专利名称：光信息记录介质、介质特性规定方法、介质特性检查方法、信号检测方法、信号检测电路 ...的制作方法
技术领域：
本发明涉及如CD-R/RW的双层版、DVD±R/RW的双层版、进而将来的多层记录介质的具有大于等于双层的多层结构的可记录的光信息记录介质，其介质特性规定方法、介质特性检查方法、以及信号检测方法、信号检测电路、及光信息记录再生装置。
背景技术：
近年来，CD-R/RW或DVD±R/RW可以说作为PC的外部存储装置已经固定了。此外，CD-R/RW或DVD±R/RW今后希望更加大容量化，双层化、将来进一步的多层化也在研究中。
在这样的多层介质中，一般设定层间距离，以便从存取中以外的记录层反射的光不漏入来自存取中的记录层的反射光。这是由于如果从焦点位置离开很远，则来自介质的反射光不由透镜进行聚光而发散，因此成为作为信号强度可以忽略的电平。但是，作为光学上的限制，必需在可以得到良好的各种特性的焦点允许范围(焦点深度)以内设定多层的全部，层间距离无法如理想的那样扩大。因此，也不少发生来自其它层的反射光的漏入。
这里，作为实用化的多层的例子，有DVD-ROM的双层版。因为两层都是在工厂压制(stamp)的再生专用，所以对于各种变动的余量(margin)也大，追踪采用使用从称为DPD(Differential Phase Detection，微分相位检测)的再生信号的边缘(edge)得到的相位差的方式，对来自其它层的反射光漏入引起的光量(信号强度)变化确保了强的抗性。当然，由于是再生专用，所以不必检测轨道(槽)或轨道的弯曲引起的摆动(wobble)，来自其它层的反射光的漏入引起的缺陷少。
此外，具有多个可记录的层的介质例如公开在专利文献1、2等中。这些发明中，已经确定可多层记录的介质的记录膜特性、特别是记录膜的厚度、材料等，从而提高多层记录的实现性。此外，专利文献3中，公开了对多层记录介质的各层配置摆动，并在该摆动中插入地址信息。
进而，作为基础研究，多层记录的实现性不断提高，与此相伴也指出、发明了必需的技术。当然，在多层介质中，必需各种伺服信号或摆动信号，为了提高互换性或保持稳定的质量，重要的是管理这些信号特性，或者作为标准来确定。
专利文献1特开2000-235733号公报专利文献1特开2003-091874号公报专利文献1特开2001-052342号公报但是，在多层记录介质的情况下，来自其它层的反射光的漏入成为大的问题。例如，在邻接的记录层为未记录区的情况下，由于反射率高，所以反射光大。由于该反射光的焦点偏离，因此不会在光接收元件上完全聚光，但由于漏入到来自存取中的记录层的本来的反射光，所以反射光不表示正确的值。反之，在邻接的记录层为已记录区的情况下，由于反射率低，所以漏入量小。此外，在多层的情况下，从任何层都发生漏入，但特别来自邻接的记录层的漏入的恶劣影响最大。
从而，记录介质的各种信号特性由记录膜组成、记录膜厚、槽深、槽宽等多个参数调整。如专利文献1、2所示，记录特性中记录膜材料的调整是主要的。但是，两个专利文献1、2都未示出各种信号规格。这里，本说明书以及权利要求的范围所示的‘各种信号’有光束在介质上横切由称作凹槽的槽刻的轨道时得到的轨道交叉(track cross)信号和追踪误差(tracking error)信号等伺服信号、通过其它轨道的弯曲而刻的包含介质的转速或地址信息的摆动信号等。当然，不仅这些，再生(RF)信号的振幅也可以说同样。这些信号特性基本上通过振幅的规定而决定，从吸收光束强度或电路放大率等测定条件的不同的目的出发，由和信号归一化后进行处理。但是，来自邻接的记录层的反射光漏入而在和信号中产生误差时，产生这些误差的规定变得不正确的缺陷。
此外，来自这些邻接的记录层的反射光的漏入根据光学系统而变化很大，因此缺乏可靠性、互换性差。
在邻接的记录层是已记录区的情况下，由于反射率低，所以反射光小，对存取中的记录层的漏入引起的缺陷可以减小。
另一方面，在邻接的记录层是已记录区的情况下，虽然很弱，但其反射光的记录数据分量漏入存取中的记录层的反射光中。对于伺服信号，由于信号频带不同，因而不成问题，但由于摆动信号接近记录数据频带，因此需要注意。从而，期望在摆动信号的质量规定中，规定邻接的记录层为已记录的情况下的C/N(载波噪声比)比。
这样，各种信号规格根据邻接的记录层的记录状态(未记录或已记录)而不同，因此在考虑记录层仅为1层(单层)的现有的规定方法中，无法进行稳定的特性管理或标准数值的决定。
发明内容
本发明的目的在于抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定、检查。
本发明为了实现上述目的提供如下的光信息记录介质。
一种光信息记录介质，在具有可记录的多个记录层的光信息记录介质中，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。
此外，所述各种信号特性的值也可以在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。由此，不必在每层变更各种检测电路的特性，可以采用廉价的评价装置、记录再生装置进行处理。
此外，所述各种信号特性由所述区域Y也是未记录区的条件决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同也可以。由此，不需要用于在未记录条件和已记录条件两方满足信号特性的各种参数的复杂的调整，可以缩短开发期间，此外，可以进行重点在于对记录再生动作不利的已记录条件的特性改善的调整。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。由此，轨道交叉信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。由此，可以得到良好的摆动信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的介质旋转以及地址检测性能的记录再生装置。
进而，也提供如下的介质特性规定方法。
一种介质特性规定方法，对于具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。
此外，所述各种信号特性的值也可以在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。由此，不必在每层变更各种检测电路的特性，可以采用廉价的评价装置、记录再生装置进行处理。
此外，所述各种信号特性由所述区域Y是未记录区的条件决定，并且，在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同也可以。由此，不需要用于在未记录条件和已记录条件两方满足信号特性的各种参数的复杂的调整，可以缩短开发期间，此外，可以进行重点在于对记录再生动作不利的已记录条件的特性改善的调整。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。由此，轨道交叉信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。由此，可以得到良好的摆动信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的介质旋转以及地址检测性能的记录再生装置。
进而，也提供如下的信号检测方法以及信号检测电路。
一种信号检测方法，比较在照射到光信息记录介质具有的可记录的多个记录层中、某记录层A的某一区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A连接到入射端的记录层B的区域Y是未记录区的条件中的所述区域X的反射信号电平，和所述区域Y是已记录区的条件中的所述区域X的反射信号电平，并基于该比较结果，根据所述区域Y的记录状态，进行所述区域X中的各种信号的放大率或偏移(offset)的变更。
一种信号检测电路，包括采样电路，保持光信息记录介质具有的可记录的多个记录层中、某记录层A的某一区域X的反射信号电平；记录状态判别电路，判别在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是未记录区还是已记录区；存储电路，在所述区域Y是未记录区以及已记录区的各个情况下，存储保持在所述采样电路中保持的采样电路的输出；比较电路，求从该存储电路输出的、所述区域Y为未记录区时和已记录区时的信号的差；信号校正电路，将该比较电路的输出以及所述区域X的反射信号电平作为控制信号，变更各种信号的放大率或偏移；以及选择部件，根据所述记录状态判别电路的输出，选择是否作为所述信号校正电路的控制信号使用所述比较电路的输出。由此，与邻接的记录层的记录状态无关，可以检测振幅变动、偏移变动少的良好的质量的各种信号。
进而，也提供如下的光信息记录再生装置。
一种光信息记录再生装置，具有旋转机构，旋转驱动光信息记录介质；以及拾取器(pickup)，具有光源、物镜，对所述光信息记录介质照射光束，同时接收来自所述光信息记录介质的反射光，以技术方案1记载的光信息记录介质为对象，进行信息的记录或再生。由此，由于对上述光信息记录介质进行信息的记录再生，所以与邻接的记录层的记录状态无关，可以稳定地实现具有可靠性高的伺服性能、高速的存取性能的信息记录再生装置。
此外，上述光信息记录再生装置也可以装载上述信号检测电路。由此，与邻接的记录层的记录状态无关，可以稳定地实现具有可靠性高的伺服性能、高速的存取性能的信息记录再生装置。
进而，也提供如下的介质特性检查方法。
一种介质特性检查方法，是具有可记录的多个记录层的光信息记录介质的介质特性检查方法，通过在所述区域X中成为聚焦点的光束的光线轴上对于该记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件，来检查所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的检查。
此外，所述各种信号特性的值也可以在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。由此，不必在每层变更各种检测电路的特性，可以采用廉价的评价装置、记录再生装置进行处理。
此外，所述各种信号特性由所述区域Y是未记录区的条件决定，并且，在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同也可以。由此，不需要用于在未记录条件和已记录条件两方满足信号特性的各种参数的复杂的调整，可以缩短开发期间，此外，可以进行重点在于对记录再生动作不利的已记录条件的特性改善的调整。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。由此，轨道交叉信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。
此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。由此，可以得到良好的摆动信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的介质旋转以及地址检测性能的记录再生装置。
根据本发明，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定、检查。
图1是表示一般的且本实施方式中也应用的光信息记录介质的图。
图2是表示提取各种信号的信号处理块的基本结构例的方框图。
图3是用于说明双层记录介质的记录、再生原理的示意图。
图4是用于说明双层记录介质的情况下的来自各层的反射光的影响的示意图。
图5是用于以信号电平说明来自双层记录介质的情况下的来自各层的反射光的影响的示意图。
图6是表示各种信号的归一化处理用的结构例的方框图。
图7是表示轨道交叉信号以及轨道误差信号的波形例的图。
图8是表示摆动信号的波形例的图。
图9是表示从已记录区检测的摆动信号的波形例的图。
图10是表示信号检测电路的一例的方框图。
图11是表示信号检测电路的其它例的方框图。
图12是表示光盘装置的一结构例的方框图。
标号的说明1光信息记录介质2凹槽(槽)3岸(land)4轨道11四分割PD(photo decetor，光检测器)(光接收元件)12I/V电路13伺服以及摆动检测电路21LPF22、25～28放大器23振幅检测电路24增益电路29、42信号校正电路31、41信号检测电路
32记录状态判别电路33采样电路34存储电路35比较电路36开关电路(选择部件)37、43加法器37选择部件51光盘装置(光信息记录再生装置)52拾取器53电机驱动电路54半导体激光器(光源)55物镜56致动器57激光器驱动部58策略(strategy)发生部59激光器驱动电路60RF检测电路具体实施方式
参照
用于实施本发明的最佳的方式。
图1是表示一般的且本实施方式中也应用的光信息记录介质(media)1的一结构例的图。这里，图1(a)是介质1的概略平面图，图1(b)是提取介质1的一部分进行表示的概略透视图。
在介质1中以同心圆状或螺旋状形成有由凹槽(槽)和岸3构成的轨道4。该轨道4由介质形成装置预先形成。信息记录再生装置沿该轨道4进行信息的记录、再生。此外，在介质1中，作为旋转信息，在以线速度一定或角速度一定旋转的情况下，轨道4进行弯曲，以便可检测一定频率(周期)的信号(参照图1(b))。在CD-RW或DVD+R/RW中，将该轨道4的弯曲设为大概一定频率，同时设置稍微改变频率或相位的部分，从而记录地址信息。此外，也有仅轨道的一侧弯曲的情况，或弯曲间断地中断的情况。
图2表示接收照射到介质1的光束的反射光，并提取各种信号的信号处理块的一例。由四分割PD(光接收元件)11接收来自介质1的反射光。该四分割接光收元件11由光学上对应于介质面的轨道切线方向和与其垂直方向的分割线区分为四个光接收区域。为了方便而将各光接收区域从左前开始按顺时针设为A～D。I/V电路12将作为电流信号的光接收元件输出变换为电压信号。此外，通过伺服以及摆动检测电路13的加法放大器、减法放大器、LPF(低通滤波器)或HPF(高通滤波器)，从被电压变换的信号中提取各种信号。轨道交叉信号是(A+B+C+D)的运算结果的低频信号。轨道误差信号是(A+D)-(B+C)的低频信号。摆动信号是与轨道误差信号相同的运算，但是高频信号。聚焦误差信号是(A+C)-(B+D)的低频信号。此外，再生(RF)信号最好由高频带的其它电路运算，因此这里没有记载，但运算为(A+B+C+D)。
这里图示的是各种信号的最简单的运算方法，但当然光接收元件(PD)的分割形状不限于此，也可以进一步细分割，反之也可以减少2、3分割。即，只要对应于各个光接收方式而使信号运算最佳化就可以。此外，轨道误差信号也可以是DPD(微分相位检测)法。此外，也可以是从由主(main)和副(sub)构成的多个光束检测各种信号的情况。例如，轨道误差信号是接收三个光束来进行运算的三光束法或DPP(Differential push-pull，微分推挽)法等的情况。另外，轨道交叉信号也可以通过三光束进行运算。此外，聚焦系统也可以是光接收元件。
此外，摆动信号可以由与轨道误差信号不同的电路运算，也可以在减法放大器之前插入各种校正电路。
即，只要通过检测法而使运算法适当就可以，不依靠从该介质1引出信号的方法、部件。
图3是作为多层结构表示双层记录介质1的示意图的图。记录层有第一层(相当于记录层B)和第二层(相当于记录层A)的两个，光束入射到第一层。在第一层，以吸收率“A1”吸收光束的能量并进行记录。此外，由于反射率“R1”在标记(已记录区)和空间(space)(未记录区)不同，因此可以从第一层的反射光中读取记录的数据。同时，以第一层记录膜的透过率“T1”透过的光束到达第二层。在第二层通过以吸收率“A2”吸收的能量进行记录。然后，与第一层同样，由于第二层的反射率“R2”在标记和空间不同，因此可以从第二层的反射光中读取记录的数据。详细地说，在来自第二层的反射光再次透过第一层时，进行吸收以及反射，但在第二层中的反射时刻，由于光束强度充分减弱，因此在第二次到达第一层的时刻不进行记录。只要考虑为在多层的情况下也发生同样的现象就可以。此外，与记录膜的类型为追记型(R)还是重写型(RW)无关，只要考虑为发生同样的现象就可以。
图4是用于以双层记录介质1为例说明光束的流向的图。图4(a)是使光束的焦点聚焦在第一层记录膜的情况。此外，从光源到介质1的光(去路)以实线表示，来自介质1的反射光(归路)以虚线表示。此外，在图4中，为了简化而仅表示从物镜一侧入射的光的路径。光束从物镜向介质存取位置(焦点)聚光。该光束的光线轴以点划线表示。由第一层反射的大部分的光束再次返回物镜，这里虽未图示，但经过周围的光学系统而会聚在光接收元件(PD)上。另一方面，由第二层反射的光束中通过物镜中央部分的光束的反射光返回物镜外侧，或者即使返回到物镜也在光接收元件之前的光学系统中发散，被引导到光接收元件的情况少。即，来自第二层的反射光漏入来自第一层的反射光的情况比较少。
另一方面，在图4(b)是在第二层上聚焦的情况。与第一层时同样，来自焦点聚焦的第二层的反射光返回到物镜，聚光到光接收元件上。从第一层反射的光束中物镜中央的光也返回物镜，所以聚光在光接收元件上。但是，在图4(a)中，关于通过不返回光接收元件的物镜的一端的光，大部分返回物镜，所以可以说在光接收元件之前的光学系统中发散，被引导到光接收元件的光比图4(a)的情况多。另外，在焦点附近的部分放大图中，将第一层记录膜表示为记录层B，将第二层记录膜表示为记录层A。此外，将光线轴上的记录层A、B的点设为X点、Y点。另外，各点的大小具体是基于各层中的光束径的区域(X区域、Y区域)。
这样，在光束的焦点聚焦到第一层上的情况和焦点聚焦到第二层上的情况下，来自其它层的漏入的情况变化。具体来说，在从入射面存取里面的层(第二层)的情况下，近前的层(第一层)的反射光漏入并产生恶劣影响的情况多。此外，可以说在近前的层为已记录状态且反射光量少的情况下，恶劣影响减少。
图5以信号电平对其进行说明。上侧表示从第一层的记录膜反射光得到的信号电平，下侧表示从第二层的记录膜反射光得到的信号电平。此外，图5(a)表示第一层(记录层B)未记录的情况，图5(b)表示第一层(记录层B)已记录的情况下的信号电平。此外，图5中的粗线是基准(GND)电平，SIN波是以轨道交叉信号为例的信号电平。进而，图5中的小的虚线表示漏入引起的信号电平的偏移。
在图5(a)所示的第一层未记录的情况下，由于反射光大，所以在对第二层进行存取并接收了反射光的情况下，来自第一层的反射光漏入的大，信号电平变大。一般地，由于漏入光进入光接收元件整体，因此和光量变大。由于轨道交叉信号是和信号，所以产生信号电平增大的现象。
反之，如图5(b)所示，在第一层已记录的情况下，由于反射光小，所以在检测第二层的信号时，不成为大的漏入，影响小。由此可知，第二层的信号电平较大地受第一层的记录状态(未记录或已记录)支配。另外，如图5所示，第一层的信号电平和第一层已记录的状态中的第二层的信号电平大致相等。
在上述说明中，以轨道交叉信号为例简单地进行了说明。但是，在实用上，光束的光量变化、检测电路的增益(放大率)等根据测定系统而不同，因此各种信号的规定通常由和信号(四分割光接收元件的情况下四个的相加)归一化。图6表示该电路块的一例。和信号由LPF21平均化，通过放大器22。该输出的振幅或信号电平由振幅检测电路23测定，并由增益电路24决定放大率，以便成为目标的电压(目标值)。放大器22以该放大率放大信号。通过该一系列的动作，归一化和信号被保持在目标的电压。其它的信号(聚焦差错信号、轨道交叉信号、轨道差错信号、摆动信号等)也以与其相同的放大率(增益电路的输出)由放大器25～28放大，生成各种归一化信号。这样的振幅的调整电路称为AGC(自动增益控制)电路(信号校正电路)29。当然，这些处理在由A/D转换器数字化之后，即使数据处理地进行也能得到同样的效果。
由AGC电路29归一化了的各种信号，在通过来自其它层的反射光的漏入而在和信号中产生了误差的情况下，放大率变得不正确，信号规定中产生误差。从而，期望没有来自其它层的反射信号的漏入的状态下的信号特性的规定。
因此，本实施方式中的第二层(记录层A)的信号规定(振幅等)中，在第一层(记录层B)已记录的情况下(更一般地说，在邻接层已记录的情况下)确定各种信号特性的规格。此外，本实施方式中的第二层(记录层A)的信号检查(振幅等)中，在第一层(记录层B)已记录的情况下(更一般地说在邻接层已记录的情况下)进行各种信号特性的检查。另外，各种信号特性也可以在多个记录层中以相等的值为目标值。
此外，即使在实际进行记录再生动作的情况下，来自其它层的反射光漏入也产生恶劣影响，所以期望可以进行邻接层已记录的状态下的再生以及记录。在所述的说明中，期望在近前的层为已记录的状态下，以对里面的层进行存取的顺序对介质进行记录。
图7是以与介质1的轨道4的关系表示轨道交叉信号和轨道误差信号的波形的图。轨道交叉信号是在记录信息(由标记和空间构成)的岸3的中心信号电平降低的波形。此外，轨道误差信号是在凹槽中心零交(zero-cross)信号波形。具体来说，作为特性值由于与记录密度的关系不同，因此难以确定，最好为“归一化轨道交叉信号＞0.1”或“0.22＜归一化轨道误差信号＜0.8”左右。特别适于以蓝色激光为光源的记录密度，这是考虑在扩大凹槽宽并推进窄轨道化的方面，在“归一化轨道交叉信号＞0”或“0.2＜归一化轨道误差信号＜0.5”左右。
图8是表示摆动信号的波形例的图。这里，图8(a)是没有调制的单调。此外，图8(b)是重叠了FM调制的摆动波形。为了包含地址等信息而插入调制。同样，图8(c)是重叠了PM调制的摆动波形，图8(d)是重叠了锯齿调制的摆动波形，图8(e)是重叠了MSK调制的摆动波形，图8(f)是重叠了ON-OFF调制的摆动波形。当然不限于这些例子，摆动信号的特性也通常由振幅确定。不是直接从和信号规定，而是从轨道误差信号(也称为推挽信号)规定的情况较多，由于轨道误差信号自身由和信号规定，因此和信号由于来自邻接层的反射光而具有误差，摆动信号的规定也不能信赖。因此，与伺服信号相同，由于来自多层的反射光的漏入而需要不发生误差的特性值的规定。具体来说，作为特性值，最好为“0.05＜归一化摆动信号＜0.3”左右。
图9是表示从已记录区检测的摆动信号的波形例的图。A+D、B+C是图2的方框图中的伺服以及摆动检测电路13中的加法器输出，(A+D)-(B+C)是摆动信号。A+D以及B+C信号与摆动信号相比，是在信号强度强的数据信号中埋入摆动分量的状态。这里，通过计算两者的差分，除了作为同相分量重叠到两信号上的数据信号之外，还可以检测摆动信号。但是，由于光学偏差或介质倾斜、记录标记的形状等的影响，A+D和B+C的两信号上重叠的数据信号的强度产生差时，不能从摆动信号中完全除去数据信号，而作为噪声残留。一般地，摆动质量由C/N(载波比噪声)来规定。在现有的单层记录的情况下，具体来说，虽然根据摆动频率而不同，但最好为“摆动C/N值＞31dB”左右。这是在从已记录的邻接记录层漏入反射光的情况下，由于反射光上重叠了数据信号分量，因此对于摆动信号成为噪声，质量降低。对邻接记录层的光束不完全聚光，因此数据信号等高频分量的强度不那么强，但是摆动信号与数据信号相比，仅能得到非常小的振幅，因此不能忽略。因此，摆动信号质量的规定也与振幅规定同样，期望在邻接记录层已记录的状态下进行。
另外，如果是仅在邻接的记录层全部已记录的情况下进行记录再生，只要根据其规定设计电路特性就可以。但是，尽可能要在未记录的情况下也进行记录再生。因此，在邻接的记录层未记录的情况下和已记录的情况下，考虑预先测定漏入的反射光的量，并根据邻接的记录层的记录状态校正其差。另外，在第一层(记录层B)未记录的条件下也确定各种信号特性，并且也可以使其与由第一层(记录层B)已记录的条件确定的第二层(记录层A)中的各种信号特性不同。
图10以及图11表示用于预先取得来自其它层的反射光漏入级别(level)，并对其进行校正从而正确地检测各种信号的信号检测电路31、41的电路结构。图10是表示包含AGC电路的信号检测电路的一例的图，图11表示在图10的AGC电路的结构简化了的信号检测电路的一例。此外，两图中以虚线表示的各种信号用的部分都可以与图2同样以相同的结构连接多个，并可以与各种信号(聚焦误差信号、轨道交叉信号等)对应。在说明上由于是相同的电路，所以省略。
首先，记录状态判别电路32判别目的的存取记录层的邻接记录层是未记录区还是已记录区。这可以预先再生介质管理区，并在其外部信息和当前的存取位置的比较中进行推测。当然也可以将由其它的部件检测出的结果作为外部信息。在该记录状态判别电路32中，确认邻接记录层的记录状态，同时采样电路33以邻接的记录层未记录和已记录的两条件保持和信号的反射信号电平(可以是最大振幅或平均值)，并由存储电路34存储该电平的结果。此时，存取中的记录层需要将两条件都设为未记录或已记录的相同条件。存储电路34将存储的邻接的记录层是未记录的情况的和信号电平，和已记录的情况的和信号电平输出到比较电路35。比较电路35运算两个和信号电平的差。根据记录状态判别电路32的输出，通过使开关电路(选择部件)36接通-关断来决定是否经由加法器37使用该比较电路35的输出信号作为信号校正电路(AGC电路)29的控制线。
作为具体的例子，在邻接的记录层未记录的情况下，由于反射光的漏入大，因此控制线接通，作为信号校正电路29的控制线使用，而在已记录的情况下关断控制线而不使用。图10中的信号校正电路(点划线)29构成与由图6所示的和信号归一化的AGC电路同样的电路。进行将和信号的电压设为目标值的动作，但通过由加法器37对该和信号加上(或减去)比较电路35的输出，可以除去和信号电平由于来自邻接的记录层的漏入而偏移的部分。此外，不仅偏移而且增益也可以进行同样的动作。即，通过根据比较电路35的输出变更增益电路24的目标电压，只要设定为除去和信号偏移的部分的目标电压就可以。与图6的说明同样，如果由用于将各种信号的放大率设为与和信号的放大率相同的放大器25～28构成，则由和信号进行归一化。
图11所示的信号检测电路41也同样，但图11中的信号校正电路42不是由和信号归一化的AGC，而是独立地校正各种信号的偏移或增益。与所述说明相同，比较电路35的输出通过记录状态判别电路32由开关部件36接通-关断。通过该比较电路35的输出，经由加法器43直接校正各种信号的偏移或增益。
图12是表示光盘装置(光信息记录再生装置)51的一结构例的图。光盘装置51可以分为装载了光学系统的拾取器52、拾取器52的移动或旋转光信息记录介质(media)1的电机驱动电路53、各种电路。
另外，拾取器52包括作为光束的光源的半导体激光器54、将光束导入各元件的光学部件、是光束聚光到介质1上的物镜55、控制为了使光点追踪要求的位置的透镜位置的致动器56、接收来自光盘1的反射光的光接收元件(PD)11。
此外，电路是由决定使半导体激光器54发光的电流的激光器驱动部57和决定记录以及再生发光波形的策略发生部58构成的激光器驱动电路59。半导体激光器54的电流相对光输出特性根据温度而变化大，因此一般装载有检测由激光器驱动部57输出的光强度并使输出稳定的输出控制功能。光强度的检测可以使用半导体激光器54中内置的光接收元件，也可以构筑未图示的专用的光学系统。作为记录数据从外部传输的用户数据在由CPU等控制的编码器中被变换为记录信息之后，从编码器传送到激光器驱动电路59并被记录在介质1中。
作为其它的电路，由光接收元件11接收的来自介质1的反射信号通过I/V电路12进行电流/电压变换，并被传送到RF检测电路60或伺服以及摆动检测电路13。该I/V电路12在初级电路的位置，最好在再生时和记录时分别设定适合的变换效率(增益)。RF检测电路60提取记录在介质1中的信息分量，并将提取的信息分量传送到解码器。此外，被传送的信息分量由解码器变换为用户数据。
在包含如所述的信号检测电路31、41等的伺服以及摆动检测电路13的伺服系统中提取点的位置信息，并对为了使光点追踪要求的位置的电机驱动电路53发出指示，使拾取器52或致动器56移动。多层间的聚焦(焦点)移动也通过致动器56的移动进行。此外，在摆动系统中，基于由介质1上的轨道切线方向的分割线二分割的光接收元件11中的输出的差分的推挽信号来提取刻在轨道4上的摆动信号分量，并传送到例如地址检测电路或时钟生成电路等，用于介质1上的绝对位置的管理或与介质旋转同步的时钟生成、介质旋转控制。
权利要求
1.一种光信息记录介质，具有可记录的多个记录层，其特征在于，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来进行决定。
2.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的值在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。
3.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性也由所述区域Y是未记录区的条件决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同。
4.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。
5.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。
6.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。
7.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。
8.一种介质特性规定方法，其特征在于，对于具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来进行决定。
9.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的值在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。
10.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性也在所述区域Y是未记录区的条件下决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同。
11.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。
12.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。
13.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。
14.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。
15.一种信号检测方法，比较在照射到光信息记录介质具有的可记录的多个记录层中、某记录层A的某一区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A连接到入射端的记录层B的区域Y是未记录区的条件中的所述区域X的反射信号电平，和所述区域Y是已记录区的条件中的所述区域X的反射信号电平，并基于该比较结果，根据所述区域Y的记录状态，进行所述区域X中的各种信号的放大率或偏移的变更。
16.一种信号检测电路，其特征在于包括采样电路，保持光信息记录介质具有的可记录的多个记录层中、或者记录层A的某一区域X的反射信号电平；记录状态判别电路，判别在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是未记录区还是已记录区；存储电路，在所述区域Y是未记录区以及已记录区的各个情况下，存储保持在所述采样电路中保持的采样电路的输出；比较电路，求从该存储电路输出的、所述区域Y为未记录区时和已记录区时的信号的差；信号校正电路，将该比较电路的输出以及所述区域X的反射信号电平作为控制信号，变更各种信号的放大率或偏移；以及选择部件，根据所述记录状态判别电路的输出，选择是否作为所述信号校正电路的控制信号使用所述比较电路的输出。
17.一种光信息记录再生装置，其特征在于，具有旋转机构，旋转驱动光信息记录介质；以及拾取器，具有光源、物镜，对所述光信息记录介质照射光束，同时接收来自所述光信息记录介质的反射光，以权利要求1记载的光信息记录介质为对象，进行信息的记录或再生。
18.如权利要求17所述的光信息记录再生装置，其特征在于，装载有权利要求16所述的信号检测电路。
19.一种介质特性检查方法，是具有可记录的多个记录层的光信息记录介质的介质特性检查方法，其特征在于，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，根据在所述区域X中成为聚焦点的光束的光线轴上对于该记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来进行检查。
20.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性的值在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。
21.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性也在所述区域Y是未记录区的条件下检查，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件检查的所述区域X中的各种信号特性不同。
22.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。
23.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。
24.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。
25.如权利要求19所述的介质特性检查方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。
全文摘要
一种具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，其中所述多个记录层中、记录层A(第二层)的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A(第二层)邻接到入射端的记录层B(第一层)的区域Y是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。
文档编号G11B7/24GK1774743SQ200480009780
公开日2006年5月17日 申请日期2004年7月29日 优先权日2003年8月22日
发明者前川博史 申请人:株式会社理光