技术总结
本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试，能够发现MARM存储器的故障，所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式，包括：全芯片存储单元读写功能验证；直流参数验证和交流参数验证。
技术研发人员：王立恒;徐导进;刘大鹏;王华铭
受保护的技术使用者：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
文档号码：201611122146
技术研发日：2016.12.08
技术公布日：2017.06.13