直在做极限反转(充电除外)，从而表明本申请无误的操作了单个数据线的高低反转，可有效考验系统ddr模块的采样门限。
[0088]参考图6，图6为信号线随机反转时示波器上信号波形的截图。其中，粉红色是数据线O的信号波形，浅绿色是数据线O对应的时钟信号的信号波形；配置参数为:非cache，WWRR，数据线随机值检测，地址线随机检测(线性反馈移位寄存器Ifsr算法)。
[0089]图6同样可得出信号波形的占空比较大以及无采样时信号线都是大波动趋于稳定的结论，且针对某一时刻某个数据线来讲，图6中数据采样电平的复杂化组合对于ddr模块产生的压力比极限反转(图5的情况)的情况要大，因此图6的配置参数更有利于进行测试。
[0090]实施例四
[0091]本实施例四公开一种内存测试系统，所述系统与以上各实施例公开的方法相对应。
[0092]参考图7，相应于实施例一，所述系统包括请求接收模块100、算法关联模块200、参数设定模块300和内存测试模块400。
[0093]其中，请求接收模块100，用于接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；
[0094]算法关联模块200，用于将所述压力算法关联至所述目标解析区域；
[0095]参数设定模块300，用于在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项；
[0096]内存测试模块400，用于接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。
[0097]所述系统还包括预处理模块，用于待测内存物理地址所包含的各预设解析区域分别编写相应的、可使其满负载运行的压力算法。
[0098]参考图8，相应于实施例二，所述系统还包括环境配置模块500，用于为待测内存所在的印制电路板PCB配置预设的温湿度环境，以实现在预设的温湿度环境下测试内存。
[0099]参考图9，相应于实施例三，所述系统还包括验证处理模块600，用于采集预设数据线及预设时钟线的电压信号，并显示所采集电压信号的电压波形，以供用户依据所显示的电压波形验证满负载内存测试的有效性；
[0100]其中，所述预设数据线及预设时钟线分别为连接DDR控制器与待测内存的数据线、时钟线。
[0101]对于本发明实施例四公开的内存测试系统而言，由于其与实施例一至实施例三公开的内存测试方法相对应，所以描述的比较简单，相关相似之处请参见实施例一至实施例三中内存测试系统部分的说明即可，此处不再详述。
[0102]综上所述，本发明实现了使用软件模拟系统内存满负载运行的具体场景，可较长时间反映出高负荷内存的真实情况，成本低，代价小，不需要额外的硬件，有效地确认了系统内存的访问性能。
[0103]需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
[0104]为了描述的方便，描述以上系统时以功能分为各种模块或单元分别描述。当然，在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
[0105]通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
[0106]最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一、第二、第三和第四等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0107]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种内存测试方法，其特征在于，包括: 接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为:待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域； 将所述压力算法关联至所述目标解析区域； 在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项； 接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测内存的物理地址所包含的各预设解析区域包括:列地址区域、高端行地址区域、Rank地址区域、Bank地址区域及低端行地址区域。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述各预设参数项包括:是否使用cache、读写模型、校验值类型、是否加入直接内存访问DMA。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括如下的预处理过程: 为待测内存物理地址所包含的各预设解析区域分别编写相应的、可使其满负载运行的压力算法。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括: 为待测内存所在的印制电路板PCB配置预设的温湿度环境，以实现在预设的温湿度环境下测试内存。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括: 采集预设数据线及预设时钟线的电压信号，并显示所采集电压信号的电压波形，以供用户依据所显示的电压波形验证内存满载测试的有效性； 其中，所述预设数据线及预设时钟线分别为连接双倍速率同步DDR控制器与待测内存的数据线、时钟线。
7.一种内存测试系统，其特征在于，包括: 请求接收模块，用于接收用户的压力添加请求，所述压力添加请求包括压力算法和待测内存物理地址的目标解析区域，所述目标解析区域为:待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域； 算法关联模块，用于将所述压力算法关联至所述目标解析区域； 参数值设定模块，用于在为所述各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对各预设参数项所设定的参数值；所述各预设参数项为预先集成的、实现内存测试所需的参数项； 内存测试模块，用于接收用户的内存测试请求，基于所设定的各预设参数项取值并调用所关联的各压力算法进行内存测试。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括: 预处理模块，用于为待测内存物理地址所包含的各预设解析区域分别编写相应的、可使其满负载运行的压力算法。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括: 环境配置模块，用于为待测内存所在的印制电路板PCB配置预设的温湿度环境，以实现在预设的温湿度环境下测试内存。
10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括: 验证处理模块，用于采集预设数据线及预设时钟线的电压信号，并显示所采集电压信号的电压波形，以供用户依据所显示的电压波形验证内存满载测试的有效性； 其中，所述预设数据线及预设时钟线分别为连接DDR控制器与待测内存的数据线、时钟线。
【专利摘要】本发明的内存测试方法和系统，由以上方案可知，发明接收用户的压力添加请求，该请求包括压力算法和目标解析区域，所述目标解析区域为待测内存的物理地址所包含的各个预设解析区域中的任意一个区域；之后，将所述压力算法关联至所述目标解析区域；在为各预设解析区域分别关联相应的压力算法后，接受用户分别对预先集成的各预设参数项所设定的参数值；在此基础上，接收用户的内存测试请求，基于所设定的各参数值，并调用所关联的各压力算法进行内存测试。可见，发明可通过软件模拟系统内存满负载运行的具体场景，进而实现内存满载测试，不需专门的硬件设备，成低、代价小，为内存满载测试的展开和实施带来了便利。
【IPC分类】G11C29-08
【公开号】CN104575612
【申请号】CN201510041957
【发明人】陈健, 赵鸿飞
【申请人】中科创达软件股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2015年1月28日