技术特征：
技术总结
本发明提出一种快速收集闪存阈值电压分布的方法，包括下列步骤：采用预先设定的快速扫描大步长在电压范围内进行顺序扫描；扫描过程中自动记录每步获得的闪存失效单元数；根据闪存失效单元数快速自动判断闪存存储单元阈值电压分布起始边界；自动转换至精确扫描用的小步长进行顺序扫描，并根据失效单元数得到闪存存储单元阈值电压分布截止边界，并自动停止扫描。本发明提出的快速收集闪存阈值电压分布的方法，减少收集存储类闪存芯片存储器单元阵列阈值电压分布的时间。
技术研发人员：席与凌;李强
受保护的技术使用者：上海华力微电子有限公司
技术研发日：2017.11.09
技术公布日：2018.04.06