的第二管脚2202。
[0032]图4是根据本发明实施例可选的一种测试资源选择单元结构示意图。
[0033]图5是根据本发明实施例可选的一种拨码开关结构示意图。
[0034]图6是根据本发明实施例可选的转接板局部结构示意图。
[0035]如图4所示，每个测试资源选择单元211中包括有多个按列布置的第一连接点2111和多个按行布置的第二连接点2112，其中，每列第一连接点2111之间相互连接且连接到第二端口 22内的其中一个第二管脚2202上，并通过第二管脚2202与一个产品引脚连接，因此，第二管脚2202的数目与第一连接点2111的列数相同，即每个测试资源选择单元211上具有36列第一连接点2111 ;每行第二连接点2112之间相互连接且连接到第三端口23内的其中给一个第三管脚2302上，并通过第三管脚2302与一个测试资源连接，因此，第二管脚2302的数目与第二连接点2112的行数相同，即每个测试资源选择单元211上具有32行第二连接点，每个测试资源选择单元211上的36列第一连接点2111和32行第二连接点2112呈矩阵式相互交错布置。其中，每个第一连接点2111与相邻一侧的一个第二连接点2112之间通过开关器件24连接。如图5所示，本实施例的拨码开关2402优选采用八位拨码开关，每个八位拨码开关分别将八个第一连接点2111和八个第二连接点2112连接在一起用于控制测试资源的打开和关闭，因此，对于一个测试通道选择单元211中一列第一连接点2111，需要四个拨码开关2402将第一连接点2111和第二连接点2112连接。为了使相互连接的一列第一连接点2111与相互连接的一行第二连接点2112相互交错且不会交汇，如图6所示，转接板2分为上层板25和下层板26，第一连接点2111按列布置在上层板25上，第二连接点2112按行布置在下层板26上，下层板26上的每个第二连接点2112在上层板的正投影位置处设置有一个过孔2113，过孔2113中设置有连接导体2114。拨码开关2402设置在上层板25上，拨码开关2402每一位的其中一个引脚直接与第一连接点2111连接，另一个引脚通过过孔2113中的连接导体2114与位于下层板26上的第二连接点2112连接。对于一列第一连接点2111，由于其与一个对应的产品引脚连接，因此，一个产品引脚就可以选择32种不同的测试资源，转接板2上具有四个测试资源选择单元211，可以实现产品引脚与测试资源的组合方式为36X32X4 = 4608种，通过对拨动拨码2402相应位的打开和闭合实现将引入测试资源选择单元211的测试资源根据待测产品类型和测试需要有选择性的输入到测试板I的第一端口 11上，以便满足多种不同产品进行测试。
[0036]在选择测试资源时，还需要将测试机的电源连接到测试板I的第一端口 11的待测产品上，具体地，如图2所示，测试机电源与转接板2上的电源端口 27连接，电源端口 27与分别与每个测试资源选择单元211的电源端子2115和接地端子2116连接，如图4所示，每个测试资源选择单元211具有36个电源端子2115和36个接地端子2116，分别通过开关器件24与36列第一连接点2111对应连接，将电源信号输送到测试板I的第一端口 11上每一根第一管脚1102上。
[0037]在产品测试的调试阶段，需要在测试板I上连接示波器、逻辑分析仪、万用表等设备对产品信号进行检测，相应地，如图3所示，在测试板I上设置有多个与第一端口 11连接的信号检测端口 13，本实施例优选在测试板I上设置有四个信号检测端口 13，与第四端口12的数目对应，每个信号检测端口 13具有与外部检测设备相匹配的连接头用于与外部检测设备连接。
[0038]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种测试辅助装置，其特征在于，包括: 测试板，设置有用于与待测产品连接的第一端口 ；以及 转接板，设置有测试资源选择通道，用于依据所述待测产品的类型并通过所述测试资源选择通道选择测试资源，其中，所述测试资源选择通道包括用于与所述测试板连接的第二端口和用于与测试机连接的第三端口，所述第一端口通过所述第二端口与所述测试资源选择通道连接。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试资源选择通道包括: 多个测试资源选择单元，每个所述测试资源选择单元分别与一个所述第二端口和一个所述第三端口连接。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于， 所述第一端口内设置有多个用于与所述待测产品连接的第一管脚，所述第二端口内设置有多个用于与所述第一管脚连接的第二管脚，所述第三端口内设置有多个与所述测试机连接的第三管脚。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述测试辅助装置还包括开关器件，所述测试资源选择单元包括: 第一连接点，其中，所述第一连接点的数量为多个，多个所述第一连接点按列布置，每列所述第一连接点之间相互连接且连接到所述第二端口内的其中一个所述第二管脚上；以及 第二连接点，其中，所述第二连接点的数量为多个，多个所述第二连接点按行布置，并且，多列所述第一连接点与多行所述第二连接点呈矩阵式交错布置，每行所述第二连接点之间相互连接且连接到所述第三端口内的其中一个所述第三管脚上，每个所述第一连接点与相邻一侧的一个所述第二连接点之间通过所述开关器件连接。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述转接板包括: 上层板，其中，多个所述第一连接点设置在所述上层板上；以及 下层板，其中，多个所述第二连接点设置在所述下层板上。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述上层板包括: 过孔，设置在每个所述第二连接点在所述上层板的正投影位置处；以及 连接导体，设置在所述过孔中，其中，所述开关器件的一端直接与所述第一连接点连接，所述开关器件的另一端通过所述连接导体与所述第二连接点连接。7.根据权利要求4至6中任一所述的装置，其特征在于，所述开关器件包括: 多个拨码开关，每个所述拨码开关分别将多个所述第一连接点和相邻一侧的多个所述第二连接点连接在一起。8.根据权利要求2至6中任一项所述的装置，其特征在于，所述测试资源选择通道还包括电源端口，所述测试资源选择单元包括: 电源端子，其中，所述电源端子的数量为多个，多个所述电源端子呈直线布置在所述测试资源选择单元的一边，每个所述电源端子的一端与所述电源端口连接，每个所述电源端子的另一端通过一个所述开关器件与一列所述第一连接点连接； 接地端子，其中，所述接地端子的数量为多个，多个所述接地端子呈直线布置在所述测试资源选择单元另一边，每个所述接地端子的一端与所述电源端口连接，每个所述电源端子的另一端通过一个所述开关器件与一列所述第一连接点连接。9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试板上设置有与所述第一端口连接的第四端口，所述第一端口通过所述第四端口与所述第二端口连接。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于， 所述第四端口与所述第二端口之间采用排线连接，所述排线包括同轴线缆。11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于， 所述测试板上设置有与所述第一端口连接的信号检测端口，其中所述信号检测端口为多个，每个所述信号检测端口具有与外部检测设备相匹配的连接头。
【文档编号】G01R1/04GK106033093SQ201510106822
【公开日】2016年10月19日
【申请日】2015年3月10日
【发明人】辛军启, 邵玲玲
【申请人】中芯国际集成电路制造(上海)有限公司