技术总结
本实用新型提供了一种太阳能硅晶片缺陷自动检测设备，包括：视觉图像采集系统、图像处理系统和分拣系统；所述视觉图像采集系统用于在硅晶片自动生产线上自动采集硅晶片的图像，所述图像处理系统用于分析采集到的硅晶片图像，并对硅晶片图像进行自动识别，并将识别的信号发送至分拣系统，分拣系统用于执行图像处理系统的信号，分拣出有缺陷的硅晶片，并将相同缺陷的硅晶片分拣至相同的分拣箱内，实现硅晶片的精准分拣。本太阳能硅晶片缺陷自动检测设备采用机器视觉获取图像的方法进行尺寸测量和缺陷检测，克服了传统的人工检测精度低，主观性强，可重复性差，无法提供持续一致性检测结果，漏检误检率高等不足。
技术研发人员：彭博;王华龙;周艳红;杨海东;李力
受保护的技术使用者：佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院
文档号码：201621051119
技术研发日：2016.09.12
技术公布日：2017.03.15