套硬件设计就可以满足不同的系统需 求。且该系统支持的有效高电平有的DI信号容量可以达到最大数量n，支持有效低电平的 DI信号容量也可以达到最大数量η。
【附图说明】
[0020] 图1显示为现有技术中的有效高电平数字量输入信号识别电路图。
[0021] 图2显示为现有技术中的有效低电平数字量输入信号识别电路图。
[0022] 图3显示为本发明的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统的原理结构 示意图。
[0023] 图4显示为本发明的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统的一种实施 电路图。
[0024] 图5显示为本发明的电子设备的原理结构示意图。
[0025] 元件标号说明
[0026] 1电子设备
[0027] 10支持不同有效电平数字量
[0028] 输入信号的检测系统
[0029] 101第一控制模块
[0030] 102第二控制模块
[0031] 103第一输入模块
[0032] 104第二输入模块
[0033] 105检测模块
[0034] 2 单板
【具体实施方式】
[0035] 以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书 所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实 施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离 本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施 例中的特征可以相互组合。
[0036] 需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构 想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸 绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也 可能更为复杂。
[0037] 本发明所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统及电子设备的技术 原理如下：
[0038] 本发明设计的一套硬件电路既支持高有效的HDI信号检测，又支持低有效的LDI 信号检测。MCU根据系统HDI和LDI数量的需求，配置硬件电路，控制3个NPN三极管、1个 PNP三级管，和一个双向光耦，如果是高有效的HDI信号检测，输入信号有效态是高电平，无 效态是低电平和悬空高阻态。如果是低有效的HDI信号检测，输入信号有效态是低电平，无 效态是高电平和悬空高阻态。检测电路将识别出的信号送到MCU(微控制单元），MCU据此 进行相应的操作。
[0039] 实施例一
[0040] 本实施例提供一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，包括第一输入 模块和第二输入模块，所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统还包括：
[0041] 第一控制模块，与所述第一输入模块和第二输入模块连接，用于在所述检测系统 处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第 一操作单元工作在截止状态；或用于在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收被配置 高电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操作单元工作在饱和状态；
[0042] 第二控制模块，与所述第一输入模块、第二输入模块、第一控制模块连接，用于在 所述检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制第二输入 模块的第二操作单元工作在饱和状态；或用于在所述系统处于检测有效低电平时，接收被 配置成高电平的控制信号，并控制第二输入模块的第二操作单元工作在截止状态；
[0043] 其中，所述第一输入模块在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收多路数字 量输入信号，控制自身的第三操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数 字量输入信号的输出信号；
[0044] 所述第二输入模块在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收多路所述数字量 输入信号，控制自身的第四操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字 量输入信号的输出信号。
[0045] 以下将结合图示对本实施例所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系 统进行详细描述。本实施例提供一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统10,请 参阅图3,显示为支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统的原理结构示意图。如图3 所示，所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统10包括第一控制模块101、第二 控制模块102、第一输入模块103、第二输入模块104、及检测模块105。请参阅图4,显示为 支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统的一种实施电路图。
[0046] 与所述第一输入模块103和第二输入模块104连接的所述第一控制模块101用于 在所述检测系统10处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制所述 第一输入模块的第一操作单元工作在截止状态；或用于在所述检测系统处于检测有效低电 平时，接收被配置高电平的控制信号，并控制所述第一输入模块103的第一操作单元工作 在饱和状态，在本实施例中，所述第一操作单元为一 NPN型三极管。如图4所示，所述第一 控制模块101包括第一电阻Rl，第二电阻R2,第三电阻R3,第四电阻R4,及第一 NPN型三极 管Ql ;其中，所述控制信号从所述第一电阻Rl的一端输入，所述第一电阻Rl的另一端与所 述第二电阻R2的一端相连接，所述第二电阻R2的另一端连接在所述第一 NPN型三极管Ql 的发射极E，所述第一 NPN型三极管Ql的集电极C与所述第三电阻R3的一端相连接，所述 第三电阻R3的另一端与第四电阻R4的一端相连接，所述第四电阻R4的另一端连接在第一 电源VDDl上，所述第一 NPN型三极管Ql的基极B与所述第二电阻R2的一端相连接，所述 第一 NPN型三极管Ql的发射极E接地。
[0047] 与所述第一控制模块101、第一输入模块103、第二输入模块104连接的第二控制 模块102用于在所述检测系统10处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信 号，并控制第二输入模块104的第二操作单元工作在饱和状态；或用于在所述检测系统10 处于检测有效低电平时，接收被配置成高电平的控制信号，并控制第二输入模块104的第 二操作单元工作在截止状态。在本实施例中，所述第二输入模块104的第二操作单元为一 PNP型三极管。如图4所示，所述第二控制模块102包括第五电阻R5,第六电阻R6,第七电 阻R7,第八电阻R8,及第二NPN型三极管Q2 ;其中，所述控制信号从所述第五电阻R5的一端 输入，所述第五电阻R5的另一端与所述第六电阻R6的一端相连接，所述第六电阻R6的另 一端与第二NPN型三极管Q2的发射极E相连接，所述第二NPN型三极管Q2的集电极C与 第七电阻R7的一端相连接，所述第七电阻R7的另一端连接在第二电源5V的VCC上，所述 第八电阻R8的一端与所述第七电阻R7的一端相连接，所述第八电阻R8的另一端接地；所 述第二NPN型三极管Q2的发射极E接地。
[0048] 其中，所述第一输入模块103在所述检测系统10处于检测有效高电平时，接收多 路（N路）数字量输入信号，控制自身的第三操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用 于检测所述数字量输入信号的输出信号。在本实施例中，所述第一输入模块103的第三操 作单元为二极管，即图4中的第一光电二极管Dl和第二光电二极管D2。
[0049] 所述第二输入模块104在所述检测系统10处于检测有效低电平时，接收多路（N 路）所述数字量输入信号，控制自身的第四操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用 于检测所述数字量输入信号的输出信号。在本实施中，所述第二输入模块104的第四操作 单元为二极管，也为图4中的第一光电二极管Dl和第二光电二极管D2。
[0050] 在本实施例中，当所述检测系统10处于检测有效高电平时，所述第一控制模块 101控制第一输入模块103的第一操作单元工作在截止状态，所述第二控制模块102控制第 二输入模块104的第二操作单元工作在饱和状态，使所述第一输入模块103在接收到数字 量输入信号时，所述第一输入模块103的第三操作单元工作在导通状态以产生处于低电平 的输出信号，表示所述数字量输入信号为有效高电平；或所述第一输入模块103在接收到 数字量输入信号时，使所述第第一输入模块103的第三操作单元工作在截止状态以产生处 于高电平的输出信号，表示所述数字量输入信号为无效低电平或悬空高阻态。
[0051] 当所述检测系统10处于检测有效低电平时，所述第一控制模块101控制第一输入 模块103的第一操作单元工作在饱和状态，所述第二控制模块102控制第二输入模块104 的第二操作单元工作在截止状态，使所述第二输入模块104接收到数字量输入信号时，所 述第二输入模块104的第四操作单元工作在导通状态以产生处于低电平的输入信号，表示 所述数字量输入信号为有效低电平；或所述第二输入模块104在接收到数字