专利名称：光盘机烧录方法
技术领域：
本 发明涉及一种光盘机烧录方法，尤其是涉及光盘机在切换烧录倍速时，调整适当烧录功率，以确保烧录品质的烧录方法。
背景技术：
可烧录型的光盘片一般通过读取头发出的激光光束照射光盘片，利用激光光束的烧录功率，在光盘片上烧录成凹洞或相变形等不同长度的记号，造成有记号及无记号间反射光量的差异，形成数字信号以记录数据。如图1所示，为背景光盘机的烧录方法，利用主轴马达1转动光盘片2，使读取头3 沿着光盘片2径向来回移动，并发射激光光束投射至光盘片2。根据转动光盘片内圈与外圈不同的移动速度特性，将光盘片2由内圈向外圈划分几个不同的多个烧录倍速区，由低烧录倍速(Data Transfer Rate)阶段性变化至高烧录倍速，例如2X，4X，6X至8X等烧录倍速区，以提高烧录效率。因光盘片2的制造厂商繁多，所用的材料、成分及制作工艺上有所差异，造成光盘片2对激光光束具有不同的反应灵敏性。虽然，光盘片2在导入区4预先存储推荐各种烧录倍速适用的烧录功率、烧录策略(Write Strategy)及品质参数(即Beta参数)，但对不同光盘机的个别特性差异仍会产生不同的结果。因而在光盘片2内圈的导入区4，另规划功率测试区，供低烧录倍速2X对推荐烧录功率的前后范围进行实际烧录测试，并读出测试烧
录记号，根据各记号所产生的反射光量、解码正确性、信号强度......等计算出品质参数，
以评估烧录记号的好坏。再由推荐的品质参数为目标，选择相对应的烧录功率，作为该光盘片的最佳烧录功率，完成最佳功率控制(Optimum Power Control，简称0PC)测试。由于高烧录倍速的速度较快，无法直接引用低烧录倍速2X的最佳烧录功率，必须利用低烧录倍速 2X的OPC测试结果，根据以往光盘片的使用经验，推估其余高烧录倍速的烧录功率，再进行烧录数据。然而，利用经验值推估的高烧录倍速的烧录功率变异性太大，导致光盘片不易维持稳定的烧录品质。虽然，另有背景技术中国台湾公告第127083号专利案，利用低烧录倍速2X的OPC测试结果，直接进行烧录数据，并边烧录边监控品质参数，通过经验值补偿烧录功率达到目标品质参数，因无法掌握正确各高烧录倍速的烧录功率及补偿值，品质参数无法快速收敛至目标值。也有背景技术中国台湾公开第200917233号专利案，在各烧录倍速进行实际烧录测试，但需在每一高烧录倍速区空出测试空间，将减少光盘片的储存容量，且需准备及传输各高倍速的测试数据与模式，中断正常数据烧录，增长烧录时间，影响烧录效率。因此，现有光盘机的烧录方法，在高低烧录倍速烧录功率的调整上，仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光盘机烧录方法，通过比对各烧录倍速烧录策略的能量面积，与实测预定烧录倍速能量面积的比例，由低烧录倍速2X的OPC测试结果取得各烧录倍速烧录功率，以维持稳定的烧录品质。本发 明另一目的在于提供一种光盘机烧录方法，利用利用烧录策略中各烧录倍速部分常用能量面积的比例，以快速获得各烧录倍速接近的烧录功率。本发明再一目的在于提供一种光盘机烧录方法，利用烧录策略中各烧录倍速能量面积的比例，获得各高烧录倍速品质参数对烧录功率的变化率，补偿烧录功率，快速收敛至目标值品质参数，以提高烧录效率。为了达到前述发明的目的，本发明的光盘机烧录方法，首先接收烧录光盘片的指令；对最低烧录倍速的预定烧录倍速进行OPC测试，由预定烧录倍速的目标品质参数及品质参数对烧录功率的关系，获得预定烧录倍速的烧录功率；计算各烧录倍速所有或常用部分的烧录策略的能量面积比例；以各烧录倍速的能量面积比例与预定烧录倍速的烧录功率的乘积，作为各烧录倍速的烧录功率。本发明另一实施例的光盘机烧录方法，对仍有偏差的各烧录倍速烧录功率，在进行烧录时，通过自动烧录控制，由测试品质参数与目标品质参数的落差，根据预定烧录倍速的品质参数与烧录功率的变化率，依能量面积的比例倍数增加烧录功率差值，在各烧录倍速区补偿烧录功率。
图1为背景光盘机的烧录方法的示意图；图2为光盘片烧录记号的示意图；图3为本发明不同烧录倍速记号能量面积变化的关系图；图4为本发明第一实施例光盘机烧录方法OPC测试的示意图；图5为本发明第一实施例光盘片烧录方法的流程图；图6为本发明第二实施例光盘机烧录方法OPC测试的示意图；图7为本发明第二实施例补偿烧录功率的示意图；图8为本发明第一实施例光盘片烧录方法的流程图。主要元件符号说明10激光光束11数据轨槽12 记号13不清晰记号14过大记号
具体实施例方式有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并配合附图加以说明如下。请参阅图2，为光盘片烧录记号的示意图。光盘机接收烧录指令烧录特定单位时间T长度的记号时，根据光盘片预先储存各记号长度的烧录策略，例如3T至IlT记号的烧录策略，以相对应该记号长度的烧录策略，本实施例以3T记号为例，调变激光光束10烧录功率的节距宽度(Pitch WidthModuration，简称PWM)，控制激光光束10的照射能量，在数据轨槽11中，烧录如斜线所示适当大小的记号12。假如激光光束10的烧录功率太小，照射能量不足，将烧录成过小或甚至不清析的记号13 ；反之，激光光束10的烧录功率太大，照射能量超量，将烧录成过大的记号14。因此，激光光束10的烧录功率太小或太大，导致光盘机接收激光光束10的反射光，产生太大的变化，造成数字信号的误判，而影响品质参数。 各光盘片预先储存适合其特性的各烧录倍速的烧录功率、烧录策略及目标品质参数。其中烧录策略根据其烧录功率电平，对各烧录倍速3T至IlT记号，设定不同的始升烧录功率R、停顿烧录功率D及终降烧录功率F，各烧录功率间并设定特定的间隔时间，使烧录的记号维持在稳定的目标品质参数。以烧录策略3T记号为例，始升烧录功率R、停顿烧录功率D及终降烧录功率F的间隔各为一单位时间T，其照射能量恰可在该光盘片形成适当大小的3T记号，达到光盘片所要求的目标品质参数。由烧录策略调变的烧录功率形成的烧录功率曲线，其所含盖的面积，如图中斜线区域A所示，为烧录策略的烧录功率及其间隔时间的乘积，即形成该记号所需激光光束13的能量面积。因此，本发明就不同的烧录倍速，相同记号烧录策略所形成的能量面积，具有相同间隔时间，而烧录策略又以各烧录倍速烧录功率的电平设定，各烧录倍速记号烧录策略的能量面积比例应相等于各烧录倍速烧录功率的比例。如图3所示，为本发明不同烧录倍速记号能量面积变化关系。本发明以2X及4X烧录倍速的3T记号为例，在3T记号的烧录策略设定下，相同的3T时间及烧录功率升降，使2X及4X烧录倍速的能量面积维持基本相似的形状，仅有2X及4X烧录倍速烧录功率电平P2及P4的高低不同。因此，2X及4X烧录倍速的能量面积比例A2 :A4，相等于2X及4X烧录倍速烧录功率电平比例P2 :P4，而形成P2/ P4 = A2/A4。如图4所示，为本发明第一实施例光盘机烧录方法的OPC测试。本发明利用背景技术的OPC测试，对一预定的烧录倍速进行测试。获得预定烧录倍速烧录功率与品质参数的关系L，由光盘片所储存预定烧录倍速的目标品质参数B0，取得预定烧录倍速的烧录功率P0。再利用各烧录倍速的能量面积与预定烧录倍速的能量面积比例，计算出各烧录倍速的烧录功率Pn。例如将预定烧录倍速设为最低的2X烧录倍速，经OPC测试获得烧录功率P2，计算出2X及4X烧录倍速的能量面积A2、A4，利用其能量面积比例A4/A2，快速求得4X烧录倍速的烧录功率P4 = P2XA4/A2。同样利用各烧录倍速的能量面积与2X烧录倍速的能量面积的比例，再计算出其余各烧录倍速的烧录功率，以进行数据烧录。如图5所示，为本发明第一实施例光盘机烧录方法的流程图。本发明利用计算各烧录倍速的能量面积比例，获得各烧录倍速的烧录功率的步骤，详细说明如下首先在步骤 Si，接收烧录具多个烧录倍速区光盘片数据的指令；进入步骤Si，对一预定烧录倍速，例如最低的2X烧录倍速，进行OPC测试；在步骤S3，取得预定烧录倍速品质参数对烧录功率的关系；再进入步骤S4由预定烧录倍速的目标品质参数及步骤S3品质参数对烧录功率的关系，求得所对应的预定烧录倍速烧录功率；接着进入步骤S5，计算光盘片存储各烧录倍速烧录策略的能量面积；在步骤S6计算各烧录倍速与预定烧录倍速的能量面积比例；然后进入步骤S7，将各烧录倍速的能量面积比例乘以预定烧录倍速烧录功率，求得各烧录倍速的烧录功率。最后进入步骤S8,以各烧录倍速的烧录功率，完成烧录数据。前述本发明第一实施例的步骤S5，虽然计算各烧录倍速与预定烧录倍速的所有烧录策略的能量面积，例如记号3T至IlT的能量面积，做为能量面积比例的依据。但一般的烧录所使用的记号，3T至5T的记号占百分之八十以上。因此，假如仅计算3T至5T等常用记号的能量面积，做为能量面积比例的依据，也可近似求得各烧录倍速的烧录功率Pn。因此，本发明第一实施例光盘机烧录方法，即可通过比对各烧录倍速所有或部分常用的记号烧录策略的能量面积，与实测预定烧录倍速能量面积的比例，利用实测OPC测试的预定烧录倍速烧录功率，快速获得正确的各烧录倍速烧录功率，达到维持稳定的烧录品质的目的。
前述本发明第一实施例，由于误差或仅计算部分常用记号的能量面积，做为能量面积比例，所求得各烧录倍速的烧录功率Pn，与各烧录倍速实际烧录功率仍存在偏差。本发明的另一实施例光盘机烧录方法，进一步利用OPC测试结果，补偿求得各烧录倍速的烧录功率Pn。请再参图6，为本发明第二实施例光盘机烧录方法的OPC测试。本发明第二实施例对一预定的烧录倍速进行OPC测试，由获得预定烧录倍速烧录功率与品质参数的关系L， 除以目标品质参数BO取得预定烧录倍速的烧录功率PO外，也可获得预定烧录倍速烧录功率对品质参数的变化关系。例如，由斜率或在目标值(Ρ0，Β0)附近的OPC测试值，计算预定烧录倍速烧录功率与品质参数的变化率=ΔΒ/ΔΡ。如本发明第一实施例所述，各烧录倍速记号烧录策略的能量面积，与实测预定烧录倍速能量面积的比例Kn，相当于各烧录倍速与实测预定烧录倍速烧录功率的比例，对相同品质参数变化ΔΒ，其烧录功率Pn的补偿值也会依能量面积的比例倍数改变KnX ΔΡ。 因此，如图7所示，本发明第二实施例补偿烧录功率的示意图。本发明第二实施例对本发明第一实施例所求得各烧录倍速的烧录功率Ρη，进行烧录数据，通过边烧录边读取烧录记号的自动烧录控制(Auto Writing Control，简称AWC)，测试其品质参数与目标品质参数的落差Δ B，根据预定烧录倍速OPC测试值中烧录功率与品质参数的变化率△ B/△ P，依能量面积的比例Kn倍数增加烧录功率差值补偿烧录功率，S卩补偿后烧录功率P = Ρη+ΚηΧ ΔΡ，快速收敛至目标值品质参数，以维持稳定的烧录品质。如图8所示，为本发明第二实施例光盘机烧录方法的流程图。本发明利用各烧录倍速的能量面积比例，补偿各烧录倍速的烧录功率的步骤，详细说明如下首先在步骤Tl， 接收烧录具多个烧录倍速区光盘片数据的指令；进入步骤Tl，对一预定烧录倍速，进行OPC 测试；在步骤Τ3，取得预定烧录倍速品质参数对烧录功率的关系；再进入步骤Τ4由预定烧录倍速烧录倍速目标品质参数，求得所对应的预定烧录倍速烧录功率及品质参数对烧录功率的变化率；接着进入步骤Τ5，计算光盘片存储各烧录倍速烧录策略的能量面积；在步骤 Τ6计算各烧录倍速与预定烧录倍速的能量面积比例；然后进入步骤Τ7，将各烧录倍速的能量面积比例乘以预定烧录倍速烧录功率，求得各烧录倍速的烧录功率。在步骤Τ8，进行烧录并通过自动烧录控制，在各烧录倍速区测试其品质参数与目标品质参数的落差，根据预定烧录倍速OPC测试值中烧录功率与品质参数的变化率，依能量面积的比例倍数增加烧录功率差值，以补偿烧录功率。最后进入步骤Τ9，完成烧录数据。因此，本发明第二实施例光盘机烧录方法，即可利用光盘片存储各烧录倍速的烧录策略，计算能量面积的比例，由测试预定烧录倍速的品质参数对烧录功率的变化率，获得各高烧录倍速品质参数对烧录功率的变化率，以补偿烧录功率，快速收敛品质参数至目标值品质参数的，达到提高烧录效率的目的。
以上所述者，仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于该等较佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，皆属本发明权利要求的范 围。
权利要求
1.一种光盘机烧录方法，其步骤包含1)接收烧录具有多个烧录倍速区光盘片数据的指令；2)对预定烧录倍速进行最佳功率控制测试，取得品质参数对烧录功率的关系；3)由预定烧录倍速的目标品质参数及品质参数对烧录功率的关系，求得预定烧录倍速的烧录功率；4)计算各烧录倍速烧录策略的能量面积与预定烧录倍速烧录策略的能量面积比例；5)将各烧录倍速的能量面积比例乘以预定烧录倍速的烧录功率，求得各烧录倍速的烧录功率；6)完成烧录数据。
2.如权利要求1所述的光盘机烧录方法，其中该预定烧录倍速为光盘片的最低烧录倍速。
3.如权利要求2所述的光盘机烧录方法，其中该预定烧录倍速为光盘片的2X烧录倍速。
4.如权利要求1所述的光盘机烧录方法，其中该步骤4)计算各烧录倍速的烧录策略为常用部分记号的烧录策略。
5.如权利要求4所述的光盘机烧录方法，其中该常用部分记号为3T至5T记号。
6.如权利要求1所述的光盘机烧录方法，其中该步骤3)且由预定烧录倍速品质参数对烧录功率的关系，求得品质参数对烧录功率的变化率。
7.如权利要求6所述的光盘机烧录方法，其中该品质参数对烧录功率的变化率为预定烧录倍速的目标品质参数与烧录功率附近的变化率。
8.如权利要求6所述的光盘机烧录方法，其中该步骤5)后进一步包含步骤5-1)进行烧录并通过自动烧录控制，由测试品质参数与目标品质参数的落差，在各烧录倍速区补偿烧录功率。
9.如权利要求7所述的光盘机烧录方法，其中该根据预定烧录倍速的品质参数与烧录功率的变化率，依能量面积的比例倍数增加烧录功率差值，以补偿烧录功率。
10.如权利要求1所述的光盘机烧录方法，其中该能量面积为各记号烧录策略调变的烧录功率及间隔时间的乘积。
全文摘要
本发明公开一种光盘机烧录方法，首先接收烧录光盘片的指令；对预定烧录倍速进行OPC测试，由预定烧录倍速的目标品质参数及品质参数对烧录功率的关系，获得预定烧录倍速的烧录功率；计算各烧录倍速烧录策略的能量面积比例；以各烧录倍速的能量面积比例与预定烧录倍速的烧录功率的乘积，作为各烧录倍速的烧录功率，并利用自动烧录控制倍数补偿烧录功率。
文档编号G11B7/0045GK102214467SQ201010163570
公开日2011年10月12日 申请日期2010年4月12日 优先权日2010年4月12日
发明者彭廷贵, 李柏威, 陈松瑞 申请人:广明光电股份有限公司