二偏心检测传感器使用角度检测用标记的内周一侧或外周一侧的边缘进行检测的结构。
[0326]在以上实施例中，偏心检测用标记M2的外周的边缘，是为了进行偏心补偿控制而使用的边缘。对于为了进行偏心补偿控制而使用的边缘，可以检测介质上设置的规定标记的内周侧的边缘，也可以检测规定标记的外周侧的边缘。
[0327]在以上实施例中，偏心检测用标记M2的外周边缘，是为了进行偏心补偿控制而使用的边缘。关于该偏心补偿控制中使用的边缘，优选按规定的基准管理圆度。例如，如果用规格保证了圆度，则能够保证使用本发明的偏心补偿控制的定位性能。
[0328]此外，采用了从以上实施例中的第一偏心检测传感器15和第二偏心检测传感器16照射规定波长的光，检测在反射部反射的光的结构。但是，偏心检测传感器如图9(b)所示，输出对应于与偏心检测用标记M2的相对位置关系的电压即可，也可以使用不照射光的传感器。例如，也可以是用相机等受光元件拍摄偏心检测用标记M2，根据拍摄的结果输出对应于与偏心检测用标记M2的相对位置关系的电压这样的传感器。
[0329]使用相机作为第一偏心检测传感器15的情况下，本说明书中的“传感器中心”能够改为表示相机拍摄的区域的中心位置。即，本说明书中的“传感器中心”，表示传感器进行检测的区域的中心位置。此外，将传感器配置在点S，意即使传感器进行检测的区域的中心位置与点S 一致。
[0330]进而，说明了第一偏心检测传感器15和第二偏心检测传感器16输出与由检测光生成的光斑与偏心检测用标记M2的相对位置关系相应的电压的结构，但也可以是例如输出与相对位置关系相应的电流的结构。即，只要是输出对应于与偏心检测用标记M2的相对位置关系的值的传感器即可。
[0331]其中，以上实施例中作为最优选的结构，使传感器相对于驱动基准位置xyO正交地配置，在X轴和Y轴独立地构成偏心补偿电路40。进而，采用了 X轴的控制和Y轴的控制通过同一控制信号XYON同时开始的结构。但是，也能够是其他实现方式。
[0332]例如，也可以是X轴的控制和Y轴的控制不是同时、而是交替进行的结构。该情况下，使X轴的控制和Y轴的控制仅各进行I次是不充分的，是使X轴的控制和Y轴的控制反复多次的动作。
[0333]此外，也能够不将传感器配置在相对于驱动基准位置xyO正交的位置上，而是例如如图13(a)所示使第一偏心检测传感器15的固定位置成为P15’的方式。该结构的一个实现方式，是不使移动台51的驱动轴正交的结构。如上所述，关于传感器配置的限制，是配置偏心检测传感器的点即点P15和点P16处的圆Cxy的切线，与移动台51的驱动轴平行。因此，例如为了在移动台51的X轴是图13(a)中的X’轴的情况下满足该制约，第一偏心检测传感器15的固定位置必须是P15’。这样，也能够是不使移动台51的驱动轴正交的结构。
[0334]使第一偏心检测传感器15的固定位置成为P15’的方式的另一个实现方式，是使X轴的控制系统的响应速度与Y轴的控制系统的响应速度具有差异。通常XY台在一方的可动轴(为了说明设为X轴)的机构上，搭载另一方的可动轴的机构。因此，比较X轴的控制系统与Y轴的控制系统时，在X轴的控制系统上额外施加了 Y轴的驱动部(例如步进电机和丝杠)的重量。因为该重量，能够设计为X轴的控制系统的响应速度比Y轴的控制系统的响应速度慢。但是，该情况下在对机构设计施加制约之外，还存在X轴的响应速度必要以上地变慢的方面，所以实施例1的结构更加优选。
[0335]使第一偏心检测传感器15的固定位置成为P15’的方式的另一个实现方式，是在偏心补偿电路40中不独立地控制X轴和Y轴的结构。根据第一偏心检测传感器15的输出电压和第二偏心检测传感器16的输出电压，通过计算能够计算偏心检测用标记M2的几何中心O的位置。在偏心补偿电路40中进行该计算，基于其计算量控制X轴和Y轴。该结构的情况下，以偏心检测用标记M2是正圆为前提进行计算。结果，要求的圆度的精度提高，存在全息记录介质I的制造成本提高的方面。因此，实施例1的结构更加优选。
[0336]如以上所说明，关于偏心补偿电路40的内部的结构、和输出对偏心补偿电路40输入的信号的偏心检测传感器的配置，可以考虑各种变形例。
[0337]以上实施例中的控制器，例如实施例1中的主轴控制器4202、半径位置控制器4402、X轴补偿器4001、Y轴补偿器4003，例如能够用数字滤波器构成。通过用数字滤波器进行增益和相位的补偿，而确保各控制系统的稳定性。
[0338]此外，以上实施例中，作为控制从拾取器11以及固化光学系统13照射的光束对全息记录介质的规定位置照射的机构，采用了例如如实施例1中的半径方向输送部52那样输送全息记录介质I的结构。但是，用于变更光束的照射位置的机构不限定于此。例如，也可以是全息记录介质被固定，而输送拾取器11和固化光学系统13的结构。该情况下，不需要使用半径方向输送部52，移动台51和第一偏心检测传感器15和第二偏心检测传感器16和旋转角度检测传感器14相对于位置固定的部件被固定。
[0339]以上实施例中，采用了使参考光的入射角度变化而利用角度复用进行记录的结构，但在使用角度复用以外的复用方法的情况下，本发明也同样能够应用。进而，不进行复用记录的全息图记录的情况下，本发明也同样能够应用。
[0340]此外，本发明不限定于上述实施例，在上述变形例以外也包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的，并不限定于必须具备说明的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，或者在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、置换其他结构。
[0341 ] 此外，上述各结构、功能、处理部、处理单元等的一部分或全部，例如可以通过集成电路设计等而用硬件实现。此外，上述各结构、功能等，也可以通过处理器解释、执行实现各功能的程序而用软件实现。实现各功能的程序、表、文件等信息，能够保存在存储器、硬盘、SSD (Solid State Drive:固态硬盘)等记录装置、或者IC卡、SD卡、DVD等记录介质中。
[0342]此外，控制线和信息线示出了认为说明上必要的，并不一定示出了产品上所有的控制线和信息线。实际上也可以认为几乎所有结构都相互连接。
[0343]附图标记说明
[0344]I…全息记录介质
[0345]10…全息记录再现装置
[0346]11…拾取器
[0347]14…旋转角度检测传感器
[0348]15…第一偏心检测传感器
[0349]16…第二偏心检测传感器
[0350]17…半径位置检测传感器
[0351]20…第一入射角度信号生成电路
[0352]21…第一入射角度控制电路
[0353]23…第二入射角度信号生成电路
[0354]24…第二入射角度控制电路
[0355]26…入射角度偏移输出电路
[0356]27…入射角度偏移加法器
[0357]28…正交入射角度信号生成电路
[0358]29…正交入射角度控制电路
[0359]31…入射角度错误信号生成电路
[0360]32…第一入射角度控制电路
[0361]33…第二入射角度控制电路
[0362]40…偏心补偿电路
[0363]42…主轴控制电路
[0364]44…半径方向输送控制电路
[0365]50…主轴电机
[0366]51…移动台
[0367]52…半径方向输送部
[0368]80…控制器。
【主权项】
1.一种照射信号光和参考光来对全息记录介质进行信息的记录或再现的全息记录再现装置，其特征在于，包括: 使所述全息记录介质绕规定的旋转轴旋转的介质旋转部； 能够使介质旋转部的位置在与所述旋转轴垂直的面内移动的移动部； 正交入射角度变更部，其能够在与包括所述信号光的光轴和所述全息记录介质的法线的入射面正交的方向上变更所述参考光对所述全息记录介质入射的正交入射角度； 控制所述介质旋转部而使全息记录介质旋转的介质旋转控制部； 进行所述移动部的定位控制的偏心补偿部； 控制所述正交入射角度变更部的正交入射角度控制部；和 计算所述正交入射角度的正交入射角度计算部， 在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后，所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果，控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度。2.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 包括能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部， 所述正交入射角度计算部使用所述衍射光强度计测部的计测结果计算所述衍射光的强度成为最大的所述正交入射角度。3.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于，包括: 能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部；和 控制所述入射角度变更部的入射角度控制部， 在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后， 所述入射角度控制部控制所述入射角度变更部而使所述入射角度偏移规定的偏移量，在该状态下，所述正交入射角度计算部使用所述衍射光强度计测部的计测结果，计算出所述衍射光的强度成为最大的所述正交入射角度之后， 进行如下动作:所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的动作；和所述入射角度控制部控制所述入射角度变更部取消对所述入射角度附加的所述规定的偏移量的动作。4.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 包括能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部， 所述衍射光强度计测部能够计测所述衍射光的强度，并且能够检测所述衍射光的亮度重心与光轴之间的偏尚。5.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 包括能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部， 所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后， 所述正交入射角度控制部控制所述正交入射角度变更部将所述参考光的所述正交入射角度变更为多个角度，在该多个角度中，所述衍射光强度计测部进行衍射光的强度的计测， 所述正交入射角度计算部使用多次上述动作的计测结果计算所述正交入射角度。6.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于，包括: 能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部； 控制所述入射角度变更部的入射角度控制部；和 计算所述入射角度的入射角度计算部， 在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后， 进行如下动作: 所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的动作；和 所述入射角度控制部基于所述入射角度计算部的计算结果控制所述入射角度变更部变更所述参考光的所述入射角度的动作。7.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于，包括: 能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部； 控制所述入射角度变更部的入射角度控制部；和 计算所述入射角度的入射角度计算部， 在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制之后， 进行如下动作: 所述正交入射角度控制部控制所述正交入射角度变更部将所述参考光的所述正交入射角度变更为多个角度，在该多个角度中所述衍射光强度计测部进行计测的第一计测动作； 所述正交入射角度计算部使用所述第一计测动作的结果计算所述正交入射角度的动作； 所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的动作； 所述入射角度控制部控制所述入射角度变更部将所述参考光的所述入射角度变更为多个角度，在该多个角度中所述衍射光强度计测部进行计测的第二计测动作； 所述入射角度计算部使用所述第二计测动作的结果计算所述入射角度的动作；和所述入射角度控制部基于所述入射角度计算部的计算结果控制所述入射角度变更部变更所述参考光的所述入射角度的动作。8.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于，包括: 入射角度偏离检测部，其使用再现信息时从全息图衍射的衍射光检测所述参考光的所述入射角度的偏离量； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部；和 控制所述入射角度变更部的入射角度控制部， 所述入射角度控制部基于所述入射角度偏离检测部的输出信号进行控制。9.如权利要求1所述的全息图记录再现装置，其特征在于，包括: 能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部； 输出所述入射角度的指令值的入射角度指令值输出部； 输出对所述入射角度附加的入射角度偏移量的入射角度偏移量输出部； 加法器，其将所述入射角度指令值输出部的输出值与所述入射角度偏移量的输出值相加-M入射角度控制部，其控制所述入射角度变更部使得所述加法器的输出值成为规定值，在所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转时，所述偏心补偿部进行所述移动部的控制之后，所述入射角度偏移量输出部输出规定的入射角度偏移量，在该状态下，所述正交入射角度计算部使用所述衍射光强度计测部的计测结果，计算出所述衍射光的强度成为最大的所述正交入射角度之后， 进行所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的动作；和使所述入射角度偏移量成为零的动作。10.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 所述偏心补偿部和所述介质旋转部进行控制，来将所述信号光和所述参考光的照射位置定位在修正了所述全息记录介质的偏心的影响的位置。11.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 包括位置检测部，其使用设置在所述全息记录介质中的偏心检测用标记检测所述全息记录介质的位置， 所述偏心补偿部基于所述位置检测部的输出信号控制所述移动部， 所述偏心补偿部和所述介质旋转部进行控制，将所述偏心检测用标记的几何中心作为基准来进行所述信号光和所述参考光的照射位置的定位。12.如权利要求1所述的记录再现装置，其特征在于: 包括位置检测部，其使用设置在所述全息记录介质中的偏心检测用标记检测所述全息记录介质的位置， 所述偏心补偿部基于所述位置检测部的输出信号控制所述移动部， 所述位置检测部包括至少2个传感器， 所述传感器输出对应于与所述偏心检测用标记的相对位置关系的值。13.如权利要求1所述的全息记录再现装置，其特征在于: 包括位置检测部，其使用设置在所述全息记录介质中的偏心检测用标记检测所述全息记录介质的位置， 所述移动部具有第一驱动轴和第二驱动轴， 所述位置检测部包括第一传感器和第二传感器， 所述第一传感器和所述第二传感器输出对应于与所述偏心检测用标记的相对位置关系的值， 所述第一传感器固定在所述规定的部件上且位于以所述移动部的驱动基准位置为基准的第一驱动轴上， 所述第二传感器固定在所述规定的部件上且位于以所述移动部的驱动基准位置为基准的第二驱动轴上， 所述偏心补偿部驱动所述第一驱动轴而使所述第一传感器的输出信号成为规定值，并且驱动所述第二驱动轴而使所述第二传感器的输出信号成为规定值。14.如权利要求1所述的记录再现装置，其特征在于: 包括位置检测部，其使用设置在所述全息记录介质中的偏心检测用标记检测所述全息记录介质的位置， 所述位置检测部通过对所述全息记录介质照射与所述参考光的波长不同的波长的光来进行检测。15.一种照射信号光和参考光来对全息记录介质进行信息的记录或再现的全息记录再现装置中的全息再现方法，其特征在于: 所述全息记录再现装置包括: 使所述全息记录介质绕规定的旋转轴旋转的介质旋转部； 能够使介质旋转部的位置在与所述旋转轴垂直的面内移动的移动部； 正交入射角度变更部，其能够在与包括所述信号光的光轴和所述全息记录介质的法线的入射面正交的方向上变更所述参考光对所述全息记录介质入射的正交入射角度； 控制所述介质旋转部而使全息记录介质旋转的介质旋转控制部； 进行所述移动部的定位控制的偏心补偿部； 控制所述正交入射角度变更部的正交入射角度控制部；和 计算所述正交入射角度的正交入射角度计算部； 所述全息再现方法包括: 所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转的步骤； 所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制的步骤；和 所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果来控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的步骤。16.如权利要求15所述的全息再现方法，其特征在于: 所述全息记录再现装置包括: 能够计测再现信息时从全息图衍射的衍射光的强度的衍射光强度计测部； 能够变更在所述入射面内所述参考光对所述全息记录介质入射的入射角度的入射角度变更部；和 控制所述入射角度变更部的入射角度控制部， 所述全息再现方法包括: 所述介质旋转控制部控制介质旋转部而使所述全息记录介质旋转的步骤； 所述偏心补偿部进行所述移动部的定位控制的步骤； 所述入射角度控制部控制所述入射角度变更部而使所述入射角度偏移规定的偏移量的步骤； 所述正交入射角度计算部使用所述衍射光强度计测部的计测结果，计算出所述衍射光的强度成为最大的所述正交入射角度作为所述正交入射角度的步骤； 所述正交入射角度控制部基于所述正交入射角度计算部的计算结果控制所述正交入射角度变更部变更所述参考光的所述正交入射角度的步骤；和 所述入射角度控制部控制所述入射角度变更部取消对所述入射角度附加的所述规定的偏移量的步骤。
【专利摘要】本发明实现对全息记录介质的适当的记录再现。包括：使上述全息记录介质绕规定的旋转轴旋转的介质旋转部；能够使介质旋转部的位置在与上述旋转轴垂直的面内移动的移动部；能够在与包括上述信号光的光轴和上述全息记录介质的法线的入射面正交的方向上变更上述参考光对上述全息记录介质入射的正交入射角度的正交入射角度变更部；控制上述介质旋转部而使全息记录介质旋转的介质旋转控制部；进行上述移动部的定位控制的偏心补偿部；控制上述正交入射角度变更部的正交入射角度控制部；和计算上述正交入射角度的正交入射角度计算部，在上述介质旋转控制部控制介质旋转部而使上述全息记录介质旋转时，上述偏心补偿部进行上述移动部的定位控制之后，上述正交入射角度控制部基于上述正交入射角度计算部的计算结果，控制上述正交入射角度变更部变更上述参考光的上述正交入射角度。
【IPC分类】G11B7/08, G11B7/085
【公开号】CN105144292
【申请号】CN201380075389
【发明人】尾上慎介
【申请人】日立民用电子株式会社
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2013年4月8日
【公告号】WO2014167619A1