一种CPU压力测试装置及方法与流程

文档序号:11216126阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明实施例提供CPU压力测试装置及方法,涉及芯片测试技术领域,以解决现有板卡级的CPU压力测试,导致有效性低、效率低、测试成本高、操作复杂度高的问题。所述装置可以包括:主板、设置在所述主板之上的CPU模块和单片机管理模块;所述CPU模块,包含被测CPU芯片;所述单片机管理模块,用于控制所述被测CPU芯片在高温、高压、高频模式下执行预定的压力测试程序,若所述被测CPU芯片在预设时间内成功执行压力测试程序,则控制所述被测CPU芯片在高温、低压、低频模式下执行压力测试程序;若所述被测CPU芯片在高温、低压、低频模式下的预设时间内成功执行压力测试程序,则确定所述被测CPU芯片通过压力测试。

技术研发人员:刘庆丰
受保护的技术使用者:迈普通信技术股份有限公司
技术研发日:2016.03.29
技术公布日:2017.10.10
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