一种电流式反馈运算放大器测试环路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及半导体测试领域，特别是指一种电流式反馈运算放大器测试环路。
【背景技术】
[0002]现有技术中，在模拟集成电路测试系统AMIDA-3KS上，多数采用电压式反馈运算放大器运放环的设计，没有电流式运放环的设计。测量参数有开环参数和闭环参数两类，开环参数包括失调电压、偏置电流、开环增益、共模抑制比以及电源电压抑制比等参数，闭环测试包括压摆率等参数的测试。开环参数测试时被测运放必须处于开环状态，闭环参数测试时被测运放必须处于闭环状态。运放环设计主要实现辅助运放补偿、辅助运放供电、不同测试电路的切换等功能。由于诸多因素的影响，运放环的参数测量精度容易受到影响，其中最主要的影响因素是闭环系统不稳定，即寄生振荡，导致寄生振荡的因素有以下几种，包括:辅助运放性能不良，不能与各种被测运放构成稳定的闭环系统，会导致测试某些被测试运放品种时表现出寄生振荡；闭环系统补偿不良，辅助运放即使自身性能良好，由于闭环系统中的布线和相关元器件总会存在一些分布电容和分布电感，增加了系统的分布参数，进而影响闭环系统的总体幅频和相频特性；被测运放补偿不良，难于与辅助运放共同构成稳定的闭环系统，实际采用的补偿线路和数值与典型补偿线路和补偿电阻不同。
[0003]工频干扰，最容易表现在输入偏置电流和输入失调电流参数的测试上，因为这些参数测试时需要在被测运放的输入端接入采样电阻RS，特别是高阻抗运放的测试，采样电阻的阻值会达到数兆，这样高的输入阻抗只要在被测运放端引入很小一点工频干扰，经数百倍放大后，在辅助运放的输出端就得到很大的干扰。
[0004]由于测量参数还包括输入阻抗和开环传输阻抗等参数，这些参数在电压式反馈运算放大器测试环路上不能实现测试，因此，电压式反馈运算放大器测试环路通用性较差，因此还需要开发具有这些测试功能的运放环，浪费了成本和时间。同时，由于电压式运放环运算放大器开关的引入造成的运放环路上的振荡，使测量结果误差增大。
【实用新型内容】
[0005]有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种能够避免辅助运放造成的测量结果不准确且通用性强的新式反馈运算放大器运放测试环路。
[0006]基于上述目的本实用新型提供的一种电流式反馈运算放大器测试环路，包括辅助隔离放大器INA116电路、被测运算放大器放置槽电路、辅助运算放大器741电路，其中，所述被测运算放大器放置槽电路分别与辅助隔离放大器INA116电路、辅助运算放大器741电路和测试系统供压模块电路连接，所述被测运算放大器放置槽用于放置被测运算放大器；所述辅助隔离放大器INAl 16电路和被测运算放大器放置槽连接，所述辅助运算放大器741电路和被测运算放大器放置槽连接，所述辅助隔离放大器INA116电路和所述辅助运算放大器741电路均用于测量运算放大器的参数；利用所述电流式反馈运算放大器测试环路在不使用所述辅助运算放大器741电路的情况下，仅利用所述隔离放大器INA116电路测试失调电压、失调电流、偏置电流和共模抑制比。
[0007]所述电流式反馈运算放大器测试环路的连接方式为:电阻Rl接地，电阻Rl与开关K4连接，开关K4分别与电容Cl、电阻R7、电阻R8、电阻R10、电阻Rl1、电阻R12、开关K1、开关K6、开关K36、开关K9、开关K19、电阻R13连接，开关K6接地，电容Cl与开关K13连接，电阻R7与开关K14连接，电阻R8分别与开关K15、开关K28连接，开关Kl与电阻R2连接，电阻R2与测试系统供压模块连接，开关K36与电阻R3连接，电阻R3与测试系统供压模块连接，电阻R13与开关K39连接，电阻RlO与开关K16连接，电阻Rll与开关K17连接，电阻R12与开关K18连接，开关K39、开关K19、电阻R14都接入被测器件放置槽，被测器件放置槽分别与电容C2、电容C3、电阻R14、开关K20、开关K21、开关K32、开关K33、开关K34、开关K35、开关K16、开关K17、开关K18、电阻R9、开关K30、开关K31连接，电容C2 —端接测试电源正电压，另一端接地，电容C3 —端接测试电源负电压，另一端接地，开关K21与电阻R16连接，电阻R14与开关K20都与开关K2、开关K8、开关K10、开关K11、开关K12连接，开关K2与电阻R4连接，电阻R4与测试系统供压模块连接，开关K12与测试系统供压模块连接，开关KlO与电阻R5连接，开关Kl I与电阻R6连接，开关K8、电阻R5、电阻R6都接地，开关K12与测试系统供压模块连接，开关K32与电阻R17连接，开关K33与电阻R18连接，开关K34与电阻R19连接，开关K35与电阻R20连接，电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20都接地，电阻R9与开关K29连接，开关K28、开关K29、开关K30与测试系统供压模块连接，开关K31与电阻R21连接，电阻R21分别与电阻R22、辅助运放741连接，电阻R22与测试系统供压模块连接；
[0008]辅助运放分别与电容C4、电容C5、开关K13、开关K14、开关K15、电阻R23、电阻R24、电阻R30连接，电阻R24与电容C6连接，电容C6分别与电阻R23、辅助运放741连接，电容一端C4与测试系统正电压连接，另一端接地，电容C5 —端与测试系统负电压连接，另一端接地；
[0009]电阻R25与开关K37串联，电阻R26与开关K38串联，将上述串联的电路并联，并联后电路一端与测试系统供压模块连接，另一端分别与第一接头和开关K26连接，开关K26分别与开关K27、电阻R28、开关K25连接，开关K27接地，开关K25与第四接头连接，电阻R28接入INA116，第二接头分别与开关K22、电阻R27、开关K24连接，开关K22与第三抽头连接，电阻R27接入INA116，开关K24接地，INAl 16分别与电容C7、电容C8、电阻R29连接，电容C7 —端与测试系统正电源电压连接，另一端接地，电容C8 —端与测试系统负电源电压连接，另一端接地，电阻R29与测试系统测量单元连接，第一、三接头分别接入电阻R15两端，第二、四接头分别接入电阻R14两端；
[0010]所述电流式反馈运算放大器测试环路的电阻R14的阻值为100欧姆，电阻R15的阻值为100欧姆，通过闭合开关K6，K8，K22, K25，其余开关处于断开状态，在不使用辅助运算放大器741电路的情况下，利用辅助隔离放大器INA116电路测量输入失调电压；
[0011]所述电流式反馈运算放大器测试环路的电阻R14的阻值为100欧姆，电阻R15的阻值为100欧姆，电阻R12的阻值为910欧姆，通过闭合开关Kl，K8，K18，K23，K25，其余开关处于断开状态，测量负输入偏置电流，闭合开关Kl，K8，K18，K22，K26，其余开关处于断开状态测量正输入偏置电流；
[0012]所述电流式反馈运算放大器测试环路的电阻R14的阻值为100欧姆，电阻R15的阻值为100欧姆，电阻町2的阻值为910欧姆，通过闭合开关1(1，1(2，1(11，1(18，1(19，1(20，1(29，其余开关处于断开状态，利用辅助隔离放大器INA116电路测量并计算得出共模抑制比；
[0013]所述开关为表贴开关。
[0014]从上面所述可以看出，本实用新型提供的电流式反馈运算放大器测试环路采用辅助隔离放大器INA116电路测试失调电压、失调电流和偏置电流，避免使用辅助放大器测试失调电压、失调电流和偏置电流，避免了使用辅助放大器造成的系统不稳定，减少了寄生振荡的产生，进而减小了测量失调电压、失调电流和偏置电流的误差，使测量结果更准确；由于电流式反馈运算放大器测试环路所用开关都为表贴开关，减少了使用开关造成的振荡，避免了开关引入的干扰，增加了测试结果的准确性。由于电流式反馈运算放大器测试环路还能够测试输入阻抗和开环传输阻抗等参数，避免了同类产品的开发，缩短了此类器件运放环的重复开发，节约了成本，缩短了开发周期，增加了本实用新型的通用性。
【附图说明】
[0015]图1为现有技术中电压式反馈运放电路连接示意图；
[0016]图2为本实用新型电流式反馈运放电路连接示意图；
[0017]图3为本实用新型测试输入失调电压示意图；
[0018]图4为本实用新型测试偏置电流示意图；
[0019]图5为本实用新型共模抑制比示意图。
【具体实施方式】
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