衬底处理装置及半导体器件的制造方法与流程

文档序号:18319686发布日期:2019-08-03 10:20阅读:来源:国知局
技术总结
本发明涉及衬底处理装置及半导体器件的制造方法。能够提高具有多个处理室的处理装置的生产率。具有:腔室,对衬底进行处理;处理单元,具备多个腔室;真空搬送室,连接有多个处理单元;加载互锁室,与真空搬送室连接;装载端口,能够载置多个容纳有多片衬底的容纳容器;大气搬送室,设置于加载互锁室与装载端口之间,具有第一搬送机械装置;第二搬送机械装置,设置于真空搬送室,在加载互锁室与腔室之间搬送衬底;和控制部,控制第一搬送机械装置和第二搬送机械装置,以便将收纳于第X(X为自然数)个容纳容器的最后的衬底搬送至第m(m为自然数)个处理单元中处于无衬底状态的多个腔室中的一个腔室,将收纳于第X+1个容纳容器的多个衬底中最先搬送的衬底搬送至第m+1个处理单元中的多个所述腔室中的任一个。

技术研发人员:大桥直史;菊池俊之;松井俊;高崎唯史
受保护的技术使用者:株式会社国际电气
技术研发日:2015.12.25
技术公布日:2019.07.30

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