1.一种边界测试电路，用于测试集成电路，其特征在于，所述边界测试电路包括：
多个边界寄存器电路，所述边界寄存器电路一端接收初始测试信号，其另一端向下一级边界寄存器电路传送所述初始测试信号；
多个状态控制电路，所述状态控制电路的输入端接收所述边界寄存器电路中保存的初始测试信号，其控制端接收一状态控制信号，其输出端向待测试的所述集成电路发送实时测试信号；
其中，所述实时测试信号是与所述初始测试信号相位相同或者相位相反的信号。
2.根据权利要求1所述的边界测试电路，其特征在于，所述状态控制信号用于控制所述实时测试信号的相位切换。
3.根据权利要求1所述的边界测试电路，其特征在于，所述状态控制电路包括：
非门元件，所述非门元件的输入端接收所述边界寄存器电路中保存的初始测试信号；
第一数据选择器，所述第一数据选择器的一个输入端接收所述初始测试信号，其另一输入端与所述非门元件的输出端相连，其控制端接收所述状态控制信号，其输出端发送所述实时测试信号。
4.根据权利要求1所述的边界测试电路，其特征在于，所述状态控制电路包括：
第一寄存器，所述第一寄存器的输入端接收所述边界寄存器电路中保存的初始测试信号；
或门元件，所述或门元件的一个输入端与所述第一寄存器的输出端相连，其另一输入端接收所述状态控制信号；
异或门元件，所述异或门元件的一个输入端与所述第一寄存器的输出端相连，其另一输入端接收所述状态控制信号；
第二数据选择器，所述第二数据选择器的一个输入端与所述或门元件的输出端相连，其另一输入端与所述异或门元件的输出端相连，其控制端接收所述状态控制信号，其输出端发出所述实时测试信号。
5.根据权利要求1所述的边界测试电路，其特征在于，所述状态控制电路在一时钟信号的控制下发出所述实时测试信号。
6.根据权利要求1所述的边界测试电路，其特征在于，所述边界寄存器电路包括：
第三数据选择器，所述第三数据选择器的一个输入端接收所述初始测试信号，其控制端接收一保持信号；
第二寄存器，所述第二寄存器的输入端与所述第三数据选择器的输出端相连，其输出端输出所述第二寄存器中保存的初始测试信号；
第四数据选择器，所述第四数据选择器的一个输入端接收一正常输入信号，其另一输入端与所述第二寄存器的输出端相连，其控制端接收一扫描信号，其输出端发出一正常输出信号，所述第四数据选择器的输出端与所述第三数据选择器的另一输入端相连。
7.根据权利要求6所述的边界测试电路，其特征在于，所述边界寄存器电路在一时钟信号的控制下发出所述初始测试信号。
8.一种存储器，包括集成电路，其特征在于，还包括如权利要求1-7中任意一项所述的边界测试电路，所述边界测试电路用于测试所述集成电路。