技术总结
本发明公开了一种USB装置测试系统和方法及SATA装置测试系统和方法。所述USB装置测试系统包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；多个USB HUB分别连接至测试主机的多个USB接口，每个USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；电源装置，用于为多个USB HUB分别提供电源接口；测试主机，用于控制电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。本发明的USB装置测试系统，可以对很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。也不需要使用机械手。也不需要使用机械手。
技术研发人员：林寅 吴大畏 李晓强
受保护的技术使用者：深圳市硅格半导体有限公司
技术研发日：2020.11.16
技术公布日：2021/1/24