偏心补偿控制不工作。这是因为转移至使主轴电机50旋转-Θ的寻轨之后的状态时要如何驱动移动台51，在寻轨前的阶段是未知的。
[0261]因此，在使主轴电机50旋转的寻轨动作中，例如需要如本实施例所示，使主轴控制和偏心补偿控制同时工作。
[0262]使主轴控制和偏心补偿控制同时工作的情况下，即使成为如图14(b)所示的状态，也因为在图14(b)的(A)所示的部分点P15与圆Cxy’不一致，所以第一偏心检测传感器15的输出是非零的值。同样，对于图14(b)的(B)所示的部分，第二偏心检测传感器16的输出也是非零的值。因此，通过偏心补偿控制进行控制以使全息记录介质I的中心O’与驱动基准位置xyO —致。此时，点P’再次移动，并且旋转角度检测传感器14的检测角度也因该偏心补偿控制而变化。2个控制同时工作，结果在寻轨的最终状态下，全息记录介质I的中心O’被控制为与驱动基准位置xyO —致的位置。
[0263]同时，在此时主轴控制也继续进行，所以在点P14的位置固定的旋转角度检测传感器14中，在寻轨期间检测出的旋转角的变化量准确地成为-Θ。这意即在寻轨的最终状态下，图14(a)中图示的点Q位于连接全息记录介质I的中心O’与点P14的直线上。点Q是使点P14绕点xyO旋转+ Θ后的点。在寻轨的最终状态下，如果考虑将全息记录介质I的中心O’控制为与驱动基准位置xyO—致的位置，则意即图14(a)的点Q位于X轴上。这意即点P位于X轴上，意即点P移动至目标位置TgtP。由此，在本实施例的结构中也能够实现高精度的定位动作。
[0264]该动作通过在本实施例的流程图即图5中，在步骤S507中根据SPOK信号和XYOK信号双方是High(高)电平执行步骤S508的主轴控制的关闭而实现。
[0265]这样，即使主轴控制收敛至角度指令值Tgt Θ附近、SPOK信号成为High，只要偏心补偿判定电路4005输出的XYOK信号没有成为High，就不能使主轴控制关闭。如本实施例所述，需要使主轴控制和偏心补偿控制同时持续工作直到SPOK信号和XYOK信号双方的判定结果都成为完成(OK)。
[0266]如以上说明，通过使主轴控制和偏心补偿控制同时工作，在本实施例的结构中也能够适当地进行寻轨动作。本实施例的第二效果，是在本实施例的机构搭载顺序的情况下也具有实现高精度的定位的控制方法这一点。
[0267]通过以上说明的2点，即实现用于抵消偏心的优选的搭载顺序，和该情况下必要的控制，即使在主轴电机的旋转中心与圆盘状全息记录介质I的几何中心之间存在偏离、即偏心的情况下，也能够控制定位在抵消了偏心的位置。更具体而言，偏心补偿电路40和主轴控制电路42按照本实施例工作，从而以偏心检测标记的几何中心为基准进行全息记录介质I的定位。由此，即使在存在偏心的情况下，也能够对抵消了偏心的位置照射信号光和参考光而进行全息图的记录或再现。
[0268]此外，采用在半径r、旋转角度Θ、偏心的控制中，对于旋转角度Θ和偏心的控制在全息记录介质I中设置标记，检测该标记来进行控制的结构。通过以介质中设置的标记为基准进行定位，能够进行不依赖于装置之间的误差的高精度的定位控制。即，在主轴电机的旋转轴上安装的全息记录介质固定部的偏心程度在装置之间存在误差，但能够进行不依赖于该误差的高精度的定位控制。
[0269]这样，本实施例的第五效果，是通过在全息记录介质I中设置角度检测用标记和偏心检测用标记，而能够实现以介质为基准的高精度的定位这一点。
[0270]如以上说明，能够列举本实施例的多个效果，根据本实施例的结构，能够实现对全息记录介质适当的记录再现。
[0271]其中，本实施例中采用了在步骤S508中变更为与在寻轨处理中定位的全息图的页对应的入射角度，之后在步骤S602中使入射角度偏移Oofs的流程图。但是也可以在步骤S508中最初就偏移Oofs。
[0272]采用本实施例的结构的情况下的特征性的动作，是在步骤S603中计测衍射光的亮度重心时的参考光的入射角度，与在步骤S518中结束寻轨处理时的参考光的入射角度不同这一点。
[0273]根据以上动作，能够在抵消了偏心的位置进行定位，进而能够满足布拉格衍射条件来进行全息图的再现。此外，同时进行了机构搭载顺序的优化，所以能够实现装置的低成本化和长寿命化。
[0274]这样，根据本实施例，能够实现对全息记录介质的适当的记录再现。
[0275]实施例2
[0276]实施例1中的正交入射角度优化处理S511，根据附加了入射角度偏移的状态下的衍射光的亮度重心，计算出最佳的正交入射角度。也能够考虑其他的正交入射角度优化处理S511的实现方式，本实施例为其一例。
[0277]本实施例的全息记录再现装置的框图与实施例1的框图即图1相同。此外，构成全息记录再现装置10的各种部件也与实施例1相同。
[0278]本实施例仅有动作流程的一部分与实施例1不同。实施例1的寻轨处理的流程图即图5中的各处理中，正交入射角度优化处理S511中的具体的处理内容不同。以下，对与实施例1的差异进行说明。
[0279]对于本实施例中的正交入射角度优化处理，使用图26的流程图进行说明。
[0280]开始正交入射角度优化处理时(步骤S701)，使计数器k的值成为零(步骤S702)。接着，控制器80按照预先设定的数组P [k]，将正交入射角度的指令值Tgt P变更为P [k](步骤S703)。由此，正交入射角度的值被变更为P [k]。
[0281 ] 接着，控制器80使用衍射光强度计测电路83计测衍射光的强度，存储为I [k](步骤S704)。在步骤S703之后，对计数器k的值加I (步骤S705)，接着判断计数器k是否是值N以上(步骤S706)。计数器k不是值N以上的情况(步骤S706中为否(No)的情况)下，返回步骤S703。由此，进行合计N次的正交入射角度的变更(步骤S703)、和该状态下的衍射光强度的计测(步骤S704)。
[0282]计数器k是值N以上的情况(步骤S706中为是(Yes)的情况)下，控制器80根据N次的衍射光强度的计测结果计算最佳的正交入射角度(步骤S707)。在步骤S707中，例如，如果步骤S704中的N次的亮度成为图27所示的值，则对于亮度的计测数据用图27的粗线所示的二次函数近似，计算亮度最大的正交入射角度。这样，本实施例中控制器80起到计算正交入射角度的单元的作用。
[0283]在步骤S707之后，控制器80将参考光的正交入射角度的指令值Tgt P设定为步骤S707中计算出的最佳的正交入射角度(步骤S708)。由此，驱动致动器219以使参考光的入射角度变更为步骤S707中计算出的值。结果，参考光的正交入射角度被变更为步骤S707中计算出的最佳的正交入射角度。在步骤S708之后，结束正交入射角度优化处理(步骤 S709)ο
[0284]本实施例与实施例1相比，仅有计算最佳的正交入射角度的方法不同，在正交入射角度优化处理中计算并设定最佳的正交入射角度这一点是相同的。因此，本实施例具有与实施例1同样的效果。
[0285]这样，根据本实施例，能够实现对全息记录介质的适当的记录再现。
[0286]实施例3
[0287]在实施例1和实施例2中，是在用半径r和旋转角Θ进行的定位完成后对正交入射角度进行优化的动作。这是因为使用图12(b)进行研究，结果，全息图的旋转能够通过变更参考光的正交入射角度而进行补偿。但是，进一步研究时，因为发生了全息图的旋转，所以四棱锥的顶点的高度也发生了变化。即，为了最良好地补偿全息图的旋转，优选不仅变更正交入射角度，也变更入射角度。进而，在实施例1和实施例2中，是通过在用半径r和旋转角Θ进行的定位完成时使RDON信号和SPON信号都成为Low，而关闭半径位置控制和主轴控制的动作。然而，也可以不关闭控制而结束寻轨处理。即，对于半径位置控制和主轴控制使控制总是开启。
[0288]本实施例如上所述，是对于全息图旋转的补偿和对全息图的定位提高精度的实施方式。
[0289]本实施例的全息记录再现装置的框图与实施例1的框图即图1相同。此外，构成全息记录再现装置10的各种部件也与实施例1相同。
[0290]本实施例与实施例1相比，仅有寻轨处理中的动作流程的一部分不同。对于本实施例中的寻轨处理S414，使用图28的流程图进行说明。其中，对于与实施例1的流程图即图5相同的处理内容的步骤附加相同的编号，省略处理内容的说明。
[0291]与实施例1的流程图即图5的差异有4点。首先，如果r轴的移动量非零(步骤S503中为是(Yes)的情况)，则变更指令值TgtR而开始r轴的移动(步骤S519)，前进至步骤S505。本实施例中，因为使RDON信号总是为High，所以不需要使RDON信号成为High的处理，在这一点上不同。
[0292]此外，如果Θ轴的移动量非零(步骤S505中为是(Yes)的情况)，则变更指令值Tgt Θ而开始Θ轴的移动(步骤S520)，前进至步骤S507。本实施例中，因为使SPON信号总是为High，所以不需要使SPON信号成为High的处理，在这一点上不同。
[0293]进而，在步骤S507中判定为移动已完成的情况(步骤S507中为是(Yes)的情况)下，转移至步骤S509。与实施例1相比，不执行步骤S508这一点不同，以上3个差异都是对于半径位置控制和主轴控制使控制总是开启引起的变更点。
[0294]最后，在步骤S510中判断是再现时的寻轨的情况下(步骤S510中为是(Yes)的情况)，进行参考光角度优化处理(步骤S521)。步骤S521之后，与实施例1同样转移至步骤 S512。
[0295]接着，对于本实施例中的参考光角度优化处理，使用图29的流程图进行说明。其中，对于与实施例2的正交入射角度优化处理的流程图即图26相同的处理内容的步骤附加相同的编号，省略处理内容的说明。与实施例2的流程图即图26相比，步骤S701至步骤S708是相同的。
[0296]在步骤S708中变更为最佳的正交入射角度之后，使计数器k的值成为零(步骤S709)。接着，控制器80按照预先设定的数组Φ ofs [k]，将入射角度偏移的值Φ ofs变更为Φ ofs [k](步骤S710)。由此，入射角度偏移的值被变更为Φ ofs [k]。
[0297]接着，控制器80使用衍射光强度计测电路83计测衍射光的强度，存储为12 [k](步骤S711)。在步骤S711之后，对计数器k的值加I (步骤S712)，接着判断计数器k是否是值M以上(步骤S713)。计数器k不是值M以上的情况(步骤S713中为否(No)的情况)下，返回步骤S710。由此，进行合计M次的入射角度偏移的变更(步骤S710)和该状态下的衍射光强度的计测(步骤S711)。
[0298]计数器k是值M以上的情况(步骤S713中为是(Yes)的情况)下，控制器80根据M次的衍射光强度的计测结果计算最佳的入射角度偏移(步骤S714)。在步骤S714中，用与步骤S707同样的方法计算最佳值。这样，在本实施例中，控制器80起到计算入射角度的单元的作用。
[0299]在步骤S714之后，控制器80指示入射角度偏移输出电路26，将入射角度偏移ΦοΓ8设定为步骤S714中计算出的最佳的入射角度偏移(步骤S715)。由此，驱动致动器221和致动器224以使参考光的入射角度变更为步骤S714中计算出的值。结果，参考光的入射角度被变更为步骤S714中计算出的最佳的入射角度。在步骤S715之后，结束参考光角度优化处理(步骤S716)。
[0300]通过以上的流程，以来自全息图的衍射光的强度作为指标，在参考光的正交入射角的优化之后，进行参考光的入射角的优化。
[0301]接着对本实施例的效果进行说明。首先，在本实施例中对于半径位置控制和主轴控制使控制总是开启。由此，即使对装置施加了振动等外部干扰也可以进行控制，所以对全息图的定位精度提尚。
[0302]进而，在本实施例中，在参考光角度优化处理S521中，不仅进行正交入射角度的优化，也对入射角度进行优化。具体而言，变更正交入射角度并求出亮度最大的正交入射角度之后，变更入射角度并求出亮度最大的入射角度。由此，相当于在发生了全息图的旋转的情况下的Ewald球即图12(b)中，在参考光波数矢量Kr的附近在横向和纵向上变更参考光的角度，搜索衍射光的光量最大的条件。因此，在实施例1和实施例2中只能使参考光的波数矢量的前端移动至图12(b)的点Tl，与此相对，在本实施例中能够移动至图12(b)的点Τ2。结果，能够完全满足布拉格衍射条件，能够更适当地进行来自全息图的信息再现。但是，即使只能使参考光的波数矢量的前端移动至图12(b)的点Tl，如果衍射光的强度具有对于信息的再现不成问题的强度，则实施例1的结构也没有问题。
[0303]此外，在本实施例中，采用了在进行正交入射角度的优化之后进行入射角度的优化的顺序，但该顺序也可以是相反的。
[0304]进而，在进行用于计算正交入射角度的最佳值的计测之后进行对最佳的正交入射角度的变更，而后在进行用于计算入射角度的最佳值的计测之后进行对最佳的入射角度的变更，但也可以调换它们的顺序。例如，采用在用于计算正交入射角度的最佳值的计测之后，进行用于计算入射角度的最佳值的计测，而后进行对最佳的正交入射角度的变更和对正交入射角度的变更的动作，也能够达成与本实施例的情况同等的效果。
[0305]这样，根据本实施例，能够实现对全息记录介质的适当的记录再现。
[0306]实施例4
[0307]在以上实施例中，采用了第一入射角度信号生成电路20用致动器221中具备的角度检测传感器的输出信号作为输入，生成表示在检流计反射镜220上反射后的参考光的入射角度的信号，生成为用于控制入射角度的信号的结构。然而，也能够采用不使用致动器221中具备的角度检测传感器的结构。
[0308]在本实施例中，采用在拾取器11内与角度检测传感器分别地设置使用再现信息时从全息图衍射的衍射光光学地检测参考光的入射角度的偏离量的机构。而且基于该机构的输出信号生成用于控制参考光的入射角度的信号的结构。
[0309]图30是表示本实施例中的全息记录再现装置的框图。对于与实施例1的框图即图1相同的构成要素附加相同的编号，省略说明。
[0310]本实施例中的全息记录再现装置14未设置实施例1中的第一入射角度信号生成电路20和第二入射角度信号生成电路23，改为具有入射角度错误信号生成电路31。
[0311]入射角度错误信号生成电路31用来自拾取器11内的光检测器226的输出信号作为输入，生成表示对全息记录介质I的参考光的入射角度的偏离量的信号(以下称为入射角度错误信号)，生成为用于控制入射角度的信号。
[0312]第一入射角度控制电路32具有3个输入。第一输入是由入射角度错误信号生成电路31输出的入射角度错误信号，第二输入是控制器80输出的参考光的入射角度的指令值Tgt Φ，第三输入是入射角度偏移输出电路26输出的入射角度偏移Oofs。在第一入射角度控制电路32中，基于第一输入和第二输入进行控制以使参考光的入射角度的偏离量成为零。此外，如果入射角度偏移Oofs非零，则进行控制使控制角度偏移入射角度偏移(i>ofs。从第一入射角度控制电路32输出的驱动信号经由第一入射角度驱动电路22对拾取器11内的致动器221供给。
[0313]第二入射角度控制电路33具有3个输入。第一输入是由入射角度错误信号生成电路31输出的入射角度错误信号，第二输入是控制器80输出的参考光的入射角度的指令值Tgt Φ，第三输入是入射角度偏移输出电路26输出的入射角度偏移Oofs。在第二入射角度控制电路33中，基于第一输入和第二输入进行控制以使参考光的入射角度的偏离量成为零。此外，如果入射角度偏移Oofs非零，则进行控制使控制角度偏移入射角度偏移(i>ofs。从第二入射角度控制电路33输出的驱动信号经由第二入射角度驱动电路25对再现用参考光光学系统12内的致动器224供给。
[0314]在本实施例中，具有使使用光检测器226的输出信号光学地检测出的参考光的入射角度的偏离量成为零的控制系统。
[0315]本实施例的流程图与实施例2相同。S卩，寻轨处理的流程图是图5，此外，正交入射角度优化处理的流程图是图26。
[0316]这样，本实施例的流程图与实施例2相同，但本实施例的效果比实施例2效果更大，与实施例3同等。以下，对其理由进行说明。
[0317]实施例2中，在发生了全息图的旋转的情况下的Ewald球即图12(b)中，只能使参考光波数矢量Kr的前端TO在平面P3内变更。与此相对，在实施例3中能够变更至最佳位置即点T2。
[0318]在本实施例中，通过光学检测，能够检测参考光的入射角度的偏离量，能够控制参考光的入射角度的偏离量成为零。此外，因为在第一入射角度控制电路32的输出端和第二入射角度控制电路33的输出端未设置开关，所以该控制总是进行。S卩，在图12(b)中，使参考光的波数矢量从平面Pl上变为平面P2上来变更参考光的正交入射角度的情况下，参考光的波数矢量的前端成为点Tl。但是，同时，从参考光的入射角度来看，位于偏离最佳点T2的位置。因此，入射角度错误信号生成电路31输出表示参考光的入射角度的偏离量的入射角度错误信号。第一入射角度控制电路32和第二入射角度控制电路33基于该入射角度错误信号动作，从而，参考光的入射角度被自动优化。即，参考光的波数矢量的前端成为最佳点T2。
[0319]S卩，如本实施例所述，具有通过光学检测而检测参考光的入射角度的偏离量，使该偏离量成为零的控制系统的情况下，如实施例2那样不需要探索参考光的入射角度的方向。其具有缩短寻轨处理耗费的时间的效果。
[0320]此外，在本实施例中，为了与实施例3对比，基于实施例2的结构，用图26说明了正交入射角的优化处理。然而，实施例1中的正交入射角的优化处理即图6的流程图的情况下，同样能够应用。
[0321]这样，根据本实施例，能够实现对全息记录介质的适当的记录再现。
[0322]在以上实施例中，进行寻轨处理时，每次在r轴和Θ轴的移动中偏心补偿控制工作。但是，也可以不是每次都在寻轨处理中进行偏心控制，而是例如对于数次寻轨处理仅进行一次偏心补偿控制的动作。该情况下，如果用实施例1的情况说明，优选正交入射角度优化处理仅在进行了偏心补偿控制的寻轨处理中进行。这是因为正交入射角度优化处理解决因进行偏心补偿控制而产生的课题。
[0323]从而，本发明也能够表达为在再现时的伴随有偏心补偿控制的全息图的定位动作之后，必定进行将正交入射角度变更为最佳值的处理。此外，实施例3的情况下，将以上的说明中的正交入射角度优化处理置换为参考光角度优化处理即可。
[0324]进而，本发明具有在记录时仅进行伴随有偏心补偿控制的全息图的定位动作，在再现时的伴随有偏心补偿控制的全息图的定位动作之后，必定进行将正交入射角度变更为最佳值的处理的特征。即，记录时的偏心补偿控制与再现时的偏心补偿控制存在差异。如果使用本发明，则能够利用在再现时能够利用衍射光判断全息图的旋转的影响这一点，变更正交入射角度而使全息图的衍射条件优化后进行信息的再现。
[0325]在以上实施例中，采用了在全息记录介质I中角度检测用标记和偏心检测用标记设置为不同的标记的结构。但是，角度检测用标记和偏心检测用标记也能够共用同一个标记。例如，也可以是全息记录介质中仅存在角度检测用标记，第一偏心检测传感器和第