D2都不能导通，不发光，保证光耦U9的三极管Q5工作在截止状态，即输出信号HLDI_T0_ MCU信号为高电平。
[0074] MCU根据检测系统的需求分别配置每一路电路为有效高电平DI检测电路或有效 低电平DI检测电路，当系统的需求发生改变时，微处理单元（MCU)可以灵活配置，以N路数 字量输入信号检测电路为例，设计可以任意配成a路有效高电平DI检测电路，b路有效低 电平DI检测电路，其中a〈 = N，b〈 = N，a+b = N。
[0075] 当接收的数字量输入信号HLDI为有效低电平和当接收的数字量输入信号HLDI为 无效的高电平或者高阻符合有效低电平数字量输入信号检测电路真值表2。
[0076] 表2 :有效低电平数字量输入信号检测电路真值表
[0078] 本实施例还提供一种电子设备1，请参阅图5,显示为电子设备的原理结构示意 图。所述电子设备1包括安装在其内部的单板2，所述单板2包括上述的支持不同有效电平 数字量输入信号的检测系统10。
[0079] 综上所述，本发明所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统及电子设 备可以支持N路检测电路都可配置成有效高电平数字量输入信号检测电路和有效低电平 数字量输入信号检测电路，可以根据不同的需求灵活配置，一套硬件设计就可以满足不同 的系统需求。且该系统支持的有效高电平有的DI信号容量可以达到最大数量n，支持有效 低电平的DI信号容量也可以达到最大数量η。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种 缺点而具高度产业利用价值。
[0080] 上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟 悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因 此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完 成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
【主权项】
1. 一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，包括第一输入模块和第二输入 模块，其特征在于，所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统还包括： 第一控制模块，与所述第一输入模块和第二输入模块连接，用于在所述检测系统处于 检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操 作单元工作在截止状态；或用于在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收被配置高电 平的控制信号，并控制所述第一输入模块的第一操作单元工作在饱和状态； 第二控制模块，与所述第一输入模块、第二输入模块、第一控制模块连接，用于在所述 检测系统处于检测有效高电平时，接收被配置成低电平的控制信号，并控制第二输入模块 的第二操作单元工作在饱和状态；或用于在所述系统处于检测有效低电平时，接收被配置 成高电平的控制信号，并控制第二输入模块的第二操作单元工作在截止状态； 其中，所述第一输入模块在所述检测系统处于检测有效高电平时，接收多路数字量输 入信号，控制自身的第三操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字量 输入信号的输出信号； 所述第二输入模块在所述检测系统处于检测有效低电平时，接收多路所述数字量输入 信号，控制自身的第四操作单元工作在导通状态或截止状态以产生用于检测所述数字量输 入信号的输出信号。2. 根据权利要求1所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统还包括与所述第一输入模块和第 二输入模块连接，用于检测所述输出信号的检测模块。3. 根据权利要求2所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 当所述检测系统处于检测有效高电平时，所述第一控制模块控制第一输入模块的第一 操作单元工作在截止状态，所述第二控制模块控制第二输入模块的第二操作单元工作在饱 和状态，使所述第一输入模块在接收到数字量输入信号时，所述第一输入模块的第三操作 单元工作在导通状态以产生处于低电平的输出信号，表示所述数字量输入信号为有效高电 平；或所述第一输入模块在接收到数字量输入信号时，使所述第第一输入模块的第三操作 单元工作在截止状态以产生处于高电平的输出信号，表示所述数字量输入信号为无效低电 平或悬空高阻态。4. 根据权利要求2所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 当所述检测系统处于检测有效低电平时，所述第一控制模块控制第一输入模块的第 一操作单元工作在饱和状态，所述第二控制模块控制第二输入模块的第二操作单元工作在 截止状态，使所述第二输入模块接收到数字量输入信号时，所述第二输入模块的第四操作 单元工作在导通状态以产生处于低电平的输入信号，表示所述数字量输入信号为有效低电 平；或所述第二输入模块在接收到数字量输入信号时，使所述第二输入模块的第四操作单 元工作在截止状态以产生处于高电平的输出信号，表示所述数字量输入信号为无效高电平 或悬空高阻态。5. 根据权利要求2所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述第一输入模块的第一操作单元为一NPN型三极管，第三操作单元为二极管； 所述第二输入模块的第二操作单元为一PNP型三极管，第四操作单元为二极管； 所述检测模块包括一三极管和连接在该三极管的集电极上的一电阻；所述第一输入模 块的第三操作单元，第二输入模块的第四操作单元、及所述检测模块的三极管是通过双向 光耦提供。6. 根据权利要求5所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述第一控制模块包括第一电阻，第二电阻，第三电阻，第四电阻，及第一NPN型三极 管；其中，所述控制信号从所述第一电阻的一端输入，所述第一电阻的另一端与所述第二电 阻的一端相连接，所述第二电阻的另一端连接在所述第一NPN型三极管的发射极，所述第 一NPN型三极管的集电极与所述第三电阻的一端相连接，所述第三电阻的另一端与第四电 阻的一端相连接，所述第四电阻的另一端连接在第一电源上，所述第一NPN型三极管的基 极与所述第二电阻的一端相连接，所述第一NPN型三极管的发射极接地。7. 根据权利要求6所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述第二控制模块包括第五电阻，第六电阻，第七电阻，第八电阻，及第二NPN型三极 管；其中，所述控制信号从所述第五电阻的一端输入，所述第五电阻的另一端与所述第六电 阻的一端相连接，所述第六电阻的另一端与第二NPN型三极管的发射极相连接，所述第二 NPN型三极管的集电极与第七电阻的一端相连接，所述第七电阻的另一端连接在第二电源， 所述第八电阻的一端与所述第七电阻的一端相连接，所述第八电阻的另一端接地；所述第 二NPN型三极管的发射极接地。8. 根据权利要求7所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述第一输入模块包括第九电阻，第十电阻，第i^一电阻，第十二电阻，第三NPN型三 极管，第一光电二极管，第二光电二极管，及稳压二极管；其中，所述第九电阻与第十电阻 并联，所述第十一电阻和第十二电阻并联，所述第一光电二极管和第二光电二极管串联，所 述稳压二极管的正极接地，所述稳压二极管的负极连接在所述第九电阻的一端，所述第九 电阻的另一端与所述第一光电二极管的负极相连接，所述第一光电二极管的正极与所述第 十一电阻的一端相连接，所述第十一电阻的另一端与所述第三NPN型三极管的集电极相连 接，所述第三NPN型三极管的发射极接地；所述数字量输入信号从所述第九电阻的一端输 入。9. 根据权利要求8所述的支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，其特征在 于： 所述第二输入模块包括第九电阻，第十电阻，第十三电阻，第十四电阻，PNP型三极管， 第一光电二极管，第二光电二极管，及稳压二极管；其中，第十三电阻和第十四电阻并联，第 十三电阻的一端与所述第十一电阻的一端相连接，所述第十三电阻的另一端与所述PNP型 三极管的集电极相连接，所述PNP型三极管的基极与所述第四电阻的一端相连接，所述PNP 型三极管的发射极连接在所述第一电源上。
【专利摘要】本发明提供一种支持不同有效电平数字量输入信号的检测系统，包括：第一控制模块检测有效高时，接收低电平信号，控制第一输入模块的第一操作单元为截止；检测有效低，接收高电平信号，控制第一输入模块的第一操作单元为饱和；第二控制模块检测有效高，接收低电平信号，控制第二输入模块的第二操作单元为饱和；检测有效低时，接收高电平信号，控制第二输入模块的第二操作单元为截止；第一输入模块检测有效高，接收多路DI信号，控制自身的第三操作单元在导通或截止产生用于检测的输出信号；第二输入模块检测有效低时，接收多路DI信号，控制自身的第四操作单元在导通或截止产生用于检测的输出信号。本发明支持N路检测电路，据不同需求灵活配置。
【IPC分类】H03K19/0175
【公开号】CN105227174
【申请号】CN201510658345
【发明人】王亦鸾
【申请人】上海斐讯数据通信技术有限公司
【公开日】2016年1月6日
【申请日】2015年10月12日