光性量测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型是有关于一种光性量测装置，特别是一种具有积分球的光性量测装置。
【背景技术】
[0002]发光二极管(LED)具有省电、体积小、以及高亮度优点，因此广泛地被应用作为光源使用。而为了检验生产的发光二极管芯片品质，常见检测方式为使用积分球作量测。积分球可将置于球口的开口处的发光二极管芯片所发射的光线进行收集，并进行发光二极管芯片光源的亮度量测。
[0003]已知积分球在量测时，以覆晶发光二极管芯片(flip-chip)为例，其是属于上点下收光或是属于下点上收光的量测，所以会在载台上放置一片石英玻璃，用以承载覆晶发光二极管芯片。因为石英玻璃置于载台上的设置，覆晶发光二极管芯片光源在隔着载台与其上的石英玻璃的厚度情况下，其无法和积分球完全贴近，导致量测角度过小，进而影响量测结果。使得收光范围的量测角度过小而产生误差，无法完全使光线均匀进入积分球。除此之外，当进行量测时，载台与其上的石英玻璃会相对于积分球进行水平方向或铅直方向移动，因此在量测不同的覆晶发光二极管芯片时，光线会从石英玻璃的不同区块进入积分球，造成量测时环境条件不一致；再者，当光线进入积分球后，若覆晶发光二极管芯片光源与积分球之间具有间隙，则易使光线漫射出积分球外，导致光性量测有误差。因此，如何能有效解决上述问题，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型提供一种光性量测装置，将具有防尘效果的透光基板设置于积分球收光口且设置于颈部内部或是设置于颈部的上表面，使得待测物(例如放置在蓝膜上的发光二极管芯片)放在透光基板上时能更接近积分球，以致于发光二极管芯片对收光口发射光线的张角增加。透过缩短发光二极管芯片与积分球收光口间的高度差，发光二极管芯片的光性量测除了更精准外，也使得发光二极管芯片所发射已进入积分球的光线不会自发光二极管芯片与积分球间的高度差漫射射出。
[0005]本实用新型的一实施方式为提供一种光性量测装置，包含载台、固定环以及积分球。载台具有开口。固定环设置于载台表面，并固定由承载膜与发光二极管芯片所组成的待测物。固定环与待测物设置在载台上，其中至少部分的待测物暴露于开口。一积分球设置于对应开口，并包含球形腔体、颈部以及透光基板。颈部连接球形腔体，且颈部定义收光口。透光基板设置于收光口且设置于颈部内部或是颈部的上表面，其中覆于透光基板上的部分待测物与载台表面的垂直距离大于或等于其他部分的待测物与载台表面的垂直距离。
[0006]在本实用新型的一实施例中，覆于所述积分球上的所述承载膜被所述透光基板撑平。
[0007]在本实用新型的一实施例中，当所述透光基板设置于所述颈部内部时，覆于所述积分球上的所述承载膜被所述积分球的所述颈部撑平。
[0008]在本实用新型的一实施例中，当所述透光基板设置于所述颈部内部时，所述透光基板的表面与所述颈部齐平。
[0009]在本实用新型的一实施例中，所述透光基板的表面凸出于所述颈部。
[0010]在本实用新型的一实施例中，所述透光基板的边缘或所述颈部的边缘具有一导角。
[0011]在本实用新型的一实施例中，所述积分球包含一遮光元件，设置于所述透光基板表面，以定义所述透光基板的一透光区域。
[0012]在本实用新型的一实施例中，所述积分球中的所述球形腔体与所述颈部为一体成型。
[0013]在本实用新型的一实施例中，所述积分球中的所述颈部为组装于所述球形腔体上，并为可拆卸式地连接。
[0014]在本实用新型的一实施例中，所述透光基板粘附于所述颈部。
[0015]在本实用新型的一实施例中，当所述透光基板设置于所述颈部内部时，所述透光基板卡紧于所述颈部。
[0016]在本实用新型的一实施例中，当所述透光基板设置于所述颈部内部时，所述积分球包含一定位部，设置于所述颈部内表面，所述定位部承载所述透光基板。
[0017]在本实用新型的一实施例中，当所述透光基板设置于所述颈部内部时，所述积分球还包含一承载框架，设置于所述颈部，所述承载框架包含:
[0018]一连接部，粘附于所述颈部外表面作固定；以及
[0019]一承载部，位于所述收光口内，且所述透光基板设置于所述承载部上。
[0020]在本实用新型的一实施例中，所述承载部与所述颈部内表面之间存在一间隙。
[0021]在本实用新型的一实施例中，所述透光基板的表面与所述承载框架齐平或所述透光基板的表面凸出于所述承载框架。
[0022]在本实用新型的一实施例中，所述承载框架的边缘或所述透光基板的边缘具有一导角。
[0023]光性量测装置将积分球以及透光基板结合，使得发光二极管芯片与收光口的高度差缩减，以增加发光二极管芯片对积分球的发光张角。除此之外，本实用新型的光性量测装置通过额外于积分球上设置有定位部或是承载框架，使得除了发光二极管芯片张角增加外，也可保护积分球内壁的漫射层不容易受到损伤。
【附图说明】
[0024]图1A为依照本实用新型的光性量测装置第一实施例的侧视示意图；
[0025]图1B为依照本实用新型的光性量测装置第一实施例的上视示意图；
[0026]图2为依照本实用新型光性量测装置的透光基板一实施例的上视示意图；
[0027]图3为依照本实用新型的光性量测装置第二实施例的侧视示意图；
[0028]图4A为依照本实用新型的光性量测装置第三实施例的侧视示意图；
[0029]图4B为依照图4A中区域A的放大图；
[0030]图5与图6为本实用新型的光性量测装置中的积分球不同实施例的侧视示意图。
【具体实施方式】
[0031]以下将以附图及详细清楚说明本实用新型的精神，任何所属技术领域中具有通常知识者在了解本实用新型的较佳实施例后，当可由本实用新型所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本实用新型的精神与范围。
[0032]已知光性量测装置的积分球，例如放置在蓝膜上的发光二极管芯片，由于发光二极管芯片与积分球球口的开口处具有一个高度差，例如一载台与其上的石英玻璃的厚度，使得发光二极管芯片所发出光线的张角收到限制。因此，积分球无法完整收到来自发光二极管芯片所发出光线。除此之外，高度差产生的间隙也使得发光二极管芯片射向积分球的光线于内部发生漫射后自间隙散出。
[0033]有鉴于此，本实用新型的光性量测装置将透光基板设置于积分球收光口且设置于颈部内部或是颈部的上表面，使得积分球与发光二极管芯片间的高度差缩减，发光二极管芯片入射于积分球内的张角得以增加。此外，本实用新型的光性量测装置设置定位部或承载框架于积分球收光口，除了仍使发光二极管芯片射至积分球的光线张角增加外，其可保护积分球内壁的漫射层不会受到损伤。
[0034]请同时参照图1A以及图1B。图1A为依照本实用新型的光性量测装置第一实施例的侧视示意图。图1B为依照本实用新型的光性量测装置第一实施例的上视示意图。光性量测装置100包含载台110、固定环114、积分球120。进一步，光性量测装置100还可包含量测装置150。
[0035]参照图1A。载台110具有开口 112。固定环114设置于载台110表面，且固定环114为沿开口 112周缘布置，以使得开口 112的范围位于固定环114内。固定环114用以固定由承载膜161与发光二极管芯片162所组成的待测物160，其中承载膜161可以为蓝膜(Blue Type)或白膜等，而发光二极管芯片162可以为覆晶发光二极管芯片(flip-chip)。固定环114与待测物160皆设置在载台110上，其中至少部分的待测物160暴露于开口 112。
[0036]固定环114可以是铁环或是塑胶环，在本实施例中为塑胶环，塑胶环包含母环116以及子环118。当需要将待测物160固定时，将待测物160的承载膜161置于母环116上，并以子环118搭配母环116将承载膜161夹于其二者之间作固定。本图中子环118以及母环116尺寸仅为例示，本实用新型所属技术领域中具有通常知识者，可依实际需要调整子环118以及母环116尺寸，以调整固定环114对待测物160的固定强度。若是使用铁环的话，由于蓝膜有粘性，可以直接将蓝膜粘至铁环上。
[0037]积分球120的设置位置对应于开口 112。积分球120包含球形腔体121、颈部122以及透光基板126。颈部122连接球形腔体121，且颈部122定义收光口 124。透光基板126设置于收光口 124且位于颈部122内，并且透光基板126可以是以粘附或卡紧的方式固定于颈部122，在本第一实施例中透光基板126表