高精度电路板线针检测模组的制作方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本实用新型属于线针检测技术领域，特别是涉及一种高精度电路板线针检测模组。
【【背景技术】】
[0002]随着电路板制作越来越密集，原有的弹簧针结构的夹具已经不能满足电路板的密集度。现在市场都以线型的方式制作夹具，顶端和线路板需要测试点接触，利用线型探针的弯曲，通过电极部导通至检查设备进行检查判定，此方法可以节省弹簧所占有的空间，使得夹具设定的探针距离最小化。
[0003]现有技术中在设计电路板线针检测模组中，包括先端部、支撑先端部的支撑柱、位于支撑柱底部的末端部、位于末端部下面的电极部、贯穿于先端部与末端部的探针。为了保证每根探针在电极部部分有足够的间距，设计时将先端部的点位置投影至末端部，再根据实际情况进行不同角度偏移，其设计的偏移值为一个范围区域。测试时线型探针露出先端部的部分和线路板接错，测试时线型探针受压时会收缩，且探针受压弯曲，通过电极部和测试仪器导通进行检查判定。按照上述设定，因为末端部的偏移角度不同，会产生线型探针露出先端部的出量高度不同，出量高度不同，受压时弯曲度不同所产生的弹力不同；这样设计的电路板线针检测模组无法对出量高度及弹力进行管控；当检查电路板发生异常时，分析问题较困难。
[0004]因此，有必要提供一种新的高精度电路板线针检测模组来解决上述问题。
【【实用新型内容】】
[0005]本实用新型的主要目的在于提供一种检测精度高、检测结果稳定、易于分析问题的高精度电路板线针检测模组。
[0006]本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:一种高精度电路板线针检测模组，其包括呈板面结构的底端部、位于所述底端部上表面的末端部、位于所述末端部上方的先端部、固定在所述末端部上用于支撑所述先端部的支撑杆、固定在所述底端部内并伸出所述底端部下表面的导电针以及若干贯穿于所述先端部与所述末端部的线型探针，所述先端部内部设置有若干微小的贯穿所述先端部上下表面的第一通孔，所述末端部内部设置有若干与所述第一通孔一一对应且贯穿于所述末端部上下表面的第二通孔，所述线型探针具体的贯穿于所述第一通孔与所述第二通孔中，所有所述第二通孔同一水平面的截面圆的中心均坐落在以对应所述第一通孔中心为圆心、半径相等的圆周上。
[0007]具体的，所述线型探针一端伸出所述先端部上表面用于接触待检测的电路板，另一端与所述导电针接触。
[0008]具体的，每一所述第一通孔与对应所述第二通孔中有且仅有同一根所述线型探针。
[0009]具体的，所述第一通孔的横截圆与所述第二通孔的横截圆不同心，以便能够应用所述第一通孔与所述第二通孔的位置错位使得所述线型探针停留于所述第一通孔与所述第二通孔中。
[0010]具体的，所述底端部为导电材质，具有导电功能。
[0011]与现有技术相比，本实用新型高精度电路板线针检测模组的有益效果在于:在设计模组时，先将先端部的点位置投影至末端部，再根据实际情况进行同角度的偏移，即使得末端部上的第二通孔的中心均坐落在以第一通孔中心为圆心、半径相等的圆周上，这样便使得从先端部偏移至末端部的偏移值为固定值，保证了线型探针伸出先端部的高度一致；且在线型探针通电受压时，其产生的弯曲变形量一致，使得检测结果更精准，检测稳定性更好，且当电路板检测出现异常时，分析问题更方便。
【【附图说明】】
[0012]图1为本实用新型一种高精度电路板线针检测模组的结构示意图；
[0013]图2为现有技术中从先端部偏移至末端部偏移情况的局部放大示意图；
[0014]图3为本实用新型一种高精度电路板线针检测模组中从先端部偏移至末端部偏移情况的局部放大示意图。
[0015]图中数字表示:
[0016]100高精度电路板线针检测模组A1—线型探针与先端部上表面交接处;A2另一线型探针与先端部上表面交接处&为A i投影在末端部的点；a 2为A 2投影在末端部的点；b !为&1在末端部做偏移固定距离的点；b2为&2在末端部做偏移固定距离的点；
[0017]I底端部；2末端部，21第二通孔；3先端部，31第一通孔；4支撑杆；5导电针；6线型探针。
【【具体实施方式】】
[0018]请参照图1，本实用新型为高精度电路板线针检测模组100，其包括呈板面结构的底端部1、位于底端部I上表面的末端部2、位于末端部2上方的先端部3、固定在末端部2上用于支撑先端部3的支撑杆4、固定在底端部I内并伸出底端部I表面的导电针5以及若干贯穿于先端部3、末端部2直至抵触导电针5的线型探针6。
[0019]请参照图1、图3，底端部I为导电材质，具有导电功能。先端部3内部根据待检测电路板接头情况设置有若干微小的贯穿先端部3上下表面的第一通孔31。末端部2内部设置有若干与第一通孔31 —一对应且贯穿于末端部2上下表面的第二通孔21。线型探针6具体的收容于第一通孔31与第二通孔21中，每一第一通孔31与对应第二通孔21中有且仅有同一根线型探针6，第一通孔31的横截圆与第二通孔21的横截圆不同心，以便能够应用第一通孔31与第二通孔21的位置错位使得线型探针6停留于第一通孔31与第二通孔21中。线型探针6 —端伸出先端部3上表面一定高度，另一端与导电针5接触。所有第二通孔21同一水平面的截面圆的中心均坐落在以对应第一通孔21中心为圆心、半径相等的圆周上。
[0020]请参照图1，在本【具体实施方式】，图1展现了 2根线型探针6，线型探针6与先端部3上表面的接触面积非常小，可看作一个点，分别为Ap A2，为了保证每根线型探针6在具有导电功能的底端部I的部分有足够的间距，因此在设计时将先端部3的点位置，即A1A2，投影至末端部2，即&1、a2，再根据实际情况进行偏移，即b1、b2。
[0021]请参照图1、图2、图3，在现有技术中，将先端部3的点位置Ap A2投影至末端部2的％、a2位置后，再做偏移时，其偏移的角度是一个区域范围，也就是其设计的偏移值为一个范围区域，BP
[0022]Ia1B2I ( Ia1ID1I ( Ia1B1U Ia1B2 ( |a2b2| ( Ia1B1U
[0023]bP匕坐落在图2的阴影区域内。而本实用新型高精度电路板线针检测模组100将先端部3的点位置Ap A2投影至末端部2的a 1、a2位置后，再做偏移时，其偏移的角度是一个定值，即
[0024]I albl I = I albl | 0
[0025]本实用新型高精度电路板线针检测模组100的工作原理在于:线型探针6露出先端部3的部分用于接触待检测电路板的接头，底端部1、导电针5与测试仪器导通，此时线型探针6通电受压而弯曲变形，测试仪器根据线型探针6的弯曲变形程度进行检查判定。通过将第二通孔21的中心坐落在以第一通孔31中心为圆心、半径为定值的圆周上，可以有效的对线型探针6露出先端部3的高度进行管控，将露出高度控制为一个固定值，进而在线型探针6通电后受压时所产生的弹力值也将保持一致，这样有效的保证了测试的稳定性和精准度，同时出现异常状况时分析问题更方便。
[0026]以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种高精度电路板线针检测模组，其包括呈板面结构的底端部、位于所述底端部上表面的末端部、位于所述末端部上方的先端部、固定在所述末端部上用于支撑所述先端部的支撑杆、固定在所述底端部内并伸出所述底端部下表面的导电针以及若干贯穿于所述先端部与所述末端部的线型探针，所述先端部内部设置有若干微小的贯穿所述先端部上下表面的第一通孔，所述末端部内部设置有若干与所述第一通孔一一对应且贯穿于所述末端部上下表面的第二通孔，所述线型探针具体的贯穿于所述第一通孔与所述第二通孔中，其特征在于:所有所述第二通孔同一水平面的截面圆的中心均坐落在以对应所述第一通孔中心为圆心、半径相等的圆周上。
2.如权利要求1所述的高精度电路板线针检测模组，其特征在于:所述线型探针一端伸出所述先端部上表面用于接触待检测的电路板，另一端与所述导电针接触。
3.如权利要求1所述的高精度电路板线针检测模组，其特征在于:每一所述第一通孔与对应所述第二通孔中有且仅有同一根所述线型探针。
4.如权利要求3所述的高精度电路板线针检测模组，其特征在于:所述第一通孔的横截圆与所述第二通孔的横截圆不同心，以便能够应用所述第一通孔与所述第二通孔的位置错位使得所述线型探针停留于所述第一通孔与所述第二通孔中。
5.如权利要求1所述的高精度电路板线针检测模组，其特征在于:所述底端部为导电材质，具有导电功能。
【专利摘要】本实用新型为一种高精度电路板线针检测模组，其包括底端部、末端部、先端部、支撑杆、固定在所述底端部内并伸出所述底端部下表面的导电针以及若干贯穿于所述先端部与所述末端部的线型探针，所述先端部内部设置有若干微小的第一通孔，所述末端部内部设置有若干与所述第一通孔一一对应的第二通孔，所有所述第二通孔同一水平面的截面圆的中心均坐落在以对应所述第一通孔中心为圆心、半径相等的圆周上。本实用新型可以有效的对线型探针露出先端部的高度进行管控，将露出高度控制为一个固定值，进而在线型探针通电后受压时所产生的弹力值也将保持一致，这样有效的保证了测试的稳定性和精准度，同时出现异常状况时分析问题更方便。
【IPC分类】G01R1-067, G01R31-28
【公开号】CN204389643
【申请号】CN201520100099
【发明人】潘孙剑
【申请人】大西电子仪器（昆山）有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2015年2月11日