第二半导体开关（HS2)的 实际开关状态相应于所述第二半导体开关（HS2)的理论开关状态，那么借助于所述中央控 制单元（ZSE)还识别出所述第一半导体开关（HSl)的故障状态，并且其中如果所述第二半 导体开关（HS2)的实际开关状态不同于所述第二半导体开关（HS2)的理论开关状态并且此 外所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态相应于所述第一半导体开关（HSl)的理论开 关状态，那么借助于所述中央控制单元（ZSE)还识别出所述第二半导体开关（HS2)的故障 状态。
7. 根据权利要求5或6所述的方法，其中此外将所述中央控制单元（ZSE)的用于将所 述第一和第二半导体开关（HS1，HS2)中的暂时断开的半导体开关切换成闭合的开关状态的 切换要求发送给要切换的半导体开关（HS1，HS2)的电路装置（SA1，SA2)，并且其中在通过 要切换的半导体开关（HS1，HS2)的电路装置（SA1，SA2)接收到所述切换要求之后，开始电 路装置（SA1，SA2)的时间测量单元（ZME1，ZME3)的第一时间测量，并且其中在所述第一时 间测量开始之后确定要切换的半导体开关（HS1，HS2)的实际开关状态，并且其中将所确定 的实际开关状态在所述第一时间测量开始之后的预先确定的持续时间之后经由要切换的 半导体开关（HS1，HS2)的信号线路传递给所述中央控制单元（ZSE)。
8. 根据权利要求7所述的方法，其中此外只要进行所述中央控制单元（ZSE)的切换要 求，那么开始所述中央控制单元（ZSE)的第二时间测量单元（ZME2)的第二时间测量，并且 其中确定，传递到所述中央控制单元（ZSE)上的实际开关状态在所述第二时间测量开始之 后的预先确定的时间区间之内是否从断开的开关状态转换到闭合的开关状态。
9. 根据权利要求8所述的方法，其中如果传递到所述中央控制单元（ZSE)上的实际开 关状态在所述第二时间测量开始之后的预先确定的时间区间之内没有从断开的开关状态 转换到闭合的开关状态，那么由所述中央控制单元（ZSE)识别故障状态。
10. 根据权利要求8或9所述的方法，其中如果传递到所述中央控制单元（ZSE)上的 实际开关状态在所述第二时间测量开始之后的预先确定的时间区间开始之前从断开的开 关状态转换到闭合的开关状态，那么由所述中央控制单元（ZSE )识别所述电路装置（SA1， SA2)的时间测量单元（ZME1，ZME2)的故障状态。
11. 用于确定具有第一半导体开关（HSl)和第二半导体开关（HS2)的半桥电路（HBS)的 故障状态的电路单元，其中所述第一半导体开关（HSl)和所述第二半导体开关（HS2)以串 联电路相互连接，并且其中所述第一半导体开关（HSl)和所述第二半导体开关（HS2)能够 分别采用断开的和闭合的开关状态，所述电路单元具有： -第一确定单元（E1)，用于确定所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态， -第二确定单元（E2)，用于确定所述第二半导体开关（HS2)的实际开关状态， -中央控制单元（ZSE)，用于确定所述第一半导体开关（HSl)的理论开关状态和所述 第二半导体开关（HS2)的理论开关状态，并且用于分别借助于控制信号来控制所述第一半 导体开关（HSl)和所述第二半导体开关（HS2)， -故障确定单元（FE)，用于如果所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态不同于所 述第一半导体开关（HSl)的理论开关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2)的实际开关 状态不同于所述第二半导体开关（HS2)的理论开关状态，那么识别出所述半桥电路（HBS) 中的桥短路。
12. 根据权利要求11所述的电路单元，所述电路单元还具有： _第一电路装置（SA1)，用于控制所述第一半导体开关（HS1)，其中所述第一电路装置 (SAl)具有所述第一确定单元（El)， _第二电路装置（SA2)，用于控制所述第二半导体开关（HS2)，其中所述第二电路装置 (SA2 )具有所述第二确定单元（E2 )， 其中能够将所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态借助于第一信号经由第一信号 线路（Sl)从所述第一电路装置（SAl)传递到中央控制单元（ZSE)上，并且能够将所述第二 半导体开关（HS2)的实际开关状态借助于第二信号经由第二信号线路（S2)从所述第二电 路装置（SA2 )传递到所述中央控制单元（ZSE )上，并且其中所述中央控制单元（ZSE )具有故 障确定单元（FE)并且被构造用于基于所述第一和第二信号来识别桥短路。
13. 根据权利要求12所述的电路单元，其中所述中央控制单元（ZSE)被构造用于：如 果所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态不同于所述第一半导体开关（HSl)的理论开 关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2)的实际开关状态相应于所述第二半导体开关 (HS2)的理论开关状态，那么识别出所述第一半导体开关（HSl)的故障状态，并且其中所述 中央控制单元（ZSE)被构造用于：如果所述第二半导体开关（HS2)的实际开关状态不同于 所述第二半导体开关（HS2)的理论开关状态并且此外所述第一半导体开关（HSl)的实际开 关状态相应于所述第一半导体开关（HSl)的理论开关状态，那么识别出所述第二半导体开 关（HS2)的故障状态。
14. 根据权利要求12或13所述的电路单元，所述电路单元还具有： -第一时间测量单元（ZME1)，用于在通过所述第一电路装置（SAl)接收到所述中央控 制单元（ZSE)的用于将所述第一半导体开关（HSl)切换到闭合的开关状态中的切换要求之 后，开始第一时间测量， -第二时间测量单元（ZME2)，用于只要进行所述中央控制单元（ZSE)的用于将所述第 一半导体开关（HSl)或所述第二半导体开关（HS2)切换到闭合的开关状态的切换要求，那 么开始第二时间测量， -第三时间测量单元（ZME3)，用于在通过所述第二电路装置（SA2)接收到所述中央控 制单元（ZSE)的用于将所述第二半导体开关（HS2)切换到闭合的开关状态的切换要求之 后，开始第三时间测量， 其中能够将所述第一半导体开关（HSl)的实际开关状态在所述第一时间测量开始之后 的预先确定的持续时间之后借助于所述第一信号经由所述第一信号线路（SI)从所述第一 电路装置（SAl)传递到所述中央控制单元（ZSE)上，并且其中能够将所述第二半导体开关 (HS2)的实际开关状态在所述第三时间测量开始之后的预先确定的持续时间之后借助于所 述第二信号经由所述第二信号线路（SI)从所述第二电路装置（SAl)传递到所述中央控制 单元（ZSE)上。
15. 根据权利要求14所述的电路单元，其中所述中央控制单元（ZSE)被构造用于：如 果所述第一半导体开关（HSl)的或所述第二半导体开关（HS2)的传递到所述中央控制单元 (ZSE)上的实际开关状态在所述第二时间测量开始之后的预先确定的时间区间之内没有从 断开的开关状态转换到闭合的开关状态，那么识别出故障状态。
【专利摘要】本申请的主题涉及一种用于确定具有至少一个第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且可分别借助于控制信号控制，并且其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态。确定第一半导体开关（HS1）的实际开关状态和理论开关状态。此外确定第二半导体开关（HS2）的实际开关状态和理论开关状态。此外，如果第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么识别出半桥电路（HBS）中的桥短路。
【IPC分类】H02M1-08, H02M1-32, H01H47-00, H02H7-10, H03K17-18
【公开号】CN104871432
【申请号】CN201380055207
【发明人】C.霍恩施泰因, U.布利, K.屈嫩
【申请人】大陆泰密克微电子有限责任公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2013年10月15日
【公告号】DE102012219243A1, EP2909937A1, US20150276875, WO2014063955A1