技术总结
一种光信息记录介质以及再生方法。在将根据从第1坑点串的最长坑点(P1max)或最长间隙(S1max)获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从第2坑点串的最长坑点(P2max)或最长间隙(S2max)获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下,第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。
技术研发人员:中峻之;山田博久;山本真树;田岛秀春;小西正人
受保护的技术使用者:夏普株式会社;忆术控股股份有限公司
技术研发日:2014.04.08
技术公布日:2018.07.10