测试单元阵列的方法及执行其的半导体器件与流程

技术特征：

技术总结
一种半导体器件包括：模式数据发生电路，其产生模式数据；数据比较电路，其接收通过读取操作从包括在核心区域中的单元阵列输出的读取数据，以及将读取数据与模式数据进行比较以产生故障码；以及故障标志发生电路，其将故障码与设定码进行比较以产生故障标志。

技术研发人员：沈荣辅
受保护的技术使用者：爱思开海力士有限公司
技术研发日：2017.06.19
技术公布日：2018.04.17