专利名称：一种d-sub端子的测试插座改进结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子测试装置，尤其涉及对显示器进行测试用的D-SUB端子的测 试插座的改进。
背景技术：
在电子显示器(包括触摸屏显示器)的生产过程，需要对显示器的性能进行相应 测试，方能符合出厂的质检要求。而一般的电子显示器的D-SUB端子的两侧虽然带有垂直 的支撑紧固螺杆，把D-SUB端子插入测试插座后，需要再把支撑紧固螺杆锁合，方能保证 D-SUB端子与测试插座的可靠连接，保证显示器与测试机的电性可靠连接，以避免测试时出 现误差。但是这样操作，需要每次测试都要进行插入D-SUB端子和进行螺杆锁合操作，效率 十分低下。于是，有人提出一种改进方式，就是把D-SUB端子两侧的垂直的支撑紧固螺杆的 螺杆拆除或者先不装入，等测试完成后，再将两侧的支撑杆通孔内装入紧固螺杆。但是，很 显然的，这种方式带有如下不足点1.使用时将D-SUB端子信号线插入测试插座中D-SUB 端子插入时难于保障插入方向是垂直的，故D-SUB端子、信号线及插座都容易磨损，老化。 2. D-SUB端子插入后，还可以摇晃，使用寿命进一步降低，且摇晃过程会使信号传输极不稳 定，造成检测过程难以实施。3.老化的端子及信号线容易引起信号失真，使生产检测出现偏 差，导致误判的产生。
实用新型内容因此，本实用新型针对上述不足，提出一种针对显示器的D-SUB端子的测试插座 改进结构。本实用新型采用如下技术方案本实用新型的D-SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机的信号线连接的 一测试插座。其中改进之处在于所述的测试插座的两侧均设有垂直的引导杆。进一步的，所述的引导杆的直径与D-SUB端子的支撑杆通孔的直径相当。本实用新型采用如下技术方案，克服了已有技术中存在的不足，可以保障D-SUB 端子插入测试插座时的角度为垂直，减少D-SUB端子及信号线的磨损，延长使用寿命，并且 保证插入后二者稳固性，从而保证测试的可靠性。
图1是本实用新型的测试插座和D-SUB端子的插入前的示意图；图2是本实用新型的测试插座和D-SUB端子的插入中的示意图；图3是本实用新型的测试插座和D-SUB端子的插入后的示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式
对本实用新型进一步说明。[0012]参阅图1所示，待测试的电子显示器(包括触摸屏显示器)4上连接有一信号线 13，信号线13的另一端为一个D-SUB端子1，D-SUB端子1包括插头11和设置两侧的垂直 的支撑杆通孔12，支撑杆通孔12是已经移除紧固螺杆的通孔。显示器测试机3则通过信 号线23连接有一测试插座2，所述的测试插座包括插口 21和设置两侧的垂直的引导杆22。 其中，所述的引导杆22的直径与D-SUB端子1的支撑杆通孔12的直径相当。参阅图2和图3所示，将D-SUB端子1的插头11插入于测试插座2的插口 21的 过程，可以先借助于垂直设置于测试插座2两侧的引导杆22先插入D-SUB端子1两侧的支 撑杆通孔12内的引导方式，从而保证D-SUB端子1的插头11可靠地垂直插入于测试插座 2的插口 21，从而避免了已有测试方式中存在的种种不足，保证测试的可靠性。尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应 该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节 上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种D-SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机(3)的信号线03)连接的一 测试插座O)，其特征在于所述的测试插座O)的两侧均设有垂直的引导杆02)。
2.根据权利要求1所述的D-SUB端子的测试插座改进结构，其特征在于所述的引导 杆02)的直径与D-SUB端子⑴的支撑杆通孔(12)的直径相当。
专利摘要本实用新型涉及电子测试装置，尤其涉及对显示器进行测试用的D-SUB端子的测试插座的改进。本实用新型的D-SUB端子的测试插座改进结构，是显示器测试机的信号线连接的一测试插座。其中改进之处在于所述的测试插座的两侧均设有垂直的引导杆。进一步的，所述的引导杆的直径与D-SUB端子的支撑杆通孔的直径相当。本实用新型采用如下技术方案，克服了已有技术中存在的不足，可以保障D-SUB端子插入测试插座时的角度为垂直，减少D-SUB端子及信号线的磨损，延长使用寿命，并且保证插入后二者稳固性，从而保证测试的可靠性。
文档编号H01R13/631GK201845952SQ201020554648
公开日2011年5月25日 申请日期2010年9月27日 优先权日2010年9月27日
发明者江炜 申请人:钛积光电(厦门)有限公司