一种信号检测装置及其检测内存信号的方法与流程

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种信号检测装置及其检测内存信号的方法。

背景技术：

内存是计算机系统中常用存储设备之一，可在内存控制器的控制下存储业务数据。内存控制器与内存均安装在独立磁盘冗余阵列卡的PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)上，内存控制器与内存之间需要通过印制电路板上的信号传输线(比如，DDR3信号传输线)来实现内存信号的传输。如果信号传输线传输内存信号的过程中，内存信号的完整性较大的干扰，则可能导致内存出现不可纠正错误，进而造成系统宕机。因此，经常需要对内存信号(包括发送信号和接收信号)进行检测，以便工作人员根据检测结果确定内存信号的完整性是否在传输过程中受到破坏。

目前，检测内存信号时，通常需要使用memtest等专业的内存检测软件来检测内存信号。

但是，memtest等专业的内存检测软件直接依赖于计算机操作系统，比如memtest则仅能运行在windows系统下，通用性较低。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种信号检测装置及其检测内存信号的方法，通用性较高。

第一方面，本发明提供了一种信号检测装置，包括：

第一连接件、第二连接件、扩展连接件和示波器；其中，

所述扩展连接件分别连接所述第一连接件、所述第二连接件和所述示波器；

所述第一连接件，用于连接外部待测内存，接收所述待测内存提供的发送信号及第一时钟信号，并转发至所述扩展连接件；

所述第二连接件，用于连接对应所述待测内存的外部待测PCB，接收所述待测PCB提供的接收信号及第二时钟信号，并转发至所述扩展连接件；

所述扩展连接件，用于将接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号转发至所述示波器；

所述示波器，用于根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果。

优选地，

所述示波器，包括：波形处理模块、第一波形解析模块、条件确定模块、滤波处理模块、第二波形解析模块和检测结果提供模块；其中，

所述波形处理模块，用于根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形；

所述第一波形解析模块，用于解析所述混合波形，以确定所述混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域；

条件确定模块，用于根据确定的所述高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域，确定所述发送信号和所述接收信号分别对应的触发条件；

滤波处理模块，用于根据确定的所述发送信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述发送信号对应的发送信号波形，以及根据确定的所述接收信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述接收信号对应的接收信号波形；

第二波形解析模块，用于解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果；以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果；

检测结果提供模块，用于提供所述传输第一检测结果和所述第二检测结果。

优选地，

所述第二波形解析模块，包括：波形解析单元和确定单元；其中，

所述波形解析单元，用于解析所述发送信号波形和所述接收信号波形，以形成对应所述发送信号的第一参考波形、对应所述第一时钟信号的第二参考波形、对应所述接收信号的第三参考波形及对应所述第二时钟信号的第四参考波形；

所述确定单元，用于根据所述第一参考波形和所述第二参考波形，确定所述发送信号对应的第一检测结果，以及根据所述第三参考波形和所述第四参考波形确定所述接收信号对应的第二检测结果。

优选地，

所述检测结果包括：信号传输时延、信号周期、信号上升沿时长、信号下降沿时长中的一项或多项。

优选地，

所述扩展连接件分别与所述第一连接件、所述第二连接件和所述示波器固定连接；

和/或，

所述第一连接件和所述待测内存压接，所述第二连接件和对应所述待测内存的待测PCB压接。

第二方面，本发明实施例提供了一种利用第一方面中任一所述的信号检测装置检测内存信号的方法，包括：

利用第一连接件连接待测内存，以及利用第二连接件连接对应所述待测内存的待测PCB；

利用第一连接件接收待测内存提供的发送信号及第一时钟信号，并转发至扩展连接件，以及利用第二连接件接收待测PCB提供的接收信号及第二时钟信号，并转发至扩展连接件；

利用扩展连接件将接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号转发至所述示波器；

利用示波器根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果。

优选地，

所述利用示波器根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果，包括：

利用波形处理模块根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形；

利用第一波形解析模块解析所述混合波形，以确定所述混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域；

利用条件确定模块根据确定的所述高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域，确定所述发送信号和所述接收信号分别对应的触发条件；

利用滤波处理模块根据确定的所述发送信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述发送信号对应的发送信号波形，以及根据确定的所述接收信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述接收信号对应的接收信号波形；

利用第二波形解析模块解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果；

利用检测结果提供模块提供所述传输第一检测结果和所述第二检测结果。

优选地，

所述利用第二波形解析模块解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果，包括：

利用波形解析单元解析所述发送信号波形和所述接收信号波形，以形成对应所述发送信号的第一参考波形、对应所述第一时钟信号的第二参考波形、对应所述接收信号的第三参考波形及对应所述第二时钟信号的第四参考波形；

利用确定单元根据所述第一参考波形和所述第二参考波形，确定所述发送信号对应的第一检测结果，以及根据所述第三参考波形和所述第四参考波形确定所述接收信号对应的第二检测结果。

优选地，

所述检测结果包括：信号传输时延、信号周期、信号上升沿时长、信号下降沿时长中的一项或多项。

优选地，

所述扩展连接件分别与所述第一连接件、所述第二连接件和所述示波器固定连接；

和/或，

所述第一连接件和所述待测内存压接，所述第二连接件和对应所述待测内存的待测PCB压接。

本发明实施例提供了一种信号检测装置及其检测内存信号的方法，在该检测装置中，仅利用相应的连接件与待测内存及对应待测内存的PCB相连，即可将待测内存和待测PCB提供的发送信号、接收信号、第一时钟信号和第二时钟信号等内存信号引出并传输至示波器，示波器则可根据接收的内存信号显示相应的混合波形，进而根据混合波形提供接收信号和发送信号分别对应的检测结果。综上可见，本发明实施例提供的技术方案中，构成检测装置的连接件以及示波器等都是常见的设备，利用该检测装置对发送信号及接收信号等内存信号进行检测时，不必使用专业的内存测试软件来测试内存信号，通用性极高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的一种信号检测装置的结构示意图；

图2是本发明一实施例提供的另一种信号检测装置的结构示意图；

图3是本发明一实施例提供的一种混合波形的示意图；

图4是本发明实施例提供的一种利用信号检测装置检测内存信号时，连接件的安装示意图；

图5是本发明一实施例提供的一种利用信号检测装置检测内存信号的方法的流程图；

图6是本发明一实施例提供的另一种利用信号检测装置检测内存信号的方法的流程图；

图7是本发明一实施例中第一参考波形和第二参考波形的关系示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本发明实施例提供了一种信号检测装置，包括：

第一连接件101、第二连接件102、扩展连接件103和示波器104；其中，

所述扩展连接件104分别连接所述第一连接件101、所述第二连接件102和所述示波器104；

所述第一连接件101，用于连接外部待测内存，接收所述待测内存提供的发送信号及第一时钟信号，并转发至所述扩展连接件103；

所述第二连接件102，用于连接对应所述待测内存的外部待测PCB，接收所述待测PCB提供的接收信号及第二时钟信号，并转发至所述扩展连接件103；

所述扩展连接件103，用于将接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号转发至所述示波器；

所述示波器104，用于根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果。

本发明实施例中，仅利用相应的连接件与待测内存及对应待测内存的PCB相连，即可将待测内存和待测PCB提供的发送信号、接收信号、第一时钟信号和第二时钟信号等内存信号引出并传输至示波器，示波器则可根据接收的内存信号显示相应的混合波形，进而根据混合波形提供接收信号和发送信号分别对应的检测结果。综上可见，本发明实施例提供的技术方案中，构成检测装置的连接件以及示波器等都是常见的设备，利用该检测装置对发送信号及接收信号等内存信号进行检测时，不必使用专业的内存测试软件来测试内存信号，通用性极高。

应当理解的是，接收信号即由安装在待测PCB板上的内存控制器提供的write数据，发送信号即read数据，第一时钟信号用于提示内存控制器在相应的时刻读取read数据，第二时钟信号用于提示待测内存在相应的时刻接收write数据。

具体地，本发明一实施例中，所述检测结果包括：信号传输时延、信号周期、信号上升沿时长、信号下降沿时长中的一项或多项。

进一步的，为了实现通过示波器提供接收信号和发送信号分别对应的检测结果，如图2所示，本发明一个实施例中，所述示波器104，包括：波形处理模块1041、第一波形解析模块1042、条件确定模块1043、滤波处理模块1044、第二波形解析模块1045和检测结果提供模块1046；其中，

所述波形处理模块1041，用于根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形；

所述第一波形解析模块1042，用于解析所述混合波形，以确定所述混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域；

所述条件确定模块1043，用于根据确定的所述高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域，确定所述发送信号和所述接收信号分别对应的触发条件；

所述滤波处理模块1044，用于根据确定的所述发送信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述发送信号对应的发送信号波形，以及根据确定的所述接收信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述接收信号对应的接收信号波形；

所述第二波形解析模块1045，用于解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果；

所述检测结果提供模块1046，用于提供所述第一检测结果和所述第二检测结果。

本发明上述实施例中，由于待测PCB提供的接收信号由安装在待测PCB上的内存控制器(Controller芯片)提供，接收信号和第二时钟信号(即write数据)经过PCB上的高速线传输到第二连接件时，会发生信号衰减，因此，在混合波形中，接收信号和第二时钟信号形成的波形比较于发送信号(即read数据)和第一时钟信号形成的波形时，接收信号和第二时钟信号形成的波形对应的幅值(即高电平和低电平的差值)相对较小；因此，以波形处理模块如图3所示的混合波形为例，第一波形解析模块则可根据发送信号、接收信号以及时钟信号的电平高低来确定混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域分别为如图3所示的“1”区域、“2”区域和“3”区域，条件确定模块则可根据确定的“1”区域、“2”区域和“3”区域确定发送信号和接收信号分别对应的触发条件，比如，条件确定模块将发送信号对应的触发条件确定为波形图不能经过“2”区域和“3”区域，滤波处理模块则可将“2”区域和“3”区域所分别对应的波形滤除，以形成发送信号和第一时钟信号对应的发送信号波形，相似地，滤波处理模块可将“1”区域和“3”区域所分别对应的波形滤除以形成接收信号和第二时钟信号对应的接收信号波形；如此，第二波形解析模块则可解析发送信号波形以确定发送信号和第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析接收信号波形以确定接收信号和第二时钟信号之间对应的第二检测结果；进而由检测结果提供模块提供确定的第一检测结果和第二检测结果。

具体地，本发明一个实施例中，所述第二波形解析模块1045，包括：波形解析单元(附图中未示出)和确定单元(附图中未示出)；其中，

所述波形解析单元，用于解析所述发送信号波形和所述接收信号波形，以形成对应所述发送信号的第一参考波形、对应所述第一时钟信号的第二参考波形、对应所述接收信号的第三参考波形及对应所述第二时钟信号的第四参考波形；

所述确定单元，用于根据所述第一参考波形和所述第二参考波形，确定所述发送信号对应的第一检测结果，以及根据所述第三参考波形和所述第四参考波形确定所述接收信号对应的第二检测结果。

本发明上述实施例中，波形解析单元解析发送信号波形可得到对应发送信号的第一参考波形和对应第一时钟信号的第二参考波形，解析接收信号波形可得到对应接收信号的第三参考波形和对应第二时钟信号的第四参考波形。如此，确定单元则可通过比较第一参考波形和第二参考波形以确定出发送信号对应的第一检测结果，比较第三参考波形和第四参考波形以确定出接收信号对应的第二检测结果。

进一步的，为了提高检测效率，本发明一个实施例中，所述扩展连接件分别与所述第一连接件、所述第二连接件和所述示波器固定连接。

进一步的，为了防止测试过程中损坏待测内存、待测PCB或安装在待测PCB上的电子元件，本发明一个实施例中，所述第一连接件和所述待测内存压接，所述第二连接件和对应所述待测内存的待测PCB压接。

举例来说，如图4所示，第一连接件Socket A的第一端和第二连接件Socket B的第一端均与扩展连接件Interposer紧固连接(比如，焊接)，同时，扩展连接件Interposer还可以与示波器的探头进行紧固连接，如此，形成一个一体化成型的检测装置，便于管理检测装置。第一连接件Socket A的第二端与待测内存DRAM压接，第二连接件Socket B的第二端与对应该待测内存DRAM的待测PCB压接，可在空间位置上抬高安装在待测PCB上的待测内存DRAM，防止检测过程中损坏安装在待测PCB上的电子元件；同时，采用压接的方式与待测PCB和待测内存相连，不会对待测PCB以及待测内存的固有结构造成损坏。

如图5所示，本发明实施例提供了一种利用本发明任意一个实施例提供的检测装置检测内存信号的方法，包括：

步骤501，利用第一连接件连接待测内存，以及利用第二连接件连接对应所述待测内存的待测PCB；

步骤502，利用第一连接件接收待测内存提供的发送信号及第一时钟信号，并转发至扩展连接件，以及利用第二连接件接收待测PCB提供的接收信号及第二时钟信号，并转发至扩展连接件；

步骤503，利用扩展连接件将接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号转发至所述示波器；

步骤504，利用示波器根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果。

由于构成检测装置的连接件以及示波器等都是常见的设备，利用该检测装置对发送信号及接收信号等内存信号进行检测时，不必使用专业的内存测试软件来测试内存信号，通用性极高。

本发明一个实施例中，所述利用示波器根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形，并根据所述混合波形提供所述发送信号和所述接收信号分别对应的检测结果，包括：

A1：利用波形处理模块根据接收的所述发送信号、所述第一时钟信号、所述接收信号和所述第二时钟信号形成混合波形；

A2：利用第一波形解析模块解析所述混合波形，以确定所述混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域；

A3：利用条件确定模块根据确定的所述高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域，确定所述发送信号和所述接收信号分别对应的触发条件；

A4：利用滤波处理模块根据确定的所述发送信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述发送信号对应的发送信号波形，以及根据确定的所述接收信号对应的触发条件对所述混合波形进行滤波处理，以形成所述接收信号对应的接收信号波形；

A5：利用第二波形解析模块解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果；

A6：利用检测结果提供模块提供所述传输第一检测结果和所述第二检测结果。

本发明一个实施例中，所述利用第二波形解析模块解析所述发送信号波形以确定所述发送信号和所述第一时钟信号之间对应的第一检测结果，以及解析所述接收信号波形以确定所述接收信号和所述第二时钟信号之间对应的第二检测结果，包括：

B1：利用波形解析单元解析所述发送信号波形和所述接收信号波形，以形成对应所述发送信号的第一参考波形、对应所述第一时钟信号的第二参考波形、对应所述接收信号的第三参考波形及对应所述第二时钟信号的第四参考波形；

B2：利用确定单元根据所述第一参考波形和所述第二参考波形，确定所述发送信号对应的第一检测结果，以及根据所述第三参考波形和所述第四参考波形确定所述接收信号对应的第二检测结果。

本发明一个优选实施例中，所述检测结果包括：信号传输时延、信号周期、信号上升沿时长、信号下降沿时长中的一项或多项。

本发明一个优选实施例中，所述扩展连接件分别与所述第一连接件、所述第二连接件和所述示波器固定连接。

本发明一个优选实施例中，所述第一连接件和所述待测内存压接，所述第二连接件和对应所述待测内存的待测PCB压接。

为了进一步的说明通过本发明实施例提供的技术方案及优点，本发明实施例提供了一种利用本发明实施例提供的检测装置检测内存信号的方法，请参考图1、图2和图4，同时以检测装置中的示波器形成如图3所示的混合波形为例，如图6所示，可以包括如下各个步骤：

步骤601，将检测装置的第一连接件Socket A与待测内存DRAM进行压接，以及将检测装置的第二连接件Socket B与对应该待测内存DRAM的待测PCB进行压接。

本发明实施例中，如图4所示，第一连接件Socket A的第二端与待测内存DRAM压接，第二连接件Socket B的第二端与对应该待测内存DRAM的待测PCB压接，可在空间位置上抬高安装在待测PCB上的待测内存DRAM，防止检测过程中损坏安装在待测PCB上的电子元件；同时，采用压接的方式与待测PCB和待测内存相连，不会对待测PCB以及待测内存的固有结构造成损坏。

应当理解的是，待测PCB上安装有内存控制器Controller芯片，Controller芯片可控制待测内存DRAM提供发送信号(即read数据)和第一时钟信号，以及产生接收信号(即write数据)第二时钟信号。

还应当理解的是，时钟信号用于提示Controller芯片或待测内存DRAM在相应的时刻读取发送信号或接收信号中携带的数据。

步骤602，Socket A接收DRAM提供的发送信号及第一时钟信号，并转发至扩展连接件Interposer，以及利用Socket B接收待测PCB提供的接收信号及第二时钟信号，并转发至Interposer。

步骤603，Interposer将接收的发送信号、第一时钟信号、接收信号及第二时钟信号转发至示波器。

步骤604，示波器的波形处理模块根据接收的发送信号、第一时钟信号、接收信号及第二时钟信号形成混合波形。

这里，以示波器的波形处理模块形成如图3所示的混合波形为例。

步骤605，示波器的第一波形解析模块解析混合波形，以确定混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域。

本发明实施例中，由于待测PCB提供的接收信号由安装在待测PCB上的Controller芯片提供，接收信号和第二时钟信号经过PCB上的高速线传输到Socket B时，会发生信号衰减，因此，在如图3所示的混合波形中，接收信号和第二时钟信号形成的波形比较于发送信号和第一时钟信号形成的波形时，接收信号和第二时钟信号形成的波形对应的幅值(即高电平和低电平的差值)相对较小；如此，第一波形解析模块则可根据发送信号、接收信号以及时钟信号的电平高低来确定混合波形中的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域分别为如图3所示的“1”区域、“2”区域和“3”区域。

步骤606，检测装置的条件确定模块根据确定的高电平信号特征区域、低电平信号特征区域及基准电平信号特征区域，确定发送信号和接收信号分别对应的触发条件。

举例来说，条件确定模块可将发送信号对应的触发条件确定为波形图不能经过“2”区域和“3”区域；同时，将接收信号对应的触发条件确定为波形图不能经过“1”区域和“3”区域。

步骤607，示波器的滤波处理模块根据确定的发送信号对应的触发条件对混合波形进行滤波处理，以形成发送信号对应的发送信号波形；以及根据确定的接收信号对应的触发条件对混合波形进行滤波处理，以形成接收信号对应的接收信号波形。

本发明实施例中，滤波处理模块可根据发送信号对应的触发条件将“2”区域和“3”区域所分别对应的波形滤除，以形成发送信号和第一时钟信号对应的发送信号波形；相似地，滤波处理模块可将“1”区域和“3”区域所分别对应的波形滤除以形成接收信号和第二时钟信号对应的接收信号波。

步骤608，示波器的第二波形解析模块解析发送信号波形以确定发送信号和第一时钟信号之间对应的第一检测结果；以及解析接收信号波形以确定接收信号和第二时钟信号之间对应的第二检测结果。

本发明实施例中，可通过第二波形解析模块的波形解析单元解析发送信号波形，以形成对应发送信号的第一参考波形和对应第一时钟信号的第二参考波形，同时，可通过波形解析单元解析接收信号波形以形成对应接收信号的第三参考波形和对应第二时钟信号的第四参考波形；然后由波形解析模块的确定单元根据形成的第一参考波形和第二参考波形确定出发送信号对应的第一检测结果，以及由确定单元根据形成的第三参考波形和第四参考波形确定出发送信号对应的第二检测结果。

举例来说，如图7所示，波形解析单元解析发送信号波形以形成对应发送信号的第一参考波形k1，以及形成对应第一时钟信号的第二参考波形k2，确定单元则可确定出发送信号波形对应的信号传输时延为1ns、信号周期为4ns、信号上升沿时长为2ns、信号下降沿时长为2ns等第一检测检测结果。应当理解的是如图7所示的各个参数仅用于举例说明，在实际业务场景中，第一参考波形和第二参考波形可能为其他形状(非正弦状)，比如，第一参考波形通过一个信号上升沿到达一个高电平后，将会在高电平维持一定的时长，然后再经过一个下降沿，从而实现一个信号周期，即实现发送一次read数据。

步骤609，示波器的检测结果提供模块提供确定的第一检测结果和第二检测结果。

如此，工作人员则可根据示波器提供的第一检测结构和第二检测结果做进一步的处理，比如，根据第二检测结果中的信号上升沿时长和信号下降沿时长判断接收信号在通过待测PCB上的信号传输线进行传输时，其信号完整性在传输过程中是否受到破坏；又如，根据检测结果中的信号传输时延确定待测内存的数据读写性能等。

综上所述，本发明各个实施例至少具有如下有益效果：

1、本发明一实施例提供的信号检测装置中，仅利用相应的连接件与待测内存及对应待测内存的PCB相连，即可将待测内存和待测PCB提供的发送信号、接收信号、第一时钟信号和第二时钟信号等内存信号引出并传输至示波器，示波器则可根据接收的内存信号显示相应的混合波形，进而根据混合波形提供接收信号和发送信号分别对应的检测结果。综上可见，本发明实施例提供的技术方案中，构成检测装置的连接件以及示波器等都是常见的设备，利用该检测装置对发送信号及接收信号等内存信号进行检测时，不必使用专业的内存测试软件来测试内存信号，通用性极高。

2、本发明一实施例中，一方面，信号检测装置的第一连接件和第二连接件均与扩展连接件紧固连接(比如，焊接)，同时，扩展连接件还可以与示波器的探头进行紧固连接，如此，形成一个一体化成型的检测装置，便于管理检测装置。另一方面，第一连接件与待测内存压接，第二连接件与对应该待测内存的待测PCB压接，可实现在空间位置上抬高安装在待测PCB上的待测内存，防止检测过程中损坏安装在待测PCB上的电子元件；同时，连接件采用压接的方式与待测PCB和待测内存相连，不会对待测PCB以及待测内存的固有结构造成损坏。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。

最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。