卷积码译码的检测方法、装置、存储介质及电子设备与流程

文档序号:19148857发布日期:2019-11-15 23:50阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种卷积码译码的检测方法,其特征在于,包括:

获取卷积码编码后的比特流中每一比特对应的对数似然比;

利用所述对数似然比和维特比译码算法对所述卷积码编码后的比特流进行卷积码译码,以得到卷积码译码后的比特流;

对所述卷积码译码后的比特流进行第一次校验,所述第一次校验为循环冗余校验或奇偶校验;

若所述卷积码译码后的比特流通过所述第一次校验,则对所述卷积码译码后的比特流再次进行卷积码编码,以得到再次卷积码编码后的比特流;

根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,对所述卷积码译码后的比特流进行第二次校验;

根据所述第二次校验的结果确定所述卷积码译码是否正确。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,对所述卷积码译码后的比特流进行第二次校验,包括:

根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,确定所述卷积码译码的检测度量值;

根据所述检测度量值,对所述卷积码译码后的比特流进行第二次校验。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,确定所述卷积码译码的检测度量值,包括:

根据以下公式,确定所述卷积码译码的检测度量值:

其中,ρ表征所述卷积码译码的检测度量值,∑为求和符号,表征所述再次卷积码编码后的比特流中的第j个比特,llrj表征所述卷积码编码后的比特流中的第j个比特对应的对数似然比,j=0,1,...n-1,且n表征所述卷积码编码后的比特流包括的比特的总数量;

所述根据所述第二次校验的结果确定所述卷积码译码是否正确,包括:

若所述检测度量值大于或等于预设阈值,则确定所述卷积码译码正确;

若所述检测度量值小于预设阈值,则确定所述卷积码译码错误。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设阈值的取值范围为[0.7,0.8]。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述卷积码译码后的比特流包括信息比特和校验比特;所述对所述卷积码译码后的比特流进行第一次校验,包括:

利用所述校验比特的校验数据对所述信息比特的信息数据进行第一次校验,所述校验比特的校验数据为循环冗余校验数据或奇偶校验数据。

6.一种卷积码译码的检测装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取卷积码编码后的比特流中每一比特对应的对数似然比;

译码模块,用于利用所述对数似然比和维特比译码算法对所述卷积码编码后的比特流进行卷积码译码,以得到卷积码译码后的比特流;

第一校验模块,用于对所述卷积码译码后的比特流进行第一次校验,所述第一次校验为循环冗余校验或奇偶校验;

编码模块,用于若所述卷积码译码后的比特流通过所述第一次校验,则对所述卷积码译码后的比特流再次进行卷积码编码,以得到再次卷积码编码后的比特流;

第二校验模块,用于根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,对所述卷积码译码后的比特流进行第二次校验;

确定模块,用于根据所述第二次校验的结果确定所述卷积码译码是否正确。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述第二校验模块包括:

第一确定子模块,用于根据所述再次卷积码编码后的比特流和所述对数似然比,确定所述卷积码译码的检测度量值;

第一检验子模块,用于根据所述检测度量值,对所述卷积码译码后的比特流进行第二次校验。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述第一确定子模块包括:

检测度量值确定子模块,用于根据以下公式,确定所述卷积码译码的检测度量值:

其中,ρ表征所述卷积码译码的检测度量值,∑为求和符号,表征所述再次卷积码编码后输出的比特流中的第j个比特,llrj表征所述卷积码编码后的比特流中的第j个比特对应的对数似然比,j=0,1,...n-1,且n表征所述卷积码编码后的比特流包括的比特的总数量;

所述确定模块包括:

第二确定子模块,用于若所述检测度量值大于或等于预设阈值,则确定所述卷积码译码正确;

第三确定子模块,用于若所述检测度量值小于预设阈值,则确定所述卷积码译码错误。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。

10.一种电子设备,其特征在于,包括:

存储器,其上存储有计算机程序;

处理器,用于执行所述存储器中的所述计算机程序,以实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。


技术总结
本公开涉及一种卷积码译码的检测方法、装置、存储介质及电子设备。方法包括:获取卷积码编码后的比特流中每一比特对应的对数似然比;利用对数似然比和维特比译码算法对卷积码编码后的比特流进行卷积码译码;对卷积码译码后的比特流进行第一次校验;若卷积码译码后的比特流通过第一次校验,对卷积码译码后的比特流再次进行卷积码编码;根据再次卷积码编码后的比特流和对数似然比,对卷积码译码后的比特流进行第二次校验;根据第二次校验的结果确定卷积码译码是否正确。如此,通过两次校验有效地降低卷积码译码的误检概率。并且,利用再次卷积码编码后的比特流和对数似然比进行第二次校验,提高了第二次校验的可靠性以及对卷积码译码的检测准确度。

技术研发人员:邓祝明;许百成
受保护的技术使用者:南京大鱼半导体有限公司
技术研发日:2019.07.26
技术公布日:2019.11.15
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