一种用于显屏驱动芯片的静电释放保护系统以及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显屏驱动芯片的静电释放(ESD)保护，尤其涉及IXD、AM0ELD等显示屏幕的驱动芯片的静电释放(ESD)保护。
【背景技术】
[0002]摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害，常常造成电子电器产品运行不稳定，甚至损坏。摩擦或者人体引起的静电不但会使得IC内部的电源受干扰，而且也会使得显屏驱动芯片内部的寄存器被干扰，造成寄存器中的数据的改变，最终造成屏幕的显示异常。
[0003]现有技术中，对于电子产品，例如手机，为了获知静电是否对屏幕造成了干扰，需要通过系统读取显屏驱动芯片内部的寄存器的值来判断屏幕是否因ESD而受到干扰。由于每次被ESD干扰的寄存器是随机的，因此，系统无法通过每次读取固定某个寄存器的值的方式来判断屏幕是否异常。所以，系统必须要一一读取每个寄存器的值，才能获知是否有寄存器的值因ESD而改变，这给系统造成了负担，影响系统运行效率。此外，采用现有方式的一一读取每个寄存器的方式，由于读取寄存器数量过多，还会造成显示屏的闪烁，影响用户体验。
【发明内容】
[0004]为了解决现有技术的上述问题，本发明提供了一种用于显屏驱动芯片的静电释放保护系统。
[0005]所述系统包括多个静电释放保护装置和一校验和状态处理模块，其中每个所述静电释放保护装置与所述显屏驱动芯片内的一功能模块相对应。
[0006]每个所述静电释放保护装置包括首次校验和计算模块、周期校验和计算模块和校验和比较模块。
[0007]所述首次校验和计算模块包括首次校验和数据寄存器，所述首次校验和计算模块被配置成对该功能模块内的所有显示相关寄存器进行初始的校验和计算，并把计算结果存储在所述首次校验和数据寄存器中。
[0008]所述周期校验和计算模块包括周期校验和数据寄存器，所述周期校验和计算模块被配置成对该功能模块内的所有显示相关寄存器进行周期性地校验和计算，并把计算结果存储在所述周期校验和数据寄存器中。
[0009]校验和比较模块，所述校验和比较模块包括校验和状态寄存器，所述校验和比较模块被配置成将所述首次校验和数据寄存器的值与所述周期校验和数据寄存器的值作比较；如果不相等，则将所述校验和状态寄存器中的模块状态值置I ;如果相等，则将所述校验和状态寄存器中的模块状态值清O。
[0010]所述校验和状态处理模块包括静电释放结果寄存器，所述校验和状态处理模块被配置成将各个静电释放保护装置中的所述校验和状态寄存器中的模块状态值做加法运算，该加法运算的结果存储在所述静电释放结果寄存器中。
[0011]在一个实施例中，所述校验和状态寄存器的模块状态值为I表示该功能模块内已有寄存器由于静电释放原因而改变了值；所述校验和状态寄存器的模块状态值为O表示该功能模块内没有寄存器由于静电释放原因而改变了值。
[0012]在一个实施例中，所述静电释放结果寄存器的值为0，则表示所述显屏驱动芯片内不存在有任何寄存器由于静电释放而造成寄存器值改变；所述静电释放结果寄存器的值为O，则表示所述显屏驱动芯片内有寄存器由于静电释放而造成寄存器值改变。
[0013]在一个实施例中，所述静电释放结果寄存器的地址为OAh，所述静电释放结果存放在D5比特。
[0014]本发明还提供了一种用于显屏驱动芯片的静电释放保护方法，所述方法包括:
[0015]对所述显屏驱动芯片内的一功能模块内的所有显示相关寄存器进行初始的校验和计算，获得初始的校验和计算结果；
[0016]周期性地对所述功能模块内的所有显示相关寄存器进行校验和计算，获得周期性的校验和计算结果；
[0017]为所述功能模块提供fe验和状态寄存器；
[0018]将所述周期性的校验和计算结果与所述初始的校验和计算结果进行比较，若两者结果不同，则将所述校验和状态寄存器的模块状态值设置为I ;若两者结果相同，则将所述校验和状态寄存器的模块状态值清O ;
[0019]对所述显屏驱动芯片内的其他所有功能模块执行前述所有步骤；
[0020]将所述显屏驱动芯片内的所有功能模块对应的校验和状态寄存器的模块状态值进行加法运算，并将其结果存储在静电释放结果寄存器中；
[0021]通过读取所述静电释放结果寄存器的值来判断所述显屏驱动芯片内是否有寄存器由于静电释放原因而造成其值被改变。
[0022]在一个实施例中，所述校验和状态寄存器的模块状态值值为I表示该功能模块内已有寄存器由于静电释放原因而改变了值；所述校验和状态寄存器的模块状态值为O表示该功能模块内没有寄存器由于静电释放原因而改变了值。
[0023]在一个实施例中，所述静电释放结果寄存器的值为0，则表示所述显屏驱动芯片内不存在有任何寄存器由于静电释放而造成寄存器值改变；所述静电释放结果寄存器的值为O，则表示所述显屏驱动芯片内有寄存器由于静电释放而造成寄存器值改变。
【附图说明】
[0024]本发明的以上
【发明内容】
以及下面的【具体实施方式】在结合附图阅读时会得到更好的理解。需要说明的是，附图仅作为所请求保护的发明的示例。在附图中，相同的附图标记代表相同或类似的元素。
[0025]图1示出根据本发明的一实施例的用于显屏驱动芯片的静电释放保护装置的框图；以及
[0026]图2示出根据本发明的一实施例的用于显屏驱动芯片的静电释放保护方法的流程图。
【具体实施方式】
[0027]以下在【具体实施方式】中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的说明书、权利要求及附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。
[0028]校验和算法(checksum)在数据处理和数据通信领域中，是用于校验目的的一组数据项的和。本发明对显屏驱动芯片内部所有显示相关寄存器做周期性地校验和(checksum)算法处理，ESD导致任何一个寄存器变化，都能通过校验和(checksum)反映出来。手机主机只需读取一个显屏驱动芯片内部寄存器即可解决所有因ESD改变显屏驱动芯片内部寄存器造成的显示异常问题。
[0029]图1示出根据本发明的一实施例的用于显屏驱动芯片的静电释放保护系统的框图。显屏驱动芯片内部有多个执行不同功能的功能模块。每个模块内部有多个与显示相关的寄存器。本发明的静电释放保护系统包括多个静电释放保护装置101和一个校验和状态处理模块110。每个静电释放保护装置101针对显屏驱动芯片内部的一个功能模块来进行静电释放保护。每个静电释放保护装置101包括首次校验和计算单元102、周期校验和计算单元104、校验和比较单元106。
[0030]首次校验和计算模块102包括首次校验和数据寄存器。首次校验和计算模块被配置成对一功能模块内的所有显示相关寄存器进行初始的校验和计算，并把计算结果存储在首次校验和数据寄存器中。该初始的校验和计算结果作为参考值，用于判断后续的校验和计算结果是否存在变化。
[0031]周期校验和计算模块104包括周期校验和数据寄存器。周期校验和计算模块被配置成对一功能模块内的所有显示相关寄存器周期性地进行校验和运算，并把计算结果存储在周期校验和数据寄存器中。
[0032]校验和比较模块106包括校验和状态寄存器。校验和比较模块106被配置成比较首次校验和数据寄存器和周期校验和数据寄存器的值，如果不相等，则将校验和状态寄存